186106

Номер патента: 1375936

Опубликовано: 23.02.1988

Авторы: Иванов, Лямин, Самойлов, Федоров, Шульженко

МПК: G01B 3/00

Метки: глубины, дефектов, поверхностных, ширины

...к поверхности измеряемого изделия пружиной 6, направляющие 7 основания 1, каретку 8 с шарнирно установленной на ней второй губкой 9, перемещающуюся возвратно-поступательно на направляющих 7. Каретка 8 содержит нанесенную 25 на ней шкалу 10 и центральное окно 11 для визуальных наблюдений, Каретка 8 подпружинена к стенке окна 3 пружиной 12. На основании 1 установлены верньерный узел 13 с нониусом 14 с 30 возможностью возвраТно-поступательного перемещения вдоль шкалы 10 каретки 8 и кронштейн 15 с окуляром 16, линзой 17 и микрометрической шкалой 18 для измерения глубины дефектов. На основании 1 выполнены. ножки 19 для установки его на объект измерения. Устройство работает следующим образом.Для измерения ширины дефекта устройство...

Номер патента: 1446439

Опубликовано: 23.12.1988

Авторы: Иванов, Коняхин, Шагинян

МПК: G01B 3/00

Метки: глубины, дефектов, поверхностных, ширины

...10 подпружинена к стенке окна д 0 6 пружиной 15. На верхней части 1 рядом с кареткой 10 установлен корпус 16 с возможностью возвратно-поступательного переменения вдоль шкалы 13 каретки 1 О и совмещения его нуля с нулем шкалы 13 каретки 10 на всем диапазоне перемещения последней, Для упрощения совмещения нулевых делений шкалы 13 каретки 1 О и нониуса 6 каретка 10 содержит упор 17. Каретка 10 и нониус 16 соединены с верхней50 частью 1 с помощью подпружиненных винтов 18, Дпя удобства перемещения нониуса 16 вдоль шкалы 13 каретки 10 на нем жестко укреплена рифленая кнопка 19. На верхней части 1 установлены кронштейн 20 с окуляром 21, содержаним линзу 22 и микрометрическую шкалу 23 цля измерения глубины дефектов, и фонарь 24 с...

Номер патента: 678945

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Грачев, Майоров, Орлов, Петухов

МПК: G01N 23/18

Метки: вращения, глубины, дефектов, залегания, телах

...по этой формуле.Кроме того этот метод приводит к увеличению расхода радиографической пленки.Цель изобретения - экономия радио- графической пленки и упрощение обработки результатов.Поставленная цель достигается тем, что изделие в течение. экспозиции поворачивают вокруг собственной оси на 360 ф. В результате вращения иэделия дефекты перемещаются относительно радиографической пленки, вследствие чего их изображения на снимке принимают вид полос. В этом случае глубина залегания дефектов соответствут расстоянию от границы изображения изделия до границы вышеописанной полосы.Изображения дефектов, расположенных в одной плоскости, перпендикулярной оси вращения иэделия, будут представлять собой наложение полос, отличающихся друг от друга...

Номер патента: 864104

Опубликовано: 15.09.1981

Авторы: Брон, Мужицкий

МПК: G01N 27/87

Метки: глубины, дефектов, поверхностных, ферромагнитных

...со входом амплитудного дискриминатора 7 с индикатором 8. Контролируемая поверхность 4 и преобразователь-градиентометр 3 перемещаются относительно друг друга со скоростью М . Иэмере864104 формула изобретения Заказ 7771/6Подписное ВНИИП Тираж ние сигнала производится измерителем9 амплитуды, в качестве которого может быть использован, например, импульсный вольтметр.Способ осуществляется следующимобразом. 5Преобразователь-градиентометр 3перемещают относительно поверхности4 с минимальным зазором Ф до техпор, пока не будет обнаружен дефект5. При этом база а должна быть минимальной и соответствовать зазоруФ,После обнаружения дефекта 5 устанавливают зонд с большим зазором уа полуэонды 1 и 2 с большей базойа;, соответствующей этому зазору,...

Номер патента: 938123

Опубликовано: 23.06.1982

Авторы: Горбатов, Сидорова, Трахтенберг, Шкатов

МПК: G01N 27/90

Метки: глубины, дефектов, объектов, протяженных, электромагнитный, электропроводящих

...сигналов, регулируют амплитуду по меньшей мере одного изпропускаемых через объект токовдо равенства сравниваемых амплитудсигналов, измеряют амплитуды токов,пропускаемых через контролируемыйобъект, и по ним определяют глубину.дефекта,При этом глубину дефекта определяют по отношению амплитуд токов,пропускаемых через контролируемыйобъект, либо по разности амплитудтоков, пропускаемых через контролируемый объект, нормированной по амплитуде одного из этих токов.На фиг. 1 представлено распределение плотностей токов двух частотв толщине контролируемого объекта;на фиг, 2 - график зависимости отношения токов, пропускаемых по объекту, от глубины дефекта.Кривая 1 соответствует распределению плотности тока ) по толщинеконтролируемого объекта в,...