Способ определения глубины залегания дефектов в телах вращения

)5 С 01 В 23/1 ГОСУДАРСТВЕННЫЙПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ ИПРИ ПЮТ СССР МИТЕТТНРЫТИЯМ НИ ПИСАНИ АВТОРСКОМУ БР ДЕТЕЛЬСТВУ(21) 252855 (22) 30.09. (46) 1502. (72) А.В.Гр К,П.Орлов и (53) 621.38 (56) Румянц рентгено- и М., Атомизд ния фич таграфия ме- М, "МеталЕНИЯ ГЛУТЕЛАХ ВРА росвечивании щего излучего изображеом случае г тся из. след где адефектника и делия 91. Бюл, В 6ачев, А.Н.Майоров,В,И,Петухов6(088.8)ев С,В. и др. Справочнгамма-дефектоскопистаат, 1969, с.192. ЪУманский Я.С, Рентген таллов и полупроводников лургия", 1969, с.467. (54)(57) 1,. СПОСОБ ОПРЕДЕ БИНЫ ЗйЕГАНИЯ ДЕФЕКТОВ ЩЕНИЯ, заключающийся в п изделия потоком проникаю ния и регистрации тенево Из бретение относится к радиационной дефектоскопии, а именно к радиографическому методу контроля и можетбыть использовано для определения глубины залегания дефектов в трубах,стержневых изделиях, отливках цилиндрической формы и т.д.Известен способ определения глубины дефектов с помощью эталонов.При этом необходимо использоватьнабор эталонов разной толщины,Наиболее близким техническим решением является способ определения глубины залегания дефектов, заключающийся в просвечивании изделия потокомпроникающего излучения и регистрациитеневого изображения на неподвижнуюпленку. изделия на неподвижную радиограескую пленку, о т л и ч а ю щ и й - с я тем, что, с целью экономии пленки и упрощения обработки резуль тов, в течение экспозиции иэделие поворачивают вокруг его оси на 360 , ао глубину залегания дефекта определяют на снимке как расстояние от границы изображения изделия до границ. полосы изображения дефекта.2. Способ по п.1, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что глубину залегания дефектов, расположенных в одной плоскости, перпендикулярной оси изделия, определяют как расстояние от границы изображения изделия до границ изменения оптической плотности полосы изображения дефектов,В эт лубина залегания определяе ующего соотношения: Х - С,Ь+авеличина смещения изображенияа; Ь - величина смешения источзлучения; С - расстояние от издо детектора; Р - расстояние от источника излучения до детектораНедостатком этого метода является большой объем вспомогательных операций, включающий в себя два просвечивания со смещением источника излучения, Измерение величин, входящих вформулу, и расчет по этой формуле.Кроме того этот метод приводит к увеличению расхода радиографической пленки.Цель изобретения - экономия радио- графической пленки и упрощение обработки результатов.Поставленная цель достигается тем, что изделие в течение. экспозиции поворачивают вокруг собственной оси на 360 ф. В результате вращения иэделия дефекты перемещаются относительно радиографической пленки, вследствие чего их изображения на снимке принимают вид полос. В этом случае глубина залегания дефектов соответствут расстоянию от границы изображения изделия до границы вышеописанной полосы.Изображения дефектов, расположенных в одной плоскости, перпендикулярной оси вращения иэделия, будут представлять собой наложение полос, отличающихся друг от друга оптической плотностью. В этом случае глубиной залегания является расстояние от границы изображения изделия до границ . изменения оптической плотности, 25 На фиг.1 изображена схема образования изображения дефектов; на фиг. 2 - схема образованияизображения дефектов, лежащих в одной плоскости, перпендикулярной оси вращения изделия.Дляэ определения глубины залегания дефектог. при просвечивании изделие 1 поворачивают, вокруг собственной оси с помощью электромехапического привода на 360Зону просвечивания, шириной равнИ радиусу изделий и заключенную между двумя параллельными плоскостями, проходящими через образующую изделия 1 40 и ось его вращения, ограничивают или коллимацией излучения, или шириной,радиографической пленки 2,Во время поворота изделия 1 дефекты 3 .перемещаются относительнонеподвижной радиографической пленки 2и на снимке приобретают вид полос 4.Измеряя иа радиографическом снимкерасстояние Ь от,границы изображенияизделия до иэображения дефектов в виде полос 4, определяют глубину залегания дефектов,Если дефекты 3 расположены в однойплоскости, перпендикулярной оси вращения иэделия 1, то их изображениянакладываются друг на друга и приобретают вид полосы 5 с изменяющейся оптической плотностью. В этом случаеглубину залегания дефектов определяютизмерением расстояния Ь от границыизображения изделия до границ изменения оптической плотности 6 полосы.В случае определения глубины залегания дефектов в изделиях, представляющих собой полые тела вращения, размер снимка можно сократить до толщины стенки изделия, что приведет ксокращению расхода радиографическойпленки во столько раз, во сколькодиаметризделия больше толщины егостенки.Способ сокращает объем вспомогательных операций, таких как перемещение источника излучения, замена радиографической пленки, измерение величин, входящих в формулу для определе-ния глубины залегания дефектов, расчет по этой формуле,и сводится лишьк измерению непосредственно глубинызалегания дефекта на радиографическом енимке.678945 едактор И,Ленина Техред Л.Олийнык сг Корректор С.Шек аж 39 одписное зводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 Заказ ВНИИПИ осударственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5