Устройство для интерферометрического измерения деформаций объектов

Номер патента: 438907

Опубликовано: 05.08.1974

Авторы: Еникеева, Крохин, Любимов, Надобников, Рабодзей

МПК: G01N 23/02

Метки: внутри, геометрических, измерений, непрозрачных, объектов

...на пути пучка 4 рентгеновских лучей, исходящих из источника 5 и попадающих на мишень 6 рентгеночувствительного телевизионного преобразователя 7, с помощью которого теневое рентгеновское изображение внутренней структуры объекта 1 преобразуется в видимое, наблюдаемое в увеличенном виде на экране 8 видеискательного устройства 9, Источник 5 рентгеновского излучения и преобразователь 7 находятся на одной оси (оси просвечивания), а координатно-счетное устройство 3 с манипулятором 2 позволяет перемещать и вращать объект 1 относительно оси просвечивания,Визирное перекрестие 10 создается замешиванием в телевизионный сигнал коротких импульсов с генератора 11. С помощью этих импульсов образуется вертикальная визирная линия, которая может...

Номер патента: 373545

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Вите

МПК: G01J 5/02

Метки: непрозрачных, объектов, поверхности, температуры

...Т абсолютно черного тела, т. е. стоящей из постоянного сопротивления 12,равного по величине г"о ом, нелинейного реохорда 13 с полным сопротивлением гом идлиной Е мм, постоянного сопротивления 14,равного г"оом. Подвижный контакт 15 реохорда 3 перемещается вместе с контактом 11,Напряжение ЛУ, равное разности междусигналом Ео и падением напряжения У 1 насопротивлении 12 и части сопротивления реохорда 13, подается на вход усилителя 1 б, навыходе которого включен балансирующийдвигатель 17, изменяющий задание регулятору 18, поддерживающему заданную мощностьпитания излучателя стороннего источника излучения 19, облучающего поверхность объекта20 с истинной температурой Т.Устройство работает следующим образом.Сигнал Ео 1 пирометра 1 при...

Номер патента: 1054680

Опубликовано: 15.11.1983

Автор: Чехович

МПК: G01B 21/00

Метки: линейных, непрозрачных, объектов, размеров

...непрозрачного объекта 1).Недостатком известного способа является невысокая точность измерения,вызываемая наличием в электрическомсигнале монотонных участков, затрудняющих формирование экстремальныхточек.25Цель изебретения - повышение точности измерения.Указанная цель достигается тем,что согласно способу измерения линейных размеров непрозрачных объектов,. .заключающемуся в том, что прое ируютЗопучок света на непрозрачный о ект,перемещают объект относительно пучкасвета, преобразуют световой поток,диафрагмированный границей объекта,в изменяющийся по амплитуде электри.ческий сигнал, выделяют характерныеточки электрического сигнала, например экстремальные точки, находят вретменной интервал между экстремальнымиточками, по которому судят о...

Номер патента: 1748128

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Андронов, Зобов, Спиридонов

МПК: G02B 27/46, G02B 27/48

Метки: излучения, лазерного, пространственный, фильтр

...Х 2, входная световая апертура фильтра Оо; световая апертура фильтра в плоскости соответствующего диафрагмирующего элемента ОьПространственный фильтр лазерного излучения работает следующим образом.Лазерный пучок диаметром Ро фокусируется обьективом 1, затем рассеивается компонентами 2 и 3 рассеивающего объектива, из которых первая по ходу луча компонента 2 расположена ближе к входномуфокусирующему объективу 1, чем его фокальная плоскость. После этого пучок преобразуется в параксиальный с помощьювыходного фокусирующего обьектива 4. Суммарная оптическая сила всех обьективов равна нулю. Диафрагмирование пучка производится одним или несколькими диафрагмирующими элемснтами 5, размещенными за первой компонентой 2 рассеивающего...

Номер патента: 275648

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Васильев, Волунский, Чист

МПК: B23B 35/00

Метки: одной, отверстий, плоскости, расположенных, ряда

...взаимосвязанных отверстий.Отверстия 1 - 7 связаны между собой размерами а - е, которые следует выполнять с высокой точностью, Обрабатывают одновре менно все отверстия без точного выполнения требуемых размеров по их взаимному расположению. При этом отверстия 1, 3, 5 и 7, не связанные между собой непосредственно, обрабатывают окончательно, а отверстия 2, 4 и 3 б - с припуском на дальнейшую обработку: Измеряют фактические размеры А и Б и, зная заданные размеры а и б, рассчитывают необходимую ведичину размеров В и Г. Сравнивают рассчитанные величины с фактическими размерами В и .Г, полученными в результате предварительной обработки отверстия 2, и определяют величины коррекции этих размеров. Окончательную обработку отверстия 2 производят...