Способ выявления микроструктуры бериллия
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51) М. Кл. б 01 п 1/28 Государственный комитет Совета Министров СССР оо делам иэооретеннй и открытий(72) Авторы изобрет В. С, Смирнов, В. П, Яковлев и Л. Н. Теремов Ленинградский ордена Ленина политехнический инстит им. М, И, Калинина(71) Заявитель ВЛЕНИЯ МИКРОСТРУКТУРЫ БЕРИЛЛИЯ(54) СПОСОБ 2до 450 в 5 С, вку полированн соприкосновен последнее начи результате взаи вами, составляю микроструктура т достигается и ванного шлиф а ез нагрева шли и нагретый в печи деревянную подста ностью вверх. При образца с деревом 5 выделяя дым, Вбериллия с вещест четко выявляетсяПодобный эффекнии электрополиро 10 тлеющего дерева б мет изобретения 1. Способ вь5 риллия, включа рование, отли улучшения кач шлиф берилли углерода, двуо0 2. Способ по что травление дерева. явления микростр ющий электролити чающийся тем, ества выявленно я травят в смеси киси углерода и у п. 1, отличаю производят дымо уктурыческое почто, с цельюи структуры,газов окисиглерода.щийся тем,м тлеющего бе- лиСоляная кислотаАзотная кислотаХлорная кислотаЭтиленгликоль Остальное Изобретение относится к изысканию способов выявления микроструктуры металлов и сплавов, в частности бериллия.Известен способ выявления микроструктуры бериллия, включающий электролитическое полирование и последующее электролитическое травление.Предложенный способ отличается от известного тем, что после электролитического полирования шлиф бериллия травят смесью газов окиси углерода, двуокиси углерода и углерода, например дымом тлеющего дерева, что способствует улучшению качества выявленной структуры бериллия и позволяет исследовать бериллий любой чистоты,П р и м е р. Шлиф бериллия, электролитически полированный в электролите, содержащем, %:2 кладут на ой поверхии горячего нает тлеть, модействия щими дым,бериллия,ри травлев дыму ф
СмотретьЗаявка
1856331, 06.12.1972
ЛЕНИНГРАДСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. М. И. КАЛИНИНА
СМИРНОВ ВАСИЛИЙ СЕРГЕЕВИЧ, ЯКОВЛЕВ ВЛАДИМИР ПЕТРОВИЧ, ТЕРЕМОВА ЛЮДМИЛА НИКОЛАЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 1/44, G01N 31/00
Метки: бериллия, выявления, микроструктуры
Опубликовано: 15.04.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-467251-sposob-vyyavleniya-mikrostruktury-berilliya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ выявления микроструктуры бериллия</a>
Предыдущий патент: Прибор для взятия почвенных проб с различных горизонтов
Следующий патент: Способ переведения ванадия (п) в комплексное соединение
Случайный патент: Устройство для калибровки ультразвуковых эхотахокардиографов