Способ определения структурной упорядоченности кристаллов мусковита

Номер патента: 1179173

Авторы: Кузнецов, Щипцов

ZIP архив

Текст

ОЮЗ СОВЕТСКИХ ЦИАЛИСТИЧЕСКИХ СПУБЛИК(19) (11) А 1)4 С 01 Н 21/47; ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(2 (2 (4 излучения, измерение интенсивностиотраженного от кристалла излученияи определение структурной упорядоченности кристалла по результатамизмерений, о т л и ч а ю п 1 и й с ятем, что, с целью повышения надежности определения, кристалл облучают эллиптически поляризованнымизлучением, измеряют интенсивностиотраженного от кристалла излученияпри волновых числах, равных 1040и 1070 см ", и определяют структурную упорядоченность кристалла Р посоотношению 34В.Ципцовсударствусиненарельског ый Свойства,люды. Иркутск: во, 1971,Т)1 е Ъапй Ъ тпойе 1 У 3-4 ошеггу,пйегхевтесСопЕ дпри 3 СО ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ 1) 3695316/24-252) 20.12,836) 15.09.85. Бюл. Р(71) Петрозаводский гуниверситет им. О,В,Ки Институт геологии Кфилиала АН СССР(54)(57) СТУРНОИ УПОМУСКОВИТА,кристалла ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТРУКРЯДОЧЕННОСТИ КРИСТАЛЛОВ включающий облучение потоком электромагнитного е - интенсивность отраже от кристалла излучен волновых числах, рав 1040 и 1070 смсоо ственно.1179173 Составитель Г,КоломейцевРедактор Т.Веселова Техред Ж.Кастелевич Корректор М.демчик Заказ 5654/42 Тираж 897 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к исследованию кристаллов и может быть использовано для определения структурной упорядоченности кристаллов мускозита.Целью изобретения является повышение надежности определения структурной упорядоченности.Способ основан на новой экспериментально установленной связи между изменением интенсивности полосы отражения, отвечающей антисимметричному колебанию атомов типа Е по отношению к интенсивности полосы отражения, отвечающей симметричному колебанию атомов в алюмосиликатных тетраэдрах решетки мусковита и положением плоскости оптических осей доменов относительно кристаллографи" ческих осей мусковита 0 и 6 . Чем меньше интенсивность полосы, отвечающей колебанию типа Е, тем больше значение угла поворота оптических осей относительно кристаллографической оси оСпособ осуществляется на серийных спектрометрах или спектрофотометрах, например на ИКСили ИКС, с приставками для измерения зеркального отражения, например ИП 0-22.Для осуществления способа ориентируют образец мусковита плоскостьютретьего пинакоида так, чтобы уголпадения пучка излучения составлялне более 10 к нормали плоскоститретьего пинакоида. Облучают кристалл мусковита эллиптически поляри О зованным излучением. Измеряют величину интенсивности отраженного излучения для полосы, отвечающей антисимметричному колебанию атомов в алюмосиликатном слое типа Е с волновым 15 числом 1040 см , и для полосы, отвечающей симметричному колебанию типаА с волновым числом 1070 см . Приизмерении отражения нет необходимости вращать кристалл мусковита отно О сительно электрического вектора Еинфракрасного излучения, так как прииспользовании эллиптически поляризованного излучения интенсивности полостипа Е и типа А не меняются при пово роте кристалла. Затем определяютструктурную упорядоченность кристалла по отношению измеренных интенсивностей.

Смотреть

Заявка

3695316, 20.12.1983

ПЕТРОЗАВОДСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. О. В. КУУСИНЕНА, ИНСТИТУТ ГЕОЛОГИИ КАРЕЛЬСКОГО ФИЛИАЛА АН СССР

КУЗНЕЦОВ СЕРГЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ЩИПЦОВ ВЛАДИМИР ВЛАДИМИРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 21/47

Метки: кристаллов, мусковита, структурной, упорядоченности

Опубликовано: 15.09.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1179173-sposob-opredeleniya-strukturnojj-uporyadochennosti-kristallov-muskovita.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения структурной упорядоченности кристаллов мусковита</a>

Похожие патенты