423773

Номер патента: 1705727

Опубликовано: 15.01.1992

Авторы: Онищенко, Яцынина

МПК: G01N 22/00

Метки: аттестации, диэлектрической, измерителя, калибровки, магнитной, проницаемостей

...с требованияли заказчика обусловливается диап;зон значений электромагнитных параметров и задаются величины р ие, для конкретных1,частот и толщин образцов материалов. Для заданных,и,ие,е расчетным пултем определяются величины перемещений поршней 4 и 5 для резонатора 2 с образцом 7 и без в режимах короткого замыкания и холостого хода, равнозначные и такие же, 1705727как если бы в тракт был помещен реальный образец с указанными параметрами, т, е, решается задача по определению изменения резонансной длины коаксиального резонатора 2, Разность резонансных длин 1, 1 2 дает возможность рассчитать значения ,ие ),аЬъ Л 1 - значея,и (е )соответственно в опытах короткого замыкания и холостого хода, Полученные значения перемещений поршней 4 и 5...

Номер патента: 1791428

Опубликовано: 30.01.1993

Авторы: Дорохова, Кускова, Пахомова, Продавцова, Ротенберг, Рябинина

МПК: C04B 35/46, H01G 4/12

Метки: конденсаторный, материал, низкотемпературный, сегнетокерамический

...82,44 - 89,24 Цирконат кальция 5,34 - 7,52 Оксид неодима 0,77 - 1,41 Пентоксид ниобия 0,24 - 0,56 Оксид цинка1,36 - .1,88 Углекислый марганец 0,05 - 0,19 Цинкоборатное стекло 3,00 - 6,00При этом цинкоборатное стекло имеетследующий состав, мас.%Оксид цинка 47 - 53 Оксид бора 38 - 42Оксид калия 1,8 - 2,2 Оксид натрия 1,0 - ,1,6Оксид свинца 4,4 - 5,0Оксид бария 1 8 - 2,2Керамический материал йриготавливали по следующей керамической технологии,Сначала готовят состав керамики сухимпомолом в вибромельнице в течение 1;5 - 2ч. Загрузку компонентов пройзводят согласно укаэанному соотношению компонейтов;титанат бария, цирконат кальция, оксид неодима, пентоксид ниобия, углекислый марганец, оксид цинка, Помол производят доудельной поверхности...

Номер патента: 1083131

Опубликовано: 30.03.1984

Авторы: Адамчук, Морозов, Прохода

МПК: G01R 27/26

Метки: антенна, диэлектрической, листовых, магнитной, многослойных, проницаемостей

...содержащая основной отрезок прямоугольного волновода, открытый конец которого контактируетс исследуемьпч многослойным лиСтовымматериалом, а другой конец являетсявходом для подсоединения генератора СВЧ 2 . 10152030 прямоугольного волновода являетсяцентральным излучателем плоскойфазированной решетки, фазовый сдвигв Н-плоскости сканирования равено о180 , а в Е-плоскости - ОПри числе излучателей не менее 5 х 5=25 законы отражения отприкладываемого листа магнитодиэлектрика практически совпадаютс законом отражения для бесконечнобольшой решетки с бесконечно боль-.шим приложенным листом магнитодиэлектрика,При этом известно, что для устройства бесконечно больших размеров законы отражения совпадают сзаконом отражения, который получается, когда в...

Номер патента: 1385091

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Архангельский, Железняк, Коломейцев

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, проницаемости

...материала 35 Е- входное сопротивление измерительной ячейки.Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов работает следующим образом. 40С СВЧ свип-генератора 1 через направленный ответвитель 2 подают частотно-модулированный сигнал на измерительную ячейку 3. Измерительная ячейка 3 представляет собой частично 45 заполненный диэлектриком отрезок коаксиальной линии, где исследуемый материап 10 помещают в тонкостенный диэлектрический цилиндр 9, который вместе с исследуемым материалом 10 образует подложку, на внешнюю. поверхность которой нанесен тонкопленочный поглотитель 8, включенный в разрыв центрального проводника 7 коаксиальной короткозамкнутой на конце линии.Активное сопротивление тонкопленочного...

Номер патента: 1408386

Опубликовано: 07.07.1988

Автор: Хоценко

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, магнитной, проницаемости

...с(з и К. Следовательно, существуют такие три значения величины с 1 которые обеспечивают минимум погрешности измерения переменных К и 1, и следовательно, е и ьь.После вычисления указанных значений 4, про.водят дополнительное измерение трех значений К, по которым вычисляют уточненные значения е и р.Для пояснения способа измерения физических процессов, лежащих в его основе, рассмотрим электродинамическую систему, показанную на чертеже, где а, - падающие электромагнитные волны, Ь; - отраженные электромагнитные волны, 1 - волноведущая система, 2 - исследуемый образец, 3 - подвижный отражатель.Решив систему уравнений, связывающих электромагнитные поля в рассматриваемой электродинамической системе, получим сле.дующие выражения,...