Способ получения двухступенчатых отпечатков для исследования дисперсных материалов

Номер патента: 960572

Опубликовано: 23.09.1982

Авторы: Бочкарева, Усачев, Христич

МПК: G01N 1/28, G01N 1/44, G01N 23/225

Метки: исследования, керамических, микроскопе, реплик, электронном

...скола напыляют одновременно углерод .иплатину при остаточном давлении невыше 4 10 4 ГПа, На слой углерода иплатины наносят концентрированныйраствор желатина, который после сушки вместе со слоем углерода и платины отделяют от поверхности материала, Отделение слоя углерода и платины от желатина производят растворением его в дистиллированной воде при60"70 С, Углерод-платиновый слой, который и представляет реплику, остаетсяна поверхности воды. Для полной очистки реплики от желатина операцию растворения,его производят дважды. Плавающую на поверхности воды реплику вылавливают на медную сетку-подложку исушат.Полученные таким способом С/Рсреплики с керамических материаловимеют более высокое качество дляисследования микроструктуры по...

Номер патента: 763733

Опубликовано: 15.09.1980

Авторы: Комисарчик, Королев

МПК: G01N 1/42

Метки: исследования, микроскопе, объектов, приготовления, электронном

...Ул. Проектная,4 среде, смешанной с высокомолекулярной заливочной средой, с постепенным полным замещением первой на последнюв приводит к качественной пропитке объекта, что дает возможность после полимеризации выявитъ на срезах структурные элементы объекта в неизменном виде, Кроме того, применение раствора четырехокиси осмия в низкомолекулярной гидрофобной среде приводит к Фиксации объекта и улучшению качества электронномикроскопического изображения.П р и м е р. Приготовление срезов.Бистро изолированный из организма исследуемый объект погружазся во фреон, охлажденный жидким азотом. Иэ Фреона объект переносился в жидкий азот, где хранился до его помещения в охлажденную до заданной температуры камеру вакуумной установки, Далее...

Номер патента: 219862

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Рубан

МПК: G01N 24/12

Метки: двойного, исследования, резонанса, электронно-ядерного

...44.Генератор 45, создающий радиочастотноемагнитное поле интенсивности, достаточнойдля насыщения ядерных переходов в образце,размещенном в резонаторе 9 СВЧ, работает в45 широком диапазоне частот благодаря пере.ключающимся катушкам выходного контура50 и конденсатору 51 переменной емкости,пластины которого вращаются через редукторсинхронным мотором.50 Принципиальная схема генератора радиочастотной подсветки представлена на фиг. 2.Модулятор 52, собранный по схеме триггераШмитта, включен в сеточную цепь двухтактного генератора 53 с самовозбуждением. Вы 55 ходной контур 50 генератора 53 индуктивносвязан с петлей радиочастотной подсветки врезонаторе СВЧ.Генератор 45 работает в импульсно-модулярованном и непрерывном режимах. Переход...

Номер патента: 523571

Опубликовано: 07.12.1983

Авторы: Орлова, Трудаев

МПК: G01M 9/06, H01J 3/00

Метки: исследования, пучка, структуры, электронного

...из которого путем сканирования получают наэкране видеоконтрольного устройстваизображение электронного пучка.Однако извЕстное устройство непоэволяет одновременно со световымпрофилем регистрировать электрический профиль электронного пучка, чтоне обеспечивает необходимой точности ЗОизмерений скорости потока и распределение частиц газа по скоростям.Целью изобретения является повышение точности измерения скоростипотока и распределения частиц газа 35по скоростям в электронном ручке вгиперзвуковом потоке разреженногогаза.Это достигается тем, что предлагаемое устройство снабжено зондом, 40чувствительный элемент которого выполнен в виде нити, натянутой перпендикулярно плоскости диафрагмы объективаи расположенной в одной плоскости сщелью,...

Номер патента: 975744

Опубликовано: 23.11.1982

Авторы: Левенталь, Литвинов, Масхулия, Персинин, Серебряков, Яровицин

МПК: C08L 33/10, G01N 23/225, G01N 25/14

Метки: исследовании, композиция, микроскопическом, пленки-подложки, полимерная, порошкообразных, электронно

...пленок является то, что при Оработе с большими увеличениями, когда требуется значительная плотностьтока электронного пучка, указанныепленки оказываются недостаточно устойчивыми и, кроме того, под действием дневного света они быстро делаются хрупкими и пребывание их насвету в течение нескольких часовдостаточно, чтобы пленки быстро разрушились в результате электронной р 0бомбардировки. Цель изобретения - улучшение стойкости пленки-подложки к электрон ному облучению и устранение агломерации частиц порошкообразных мате. риалов.Поставленная цель достигается тем, что полимерная композиция для пленки-подложки в электронно-микроскопическом исследовании порошкообразных материалов, включающая полимер и растворитель, в качестве полимера содержит...