Режущий инструмент с покрытием

Номер патента: 1456764

Опубликовано: 07.02.1989

Авторы: Богданов, Калинин, Кузнецов

МПК: G01B 7/06

Метки: покрытий, толщины, ферромагнитных

...путем измерения с помощьюконкретного толщиномера одной и тойже толщины покрытия при различнойстепени намагниченности контролируе44С учетом полученных коэффициентов вносят поправки в результаты измерений приборами МТН и ИТГ 11 1 Б.Как видно из таблицы, точность измерения толщины покрытия иэделия по предлагаемому способу намноо вы" ше, цем у известного. Формула изобретения р р ц Напряженность Толщина покрытия, мкм, измерен- Толщина покрытия, мкм, измерен- Н;, А/см ная прибором МТОН по способу ная прибором ИТГПБ по способу(МР-ЗХ) известному предлагаемому известному предлагаемому 3737 37 36 30 ЗО 2 6 30 28 28 30 35 40 50 60 10 12 15 17 38 36 34 30 36 26 2 (размагнич.) 37 30 37 30 3 145676го иэделия в месте измерения, Коэффициенты 1 и...

Номер патента: 953453

Опубликовано: 23.08.1982

Авторы: Агеев, Банников, Бартенев, Градюшко, Егоров, Неделько

МПК: G01B 11/06

Метки: покрытия, толщины

...тепловой диффузии 0 зависит от частоты и) модуляции источника светового пото- ка где 3=Кфс - коэффициент теплопроводности образца,20К - коэффициент температуро"проводности;у - удельная плотность,с - удельная теплоемкость.Дпя твердого тела, представляющего собой двуслойную разнородную структуру, например тонкую пленку, при достаточно высоких частотах модуляции светового потока в энергетическом балансе процессов, сопровождающихся поглощением света и возникновением волны давления в окружающей газовой среде, основную. роль играет пленка, а именно ее оптические и теплофизические характеристики. С понижением частоты модуляции растет длина те35 пловой диффузии в пленке и при некоторой частоте в перераспределение поглощенной энергии...

Номер патента: 1151816

Опубликовано: 23.04.1985

Авторы: Аюханов, Кремков, Черненко

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, толщины

...получают из онного источника, работающего на принципе катодного распыления в виде отрицательных ионов поверхностей, активированных щелочными ионами. Образовавшиеся отрицательные ионы ускоряющим полем вытягиваются из источника, и сформированный пучок попадает в 90-градусный цилиндрический электростатический конденсатор, который осуществляет монокинетизацию пучка. Далее пучок моноэнергетических отрицательных ионов с энергией Е фокусируют на объект контроля нормаль. но поверхности или под некоторым углом М относительно нормали к поверхности. Уголвыбирают в диапазооне углов 0се 70, что связано с геометрией системы и необходимостью проникновения ионов на некоторую глубину в образец. Энергия первичных ионов выбирается в пределах 100 эВ 4 Е р 4...

Номер патента: 1437417

Опубликовано: 15.11.1988

Авторы: Арынгазина, Критский, Матюхин, Петров, Савченко

МПК: C25D 21/12, G05B 17/00

Метки: жести, покрытия, толщины

...с)зФцачает, что мс;дель цаходяцГаяс.я В контмре,с пленной само),астрсэйкр. Иас;росна и чезаЦИСГМо ОГ ВС) гНЧИ ГЬ 1 Р, Е ИЗМЕЦСЦИЕ СГС"ТОЯция (например, Г.ереклГочение моделей) це:елесообразцо, так ак регулирование осуГе тв,;яю О 1 атпс)енцой моде нтретье усовцс. В, -:а, В(а, е(Ьозначает, что модель В контуре бь)стрОЙ самонастройки настрое Га (е.;(а 1, о:инока контура регулир;)Ван 5 Г ",с."Ньшс заданной (е(Ь)НГ)строенГ ю иодель можно Включить Вс)с ИОННОЙ кс)нт 1, р ОСГ у,ирона ниц Вместо ненастроенной (е, "а) без Внесения ВозмуценивГ)С и С; В Н О й ГС О 11 Т Ц) О С Г 1 ГЛ Р 1 О ОВ а Н И Я:четвертос чс.,Г)вие, е)а, ; рц е) )Означает, что хотя модель В контуре быстрой самонастройки настроена (.(а), а модсль В Основном котуре...

Номер патента: 1441177

Опубликовано: 30.11.1988

Автор: Лаанеотс

МПК: G01B 7/06

Метки: мера, покрытия, толщины

...участок 6 покрытия 2,Показания толщиномера сравниваютлибо с аттестованной толщиной одногоподслоя меры при однопараметрическомизмерении толщины покрытия 2, либо ссуммарной аттестованной толщиной покрытия 2 при многопараметрическом измерении толщины покрытия, Могут бытьтакже промежуточные варианты, Еслитолщиномер измеряет в многослойномпокрытии 2 только толщину двух подслоев, то в этом случае при поверкетолщиномера сравнивается показаниетолщиномера с аттестованной толщинойдвух вышеназванных слоев меры,Для градуировки и понерки толщиномеров, измеряющих толщины оксидных покрытии, а также толщиномеров, измеряющих толщины покрытий, нанесенных диффузионным способом, нужны меры толщины с указанными покрытиями, Известные меры толщины покрытий...