Электронный микроскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 122822
Автор: Стоянов
Текст
Класс 21 д, 37 М 122822 СССР ОБРЕТЕН ПИСАН Я АНТОРС МУ ЕТЕЛЬСТ П, А. Стоянов ЭЛЕКТРОННЪЙ МИКРОСКОП4 в Комитет по делам изобретений Министров СССР 5 февраля 1959 г. за М 618 и открытий при Сове яв бретений М 19 за 1959 публиковано в Бюллетене и В современных электронных микроскопах, содержащих объективную и проекционную линзы, с целью регулирования диапазона увеличения в значительных пределах, применяют слабую промежуточную линзу, оптические параметры которой существенно отличаются от парамстроз объектива и проекционной линзы. Полевая аберрация промежуточной линзы в несколько раз превышает полевую аберрацию остальных линя, в то же время аберрация увеличения и вращения ее несоизмерима с соответствующими аберрациями объективной и проекционной линз, что исключает взаимную компенсацию полевых аберраций всех трех линз, Наличие хроматической аберрации, создаваемой промежуточной линзой, составляет существенный недостаток электронного микроскопа с регулируемой степенью увеличения.Этот недостаток устранен в предлагаемом электронном микроскопе применением в чем второй промежуточной линзы, установленной соосно с основной промежуточной линзой на расстояшги от нее, определяемом фокусными расстояниями линз микроскопа.Схема проекционного блока электронного микроскопа изображена на чертеже. Микроскоп содержит две промежуточных линзы 1 и 2 и проекционную линзу 3.Действие такой системы заключается в следующем. Прн увеличении ускоряющего напряжения, соответствующем изменению увеличения микроскопа, фокусные расстояния обеих промежуточных линз изменяются. В результате увеличения преломляющей силы первой промежуточной линзы главный луч в ее фокальной плоскости сильнее отклоняется к оси, вследствие чего луч пересекает вторую линзу в точке, расположенной ближе к оси, чем до изменения ускоряющего напряжения. Но в э;ой точке луч отклоняется к оси слабее, чем в точке, в которую луч падал до изменения ускоряющего напряжения, Таким образом, несмотря на то, что преломляющая сила второй линзы возросла, главный луч пересекает предметную плоскость все в той же точке.122822 Предмет изобретения Злектронный микроскоп с объективной, проекционной и промежуточной линзами, отличаю щи йся тем, что, с целью устранения хроматической аберрации, он снабжен второй промежуточной линзой, установленной соосно с основной промежуточной линзой на расстоянии ог нее, зависящем от фокусных расстояний линз. Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Редактор В. М. Парнес Гр. 97Р.нформационно-издательский отдел.Сбъем 0,17 п. л. Зак. 7805 Типография Комитета по делам изооретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Петровка, 14.
СмотретьЗаявка
618654, 05.02.1959
Стоянов П. А
МПК / Метки
МПК: H01J 29/56, H01J 29/80, H01J 37/26
Метки: микроскоп, электронный
Опубликовано: 01.01.1959
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-122822-ehlektronnyjj-mikroskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электронный микроскоп</a>
Предыдущий патент: Способ вакуумной обработки фотоэлектронных приборов с полупрозрачным или непрозрачным катодом на стекле
Следующий патент: Генератор наносекундных импульсов
Случайный патент: Наклонный бескамерный судоподъемник