Устройство для селекции дефектов изображений объектов

(54) УСТ ФЕ КТО (57) Изо может б чдтных и щэяся в достигае навания и регист фекты уч сечение нститут ьханов тения - повышение точноефектных участков, обусием токоведущих проводОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР РСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Авторское свидетельство СССРМ 913569, кл. 6 06 К 9/00, 1975.Авторское свидетельство СССРМ 1548800, кл. 6 06 К 9/00, 27,11.87 Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в системах с техническим зрением для селекции дефектов изображений фотошаблонов печатных плат. Цель изобрсти устройства.Сущностьчто в процессечатных плат, лиэлементом, стррицу отсчетов,ному изображезначения, раенизображения,токоведущих пручастков, соотвковедущих протов ац- номеизменяться отстроки.Выделениеловленных суж изобретения состоит в том, считывания иэображения пебо фотошаблонов элемент эа оку за строкой получают матсоответствующую позитивнию, в которой принимают ые 1, для темных участков соответствующих наличию оводников, а 0 - для светлых етствующих отсутствию товодников, В матрице отсчер элемента в строке и может 0 до и,- текущий номер РОИСТВО ДЛЯ СЕЛЕКЦИИ ДЕВ ИЗОБРАЖЕНИЙ ОБЪЕКТОВ бретение относится к автоматике и ыть использовано для контроля пелат, Цель изобретения, заключаю- повышении точности устройства, тся введением двух блоков распоздвух элементов ИЛИ, элемента НЕ ра, что позволяет анализировать деастков печа, ных плат, поперечное которых менее допустимого. 7 ил. ников, поперечное сечение которых в месте сужения менее заданной величины при производственной ориентации токоведущих проводников, и выделение дефектных участков, обусловленных расширением токоведущих проводников, приводит к тому, что расстояние между смежными проводниками становится менее заданной величины.Выделение дефектных участков токоведущих проводников и выделение дефектных областей, не удовлетворяющих требованию допустимого расстояния между смежными проводниками, осуществляется параллельно, их идентификация производится по одному и тому же принципу, но с той лишь разницей, что выделение дефектных участков токоведущих проводников осуществляется путем преобразования матрицы ац отсчетов позитивного изображения, а выделение дефектных областей, не удовлетворяющих требованию допустимого расстояния между смежными проводниками, реализуется путем преобразования матрицы ац.отсЧетов негативного изображения.Корректор О.Ципл зводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гага 101 аказ 548 ВНИИПИ Госу Тираж 383 Подписноественного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5Рассмотрим принцип выделения дефектных участков на примере преобразования матрицы ал отсчетов позитивногоиэображения, Преобразование матрицыац отсчетов негативного изображения производится аналогично.Выделение дефектных участков осуществляется следующим образом.За счет в-кратного изотропного сжатияэлементов исходной матрицы в соответствии с рекуррентным соотношением= - 1(= -где 1=0,гп;с 1 =а 1;сЩ = бл,получают отсчеты промежуточного изображения, а в результате последующей операции над отсчетами промежуточногоизображения путем в-кратной изотропнойрасфокусировки в соответствии с.соотношением( - 1)с) т О О сс, (2)где т=От;сц = сц,получают отсчеты си матрицы отфильтрованного и восстановленного изображения.В результате сравнения отсчетов алисходного изображения и отсчетов с 1 отфильтрованного и восстановленного изображения получают отсчеты матрицы Ь;1разностного изображения Ь =ая П си. (3)Размер дефекта, подлежащий идентификации, определяется коэффициентом а сжатия и расфокусировки.Наличие отсчетов Ь разностного изображения в соответствии с (3) не свидетельствует в полной мере о наличии дефекта, атолько лишь указывает на его возможность.Поэтому необходимо установить связь между отсчетами.с 1 отфильтрованного и восстановленного изображения и отсчетами Ь,разностного изображения, используя свойства примыкания граничных элементов матриц с 1 и Вя,Матрица примыкания определяется наосновании соотношенияО =01 - и О 0О 03,1 - 10 04 1, - 1,. (4)4 деОВР СР С,1-; (5)О = В ,1 - 1 П С 1 Г 1 С ,1 - 1; (6) 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 0 =В 1 й СП С -), (7)О = ВП СГ С- ,1, (8)Для получения связности отсчетовматрицы примыкания между элементамисоседних строк скорректируем ее в соответствии с (5), Тогда скорректированнаяматрица примыкания примет видО, = ОяООс, - 1 П Оси О 1-1, -.(9)Отсчеты матрицы О; в соответствии с(9)пространственно находятся в области граничных элементов матрицы С 1 отфильтрованного и восстановленного изображения ине принадлежит граничным отсчетам матрицы В 1 разностного изображения, В этойсвязи матрица М дефектной области можетбыть получена путем объединения матрицыО;1 и матрицы В;1,М;=Ви 0 (10)Отсчеты матрицы примыкания Оц принадлежат отсчетам матрицы дефектной области М;1. В этой связи распознаваниедефекта можно осуществить на основаниивзаимной связи структуры матрицы М 1 дефектной области и структуры матрицы 01примыкания,Возможны следующие связи структурМ и 01,1, Отсчеты матрицы М 1 дефектной области не содержит отсчетов матрицы О примыкания, что соответствует наличиюдефекта, размер которого менее заданнойвеличины и не связан с изображением, Этотслучай не имеет информативного значения.2. Отсчеты матрицы М 1 дефектной области содержат отсчеты матрицы Ол примыкания, но отсчеты матрицы Ол примыканияобразуют при этом лишь одну связную область, что соответствует наличию дефекта,примыкающего к проводнику и образующего по отношению к изображению проводни-ска выступ, а следовательно, сечениепроводника в этом месте увеличивается. Такой дефект является ложным и также неимеет информативного значения.3, Отсчеты матрицы Мя дефектной области содержат отсчеты матрицы О; примыкания, но отсчеты матрицы Ол при этомобразуют две или более не связных междусобой областей, что соответсвтует дефекту,который порожден сужением дорожки печатной платы менее заданной величины.Следовательно, последняя ситуация является информативной как характеризующая искомый дефект и подлежит распознаванию,Алгоритм распознавания строится следующйм образом.(19) а) Связным элементам матрицы М 1 дефектной области присваиваются одинаковые номера в соответствии с рекуррентным соотношениемМ 1 к = Й- 1,1 О й ,1 - ,Н,1 ) х Х М 10 А 1+1+У,1 - 1, В- 1.1, (11)гдеА 1. =М 1 41; Вц =М 1 Г М 1 - 1,1б) Связным элементам матрицы 01 примыкания также присваиваются одинаковые номера в соответствии с аналогичным рекуррентным соотношениемЦ.=И 1 - ,11 О И;,1 - 1; Н) Х1 1 1ХОц А+1+у,1 - 1,В - 1,1.1 20 (12)В соотношениях (11) и (12)Нц=1, (13) если номера связных элементов на соседних строках, соответствующих одной области, будут отличны от нуля и не равны между собой, т,е. будет выполняться условие(14)б) В каждой дефектной области подсчитывается число областей примыкания,В том случа, если число областей примыкания в данной дефектной области равно или более двух, элементы матрицы Мц дефектной области являются информативными и селектируются как дефект.При подсчете числа областей примыкания в каждой дефектной области учитываем то, что изображение дефектной области само по себе достаточно сложное, а изображение области примыкания может входить в . изображение дефектной области в произвольной пространственной ориентации.Во-первых, сама дефектная область, определяемая матрицей в процессе выделения связных элементов, может состоять из ряда подобластей с разными начальными номерами.Во-вторых, связные элементы матрицы о 1 примыкания могут принадлежать дефектной области с матрицей М 1, но с разными начальными номерами.Для однозначного формирования признака занесения очередной примыкающей дефектной области определяют область пе ресечения Н 11, определяемую на основании (13) для матрицы Мц дефектной области, и Нц также на основании (13), но для матрицы 011 примыкания. Признак занесения очередной примыкающей дефектной области определяют как г;1 =0;10 Т - 1,1 О Т 1 П Н - 1,1 ), (15)гдет 1 =т - ,1 П Н 1)О Ь 1; (16) О 1 =1,если11- 1,1,О й; 1+1. ) = О, (20)1а Я = 1, если текущее число областей примыкания для подобласти, соответствующей отсчетам матрицы Мц на предыдущей строке, имеет значение больше нуля, Индексы 1 и ) при Ъ 1 в соотношении (15) определяют координаты дефекта.На фиг.1 представлена структурная схема устройства для селекции дефектов изображений объектов; на фиг.2 - . структурная схема блока распознавания; на фиг,З - структурная схема блоков селекторов признаков изображений; на фиг,4 - структурная схема узлов формирования связей; на фиг,5 - структурная схема узлов дешифрации; на фиг,б - структурная схема анализатора; на фиг,7 - структурная схема узла памяти.Устройство (фиг.1) для селекции дефектов изображений объектов содержит блок 1 ввода изображений, первый элемент НЕ 2, первый 3 и второй 4 селекторы признаков изображений, блок 5 синхронизации, первый б и второй 7 блоки распознавания, второй 8, третий 9 и первый 10 элементы ИЛИ, блок 11 управления, второй блок 12 памяти, четвертый элемент ИЛИ 13, первый блок 14 памяти и счетчик 15,Блоки 6 и 7 распознавания (фиг.2) содержат узел 16 памяти, коммутатор 17. второй элемент НЕ 18, первый 19 и второй 20 узлы маркировки, первый элемент И 21, анализатор 22 дефекта и пятый элемент ИЛИ 23:Селекторы 3 и 4 признаков изображений (фиг.З) содержат узел 24 цифровой фильтрации, узел 25 расфокусировки, первый элемент 26 задержки, первый дешифратор 27, первый 28 и второй 29 узлы формирования связей, шестой элемент ИЛИ 30, второй элемент 31 задержки. первый 32 и второй 33 узлы дешифрации, седьмой элемент ИЛИ 34 и третий элемент 35 задержки,Узлы 28 и 29 формирования связей (фиг.4) содержат четвертый 36 и пятый 37 элементы задержки, второй дешифратор 38,1631562 ки соответствующие отсчеты задерживаются на один, один, два и и тактов ипосредством дешифраторов 38 и 40 реали 30 зуются операции (5) и (6) соответственно.Посредством узла 29 формирования связейустанавливаются связи между отсчетами отфильтрованного и восстановленного изображений в соседних строках и в этом узле35 на элементах 36,37,39 и 42 задержки соответствующие отсчеты задерживаются на и,и,2 п и один такт и посроедством дешифраторов 38 и 40 реализуются. операции (7) и (8)соответственно. На выходах дешифраторов40 38 и 40 будет "1" в том случае, если напервом и третьем входах "1", а на втором"О",С выхода узлов 32 и 33 дешифрацииформируются отсчеты, соответствующиеф45 скорректированным матрицам примыканияи разностного изображения посредствомэлемента 32 задержки с задержкой на (и)такт, элемента 44 задержки с задержкой наодин такт, элемента ИЛИ 46 и дешифратора50 45, единица на выходе которого будет в томслучае, если на его первом и втором входах"1", а на третьем "0" поступают на входыэлемента ИЛИ 34, с выхода которого в соответствии с (10) отсчеты дефектной области55 поступают на первый вход узла 19 маркировки каждого из блоков 6 и 7 распознавания,шестой и седьмой элементы задержки 39, второй дешифратор 40, восьмой элемент ИЛИ 41 и восьмой элемент 42 задержки.Узлы 32 и 33 дешифрации (фиг.5) содержат девятый 43 и десятый 44 элементы задержки, второй дешифратор 45 и девятый элемент ИЛИ 46.Анализатор 22 дефектов (фиг.6) содержит десятый элемент ИЛИ 47, второй элемент И 48, одиннадцатый 49 и двенадцатый 50 элементы задержки и третий дешифратор 51.Узел 16 памяти (фиг,7) содержит одиннадцатый элемент ИЛИ 52, третий элемент И 53, тринадцатый элемент 54 задержки, второй регистр 55, четвертый элемент И 56, третий блок 57 памяти, четвертый дешифратор 58, двенадцатый элемент ИЛИ 59, преобразователь 60 кода и пятый дешифратор 61.Преобразователь 60 кода выполнен в виде постоянного запоминающего устройства (ПЗУ), работа которого представлена в виде таблицы истинности. Устройство работает в двух режимах: считывания и выдачи информации.В режиме считывания отсчеты бинарного иэображения, полученные на выходе блока 1, отсчет за отсчетом вдоль строк изображения, строка за строкой поперек стро подаются с частотой, определяемой блоком 5 синхронизации на вход селектора 4 признаков изображений и через первый элемент НЕ 2 на вход селектора 3 признаков изображений.В каждом из селекторов 3 и 4 признаков изображений отсчеты, соответствующие входному изображению, поступают на вход узла 24 цифровой фильтрации, в котором осуществляется операция е кратного изотрапного сжатия элементов исходной матрицы в соответствии с рекуррентным соотношением (1), с выхода которого отсчеты промежуточного изображения поступают на вход узла 25, осуществляющего операцию в-кратной изотропной расфокусировки в соответствии с (2).С выхода узла 25 расфокусировки отсчеты отфильтрованного и восстановленного 5 10 15 20 25 изображения поступают на первые входы узлов 28 и 29 формирования связей и на первый вход дешифратора 27, на второй вход которого через элемент 26 задержки с задержкой, равной времени обработки сигнала в узлах 24 и 25 цифровой фильтрации и расфокусировки, поступают отсчеты входного изображения, С выхода дешифратора 27 на вторые входы узлов 28 и 29 и на вход узла 33 дешифрации через элемент 31 с задержкой на (п+1) такт поступают отсчеты раэностного иэображения в соответствии с (3), причем на выходе дешифратора 27 будет "1", если на первом входе "0", а на втором "1". Связь между отсчетами отфильтрованного и восстановленного изображения и отсчетами разностно го изображения реализуется посредством узлов 28 и 29 формирования связей и элемента ИЛИ 30, с выхода которого на вход узла 32 дешифрации поступают отсчеты матрицы примыкания в соответствии с (4). Посредством узла 28 формирования связей устанавливаются связи между отсчетами отфильтрованного и восстановленного изображений в строке и в том узле на элементах 36,37,39 и 42 задержС выхода узла 32 дешифрации отсчетыматрицы примыкания с задержкой на один акт на элементе 35 задержки поступают на5 10 20 25 30 35 40 45 50 первый вход узла 20 маркировки каждого из блоков 6 и 7 распознавания,Блоки 6 и 7 распознавания идентичные и поэтому достаточно рассмотреть работу одного из блоков.Связным элементам дефектной области посредством узла 19 маркировки присваиваются одинаковые номера в соответствии с(11),а связным элементам матрицы примыкания - посредством узла 20 маркировки, Для узла 19 маркировки используются все выходы, а для узла 0 маркировки используется только четвертый и шестой выходы.В момент появления первого элемента в системе связных элементов дефектной области на четвертом выходе узла 19 маркировки появляется импульс длительностью в один такт, который поступает на второй вход коммутатора и через второй вход узла 16 памяти на вход начальной установки регистра 55, устанавливая нулевой код на его выходе, и на один из входов элемента И 53, При этом второй выход узла 19 маркировки через коммутатор 17 подключен к адресному входу ОЗУ 57 и в ОЗУ 57 при этом записывается по тактовому импульсу через элемент И 53 и элемент ИЛИ 52 нулевой код. Код на пятом выходе узла 19 маркировки появляется через такт после появления первого элемента дефектной области и, так как на третьем выходе узла 19 маркировки "0", пятый выход узла 19 маркировки и адресный вход ОЗУ 57 узла 16 памяти скоь.мути- рованы через коммутатор 17 и код адреса ОЗ 57 соответствует коду номера дефектной области, который имеет одинаковое значение для всех связных эяементов этой области.При появлении первого из связных элементов матрицы примыкания в соответствии с (19) и (20) на четвертом выходе узла 20 маркировки появляется импульс длительностью в один такт, который через элемент ИЛИ 23 в соответствии с (15) поступает на четвертый вход узла 16 памяти, При этом по тактовому импульсу код с выхода преобразователя 60 кода переписывается в регистр 55 и через время, несколько большее длительности тактового импульса, за счет задержки на элементе 54 задержки через элемент ИЛИ 52 записывает код с выхода регистра 55 в ОЗУ 57, который соответствует текущему коду числа областей примыкания, Если код на выходе ОЗУ 57 составляет 10 (это соответствует, что для данной дефектной области существует две или более областей примыкания), то данный код яслястся признаком дефекта, при этом на выходе дешифрэтора 58 появляется "1", которая поступает на первый выходузла памяти. Если код на выходе преобразователя 60 кода составляет 10, то при наличии "1" на третьем выходе дешифратора 61 появляется"1", которая поступает на третий выход узла 16 памяти. На выходе элемента ИЛИ 59 узла. памяти будет "1" в том случае, если код на выходе ОЗУ 57 будет отличен от нуля,Если коды номеров связных элементов на соседних строках как для элементов дефек 1 ной области, так и для элементов матрицы примыкания отличны от .нуля и не равны между собой, то выполняется условие (14) и на шестых выходах узлов 19 и 20 маркировки в соответствии с (13) будет "1", а на третьем выходе узла 19 маркировки в соответствии (17) будет сформирован импульс длительностью в один такт. При этом импульсы на шестых выходах узлов 19 и 20 маркировки могут находиться в произвольном соотношении и их взаимное расположение зависит от структуры дефектной области и структуры матрицы примыкания,С появлением импульса на третьем выходе узла 19 маркировки, который поступает на первый управляющий вход коммутатора, на вход элемента И 21 и на вход элемента НЕ 18, первь.й выходузла 19 маркировки через коммутатор 17 скоммутирован с адресным входом ГЗУ 57, При этом, если код на выходе ОЗУ 57 отличен от нулевого, то на втором выходе узла 16 "1" и на выходе элемента И 21 также "1", при этом выполняется (18). С выхода элемента И 21 в этом случае импульс длительностью в один такт поступает на первый вход анализатора 22 дефектов, на второй и третий входы которого поступают сигналы с шестых выходов узлов 19 и 20 маркировки. При этом уровень "1" нэ выходе элемента ИЛИ 47 будет существовать до тех пор, пока присутствует "1" на втором входе анализатора, реализуя при этом с помощью элементов ИЛИ 47, И 48 и элемента 50 задержки соотношение (16), Сигнал, поступающий на третий вход анализатора 22 дефектов, задерживается на один такт элементом 49 задержки и поступает на третий вход дешифратора, на выходе которого будет "1", если на первом и третьем входах "0", э на втором "1". Импульс, длительностью в один такт с выхода дешифратора 51 анализатора 22 дефектов через элемент ИЛИ 23 поступает на четвертый вход узла 16 памяти, осуществляя очередное занесение и модификацию кода ОЗУ 57 точно таким же образом, как было описано выше.Таким образом, с первых выходов блоков 6 и 7 распознавания формируются сигналы в реальном масштабе времени работы считывающего устройства и данные сигнэ 1631562лы при наличии импульсов синхронизации могут быть восприняты устройством сопряжения с цветным дисплеем, либо непосредственно использоваться для управления модуляторами цветного монитора, где одним цветом отображаются дефекты токо- проводящих дорожек, а другим дефекты междорожечных областей. С вторых выходов блоков распознавания формируются импульсы, момент появления которых отображает координаты дефекта и которые через, элемент ИЛИ 8 поступают на один из информационных входов блока 12 памяти и через элемент ИЛИ 13 на счетный вход счетчика 15, код с выхода которого поступает на второй информационный вход блока 12 памяти и на адресный вход блока 14 памяти, в который записывается "1" только через элемент ИЛИ 10 при наличии сигнала на втором выходе блока 6 распознавания.Таким образом, код счетчика 15 определяет номер дефекта, код блока 14 памяти "О" или "1" определяет характер дефекта (дефект токопроводящих дорожек - "О", дефект междорожечных областей - "1"). код, записанный в блоке 12 памяти, определяет координату дефекта,После считывания кадра изображения с второго выхода блока памяти вырабатывается импульс длительностью в один такт и переводит блок 11 управления в режим выдачи, В этом режиме на втором выходе блока 33 - "О", а на четвертом выходе - "1", которая через элемент ИЛИ 9 останавливает узел отсчета координат блока 12 памяти. При этом такхсе с нулевого, третьего, пятого и шестого выходов формируется серия импульсов заданной последовательности, посредством которых модифицируется счетчик 15 и обнуляются блоки памяти 12 и 14 до тех пор, пока, не появится импульс на третьем выходе блока 12 памяти, поступающий на четвертый вход блока 11 управления. При этом процесс выдачи информации завершается и счетчик 15 устанавливается в исходное нулевое состояние, Код координаты дефектов с первого выхода блока 12 памяти и код о характере дефекта с выхода блока 14 памяти воспринимается блоком сопряжения с ЭВМ (не показан) при наличии синхроимпульса, снимаемого с шестого выхода блока 11 управления. Перед началом считывания очередного кадра на вход начальной установки устройства поступает сигнал, устанавливающий узел отсчета координат блока 12 памяти и счетчики узлов маркирования блоков распознавания в нулевое состояние. Затем цикл считывания повторяется,5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 Формула изобретения 1, Устройство для селекции дефектов, иэображений объектов, содержащее блок ввода иэображения, два селектора признаков изображения, два элемента ИЛИ, блок управления, два блока памяти и блок синхронизации, выход которого соединен с входами синхронизации блока ввода изображения, первого и второго селекторов признаков изображений, блока управления и второго блока памяти и является первым выходом устройства, выход блока ввода изображений соединен с информационным входом второго селектора признаков изображений, выход первого элемента ИЛИ соединен с управляющим входом первого блока памяти, выход первого блока памяти, выход блока управления и первый выход второго блока памяти являются вторым выходом устройства, второй выход блока управления соединен с информационным входом первого блока памяти, первый выход блока управления соединен с первым входом первого элемента ИЛИ и первым управляющим входом второго блока памяти, второй и третий выходы которого соединены с первым и вторым информационными входами блока управления, третий информационный вход блока управления соединен с входом логического нуля устройства, выход второго элемента ИЛИ соединен с информационным входом второго блока памяти, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности устройства, оно содержит два блока распознавания, первый элемент НЕ, третий и четвертый элементы ИЛИ и регистр, счетный вход которого соединен с выходом четвертого элемента ИЛИ, вход начальной установки соединен с пятым выходом блока управления, выход счетчика соединен с адресными входами первого и второго блоков памяти, четвертый выход блока управления соединен с первым входом третьего элемента ИЛИ, входы начальной установки первого и второго блоков распознавания являются входом "Сброс" устройства, второй вход третьего элемента ИЛИ соединен с входом "Сброс" устройства, первые выходы первого и второго блоков распознавания соединены с первым выходом устройства, входы синхронизации первого и второго блоков распознавания соединены с выходом блока синхронизации, первый и второй выходы первого и второго селекторов признаков изображений соединены с первым и вторым информационными входами первого и второго блоков распознавания, вторые выходы первого и второго блоков распознавания соединены с первым и вторым входами второго элемента14 1631562 13 ВФК 1 ИЛИ, второй выход первого блока распознавания соединен с вторым входом первого элемента ИЛИ, выход третьего элемента ИЛИ соединен с вторым управляющим входом второго блока памяти, первый вход чет вертого элемента ИЛИ соединен с выходом второго элемента ИЛИ, а второй вход - с третьим выходом блока управления, вход первого элемента НЕ соединен с выходом блока ввода изображений, а выход - с ин формационным входом первого селектора изображений.2.Устройство поп.1, отл ича ющеес я тем, что блок распознавания содержит узел памяти, коммутатор, второй элемент 15 НЕ, два узла маркировки, первый элемент И, анализатор дефекта и пятый элемент ИЛИ, выход которого соединен с информационным входом узла памяти. адресный вход которого соединен с выходом коммута тора, информационные входы первого и второго узлов маркировки соединены с первым и вторым информационными входами блока, вход синхронизации узла памяти, первого и второго узлов маркировки и ана лизатора дефектов соединены с входом синхронизации блока, входы "Сброс" первого и второго узлов маркировки являются входом начальной установки блока, первый, второй и пятый выходы первого узла маркировки соединены с первым, вторым и третьим информационными входами коммутатора, третий выход соединен с входом второго элемента Н Е, первым управляющим входом коммутатора и первым входом первого элемента И, второй вход которого соединен с вторым выходом узла памяти, а выход соединен с первым информационным входом анализатора дефектов, второй и третий информационные входы которого соединены с шестыми выходами первого и второго узлов маркировки, а выход - с первым входом пятого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с четвертым выходом второго узла маркировки, четвертый выход первого узла маркировки соединен с вторым управляющим входом коммутатора и управляющим входом узла памяти, выход второго элемента НЕ соединен с третьим управляющим входом коммутатора, первый и второй выходы узла памяти являются первым и вторым выходами блока.