Способ определения глубины поверхностных дефектов ферромагнитных изделий

Союз Советскик Соцналистическии Республнк(22) Заявлено 130879 (21) 2810726/25-28с присоединением заявки Йо(51)М. Кл.д 6 01 й 27/87 Государственный комитет СССР по дедам изобретений н открытий(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙИзобретение относится к неразрущающему контролю качества поверхнос ти Ферромагнитных иэделий и может использоваться для дефектоскопии иэделий в металлургии и машиностроении.Известен способ обнаружения дефектов поверхности, заключающийся в том, что поверхность изделия сканируют феррозондом-градиентометром 11.Однако известный способ не позволяет судить с достаточной точностью о глубине дефекта по амплитуде сигнала.Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ определения глубины поверхностных дефектов ферромагнитных изделий, заключающийся в том, что измерение нормальной составляющей магнитного потока рассеяния дефекта производят сканирующим преобразователем-градиентометром с изменяющейся базой между полузондами, по величине сигнала которого определяют глубину дефекта 2.Недостатком данного способа явля" ется его низкая точность при выявлении дефектов раэличной глубины.Цель изобретения - повышение точ.юсти определения. Указанная цель достигается тем, что измерение нормальной составляю-, щей поля рассеяния производят нес" колько раз, изменяя при каждом последующем измерении зазор между контролируемой поверхностью и преобразователем-градиентометром, начиная с минимального, базу между полуэондами преобразователя на каждом уровне иэ" мерения устанавливают пропорциональной зазору, а о глубине дефекта судят по сигналу градиентометра, нахо" дящегося иа ближайшем к контролируемой поверхности уровне и работающего на линейном участке характеристики.На чертеже представлена стРуктуР" ная схема устройства, Реализующего его предлагаемый способ.Полузонды 1 и 2 преобраэователяградиентометра 3 располагаются над контролируемой поверхностью 4 с дефектом 5. Полуэонды 1 и 2 подключены к блоку 6 обработки сигналов, выход которого соединен со входом амплитудного дискриминатора 7 с индикатором 8. Контролируемая поверхность 4 и преобразователь-градиентометр 3 перемещаются относительно друг друга со скоростью М . Иэмере864104 формула изобретения Заказ 7771/6Подписное ВНИИП Тираж ние сигнала производится измерителем9 амплитуды, в качестве которого может быть использован, например, импульсный вольтметр.Способ осуществляется следующимобразом. 5Преобразователь-градиентометр 3перемещают относительно поверхности4 с минимальным зазором Ф до техпор, пока не будет обнаружен дефект5. При этом база а должна быть минимальной и соответствовать зазоруФ,После обнаружения дефекта 5 устанавливают зонд с большим зазором уа полуэонды 1 и 2 с большей базойа;, соответствующей этому зазору, ипроизводят повторное перемещение 15зонда над дефектом 5.Если при этом амплитудный дискриминатор 7, порог срабатывания которого установлен раным или близкимверхнему значению линейного участка 20характеристики используемых полузондов 1 и 2, срабатывает, то зонд устанавливают с большим зазором о.,увеличивая соответственно и базуа;, Зонд перемещают над дефектом соскоростью М ; Если амплитудный дискриминатор 7 вновь срабатывает, тоопять увеличивают зазор д, и базу а.Увеличение зазора СР; и базы д производят до тех пор, пока при перемещениизонда над дефектом 5 амплитудныйдискриминатор перестанет срабатывать.На данном зазоре Ю и при соответст 1вующей этому зазору базен; проиэвоцят измерение величины амлитуды измерителем 9, по величине сигнала которого судят о глубине дефекта,Предлагаемый способ позволяет повысить точность определения глубины поверхностных дефектов как малой,так и большой глубины, обеспечивает воэможность более точно производить обработку изделий, определять их ремонтопригодность и условия ремонта. Способ определения глубины поверхностных дефектов ферромагнитныхиэделий, заключающийся в том, чтоизмерение нормальной составляющеймагнитного потока рассеяния дефектапроизводят сканирующим преобразователем-градиентометром с изменяющейся базой между полуэондами, по величине сигнала которого определяютглубину дефекта, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышенияточности определения, измерение нормальной составляющей поля рассеянияпроизводят несколько раз, изменяяпри каждом последующем измерении зазор между контролируемой поверхностьюи преобразователем-градиентометрЬм,начиная с минимального, базу междуполузондами преобразователя на каждом уровне измерения устанавливаютпропорциональной зазору, а о глубине дефекта судят по сигналу градиентометра, находящегося на ближайшемк контролируемой поверхности уровнеи работающего на линейном участкехарактеристики.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, "Дефектоскопия" 1968, Р 1,с.602. Авторское свидетельство СССРР 578611, кл. 6 01 Ч 27/86, 1974