Способ определения консистенции зерна
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
,ЯО 1124224 А 3/10 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ НИЕ ИЗОБРЕТЕН КОМУ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНСИСедусматривающийобы зерна и установских свойств,.о тс я тем, что, с.(22) 07.02.83 (46) 15. 11.84, Бюл 7) СПОСОБЗЕРНА, прсредней прего оптич отб лен В. Г. Мороз овогический инстиичающи иелью повышения овенк оч делени кй технопромышл ополнительнностью мучовидными зт, экстраги консистенции зерна, отбирают пробы с по ми и полностью стек все пробы размалыва водой, измеряют опт экстрактов на длине а определение конси ляют по соотношению т иост ами оносо.8(0888 рую ьство СССР 1934. тво СССР . 1972.(56) 1. Ав В .40033, к2, Авто У 431431,ческую плотность волны,270-280 нм, тенции осуществвсех трех значеостей.Консистенция, %, по про- базото- вому пред лага Пм см емом тип спо- собу 38 52 0,78,4 0,93 зерен,пшеницы остоянны для каждогпоэтому если сортзерна известен, можн значениями оптичеспределенными ранее о сорта анализио восполь ких плотдля данруемого зоваться ностей,ного сор та,Заказ 8272/34 Тираж 822 Подиосно ЩтИИПИ филиал ППП "Патентф, г,Уигород, уд.Проек Изобретение относится к способамопределения качественных показателейзерна пшеницы, предназначено дляобъективного определения консистенции зерна, а также полученной из негомуки и может быть использовано длятехнологического контроля в системехлебозаготовок и сельского хозяйства.Известен способ определения консистенции зерна, включающий отбор 10средней пробы и визуальную оценку внеш.него вида освещенных зерен 1 1,Недостатки данного способа - низкие точности и объективность, связанная с применением визуального способа оценки.Наиболее близок к предлагаемомуспособ, включающий отбор среднейпробы и установление ее оптическихсвойств 23.20Недостатком известного способаявляется низкая точность, связанная с вариацией влажности и размеровзерен,Цель изобретения - повышение точности определения консистенции зерна.Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу, предусматривающему отбор средней пробы зерна и установление его оптических 30свойств, дополнительно отбираютпробы с полностью мучнистыми и полностью стекловидными зернами, всепробы размалывают, экстрагируютводой, измеряют оптическую плотностьэкстрактов на длине волны 270-280 нм35а определение консистенции осуществляют по соотношению всех трехзначений оптических плотностей,П р и м е р. Исследовали зернапшеницы Эритроспермум 127. Из общейзерновой массы отобрали две пробыго 15 " каждая: темно-красные, т.е.полностью стекловидные зерна, ижелтые, т.е. полностью мучнистыезерна, Точную идентификацию согласноГОСТ 10987-76 осуществляли пу 1 темпоперечного разрезания зерновок лезвием.Помимо этого отобрали одну сред 50нюю пробу массой 30 г,Отдельно каждую навеску размололина лабораторной мельнице "Пируэт" так,224 2чтобы измельченный продукт (мука) прооднл через сито с размером ячеек 0,8 мм (остаток на сите не более 2 Ж). Навески муки массой 2,540,01 г залили в конической колбе 50 мл дистиллированной воды и взболтали на- аппарате для встряхивания в течение 20 мин. Смесь подвергли центрифугированию и надосадоЧную жидкость слили в мерную колбу объемом 250 мл. Экстракцию вели четыре раза, все водные экстракты объединили и довели в колбе объемом 250 см до метки водой.С помощью спектрофотометра на длине волны 27515 нм измерили оптические плотности экстрактов, полученных из полностью стекловидных зерен (Пс), полностью мучнистых зерен (0) и зерен средней пробы (О см) . Консистенцию зерен средней пробы определили по формуле Результаты анализа приведены втаблице, из которой следует, чтопогрешность предлагаемого способапо отношению к базовому способу(по ГОСТ 10987-76) в три раза меньше,чем погрешность способа по прототипу. Значения оптических плотностейэкстрактов, полученных из полностьюстекловидных и полностью мучнистых
СмотретьЗаявка
3553350, 07.02.1983
ОДЕССКИЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ПИЩЕВОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ ИМ. М. В. ЛОМОНОСОВА
ЯКОВЕНКО ВАЛЕНТИН АРСЕНТЬЕВИЧ, МОРОЗОВ ВЛАДИМИР ГЕОРГИЕВИЧ, СЕРДЮК ЛЮДМИЛА ВАСИЛЬЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 33/10
Метки: зерна, консистенции
Опубликовано: 15.11.1984
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1124224-sposob-opredeleniya-konsistencii-zerna.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения консистенции зерна</a>
Аппарат для отбирания средней пробы от струи ссыпаемого зерна
Номер патента: 11517
Опубликовано: 30.09.1929
Авторы: Введенский, Журавлев
МПК: G01N 1/20
Метки: аппарат, зерна, отбирания, пробы, средней, ссыпаемого, струи
...подвешены ск метаддичвскойг раме 4 на аружс нах 5, позволяющих опуская нся н пюднпь пгатьса кожуху в завиопппоичг от пгаподнения ковша зернопг. Сверлу рама оканчивает 1 ся ручками 6, запнутьипи в нодьца 7, а внизу ке установщн футляв 8 с нриеыиппиом 9 ддя нривма отбираемой пробы. Спереди кожуха перед верхнии спгом к раме црпгкреплвппа эерччпкадьная вас тонка 10, состоящая из дэуи передвипкных половин для ппзмеппсния ее пиприны. Ннжнее сито снабжено зас,топпкой 11, поворачпвапигепг ко. торой вокруг оси 12 рвгулппруепся эе;ииина отверстий в опте.Аппарат сможет восгещатнспг в люке ои. лоси пгди трюма аод трубой 13 (фип. 1), подагощей в пих зергго и удеря 1 мпваеспся в отвесном потожеии па двух брусках, продетых в кольца 7 ручек 6 рамы...
Устройство для измерения длин волн оптического излучения
Номер патента: 906233
Опубликовано: 15.02.1993
Авторы: Макогон, Пономарев, Тихомиров
МПК: G01B 9/02
Метки: волн, длин, излучения, оптического
...ВыходнОГО Окна перВОЙ ячейки,а дру.ая диафпа гма -. на ВнутреннейВ: Х "." ГЫХС)Дно ГО С)кНа ВОРОИФи , ГОевставлена функцис;- ная схема устройства для измерегия пли;- Волн ОптическОГО излучения,- ис,пользуемые в устройстсФра:, "ы,У-;:.с)иство содержит интерферометр .абаи Перо 1, ооъектив 2, две оптико, в:,;с,:, -аск-е ячейкии 4, установ,: ные В -чейках конденсаторные мик- ):.ВГ) 1 ы ; ) э, ООдключенныЙ к млкрОФО -М мпСГОПОЛЮСНЫЙ дВУХКанаЛЬНЫЙ УСИ иепь измеритель отношений выходнагряжений 8, шестилучевую диафраг,д и пве поглощающие диафрагмыСМ и-,;-;:,Ра -М Э УСтаНОВЛЕНа)ХВР)за1 а "/ 4 МЕЕ Та КУЮ СОРМУСЛ. измененле пег.пощенной. а -Е,. ЭНЕОГИИ ИЗЛУЧЕНИЯ СООтВЕтСтВУи;.)енению диаметра колец втсрОГО ;")орядка интерференционной...
Оптический способ определения скорости ультразвуковой волны
Номер патента: 1374103
Опубликовано: 15.02.1988
Авторы: Быков, Голтвянский, Зильберман, Купченко, Черенов
МПК: G01N 21/00
Метки: волны, оптический, скорости, ультразвуковой
...ности из лью повышения осуществляютпервой дифрак изменяют част лебаний, опре змерение ин ционной состту ультразв еляют значе вляющеи,ковых ко -ия частот,составляюмальныеоты звука,звука в Составитель В.ЧулкоТехред И.Верес едактор А.Лежнин ректор М Шарош Заказ 567 3 47 Подписного комитета СССР Тиражрстве ИИПИ Гос по дела 3035, Моизобретеква, Жи открытииушская наб., д оектная, 4 твенно-полиграфическое предпри"ти Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь зовано для определения скорости звуковой волны в прозрачных средах,Цель изобретения - повышение точ 5ности измерения скорости ультразвуковой волны в оптически прозрачных средах путем измерения интенсивностидифрагированного пучка света в задан Оном направлении,На...
Ф. лзовый способ измерения длины волны ультразвука
Номер патента: 255684
Опубликовано: 01.01.1969
Автор: Пантелеев
МПК: G01H 5/00
Метки: волны, длины, лзовый, ультразвука
...изобретение относится к измерительной технике и может быть применено при измерении скорости ультразвука в жидкостях и твердых телах.Известные способы измерения длины волны ультразвука в жидкостях, основанные на использовании стробоскопического эффекта при помощи двух бегущих ультразвуковых волн, не позволяют достигнуть высокой точности измерения длины волны.По предложенному способу для повышения точности модулируют одну из бегущих волн, освещаемых пучком света, по фазе, наводят последовательно ось фотоэлектрического микроскопа на максимум освещенности видимого изображения и по расстоянию между соседними максимумами судят о длине ультразвуковсй волны.На чертеже изображена схема устройства, реализующего данный способ.Устройство содержит...
Способ определения длины волны светофильтра
Номер патента: 549686
Опубликовано: 05.03.1977
МПК: G01J 3/28
Метки: волны, длины, светофильтра
...не позво- б ь характеристики светофильтдиапазоне длин волн,ель достигается те через образец све ляризуют, направля ю пленку, нанесенну ю подложку, и по и яризованного свет льтра.изменяются, Эти изменеомошью анализатора 6 определяют топриемника Измерение пара пленки на кремниев эллипсометра ведут и Я . Для этого с кают через два све метров диэлектрической ой подложке с помощью на двух длинах волн А вет от источника пропустофильтра 2 с известной неизвестной ; находят инои волны 1 и го света, Ь и орые на номограм преломления и фа ам ва етры поляриздля Л и Л2мостей показтолшины пле к зави овой ки от параметров поляри(с Ь) представле(фиг. 2). Найден- и 1 и 2 соответстров пленки П Р 1 длин волк Л и Лна одном участке зованного света: 1ны...
Предыдущий патент: Способ определения цветности светлого солода
Следующий патент: Устройство для моделирования промерзания грунта
Случайный патент: Устройство для управления тормозами транспортного средства при испытаниях на роликовом стенде