Способ определения температурного коэффициента стабилизации напряжения полупроводниковых

Номер патента: 541157

Опубликовано: 30.12.1976

Авторы: Кобзев, Шадрин

МПК: G05F 1/20

Метки: нагрузке

...противо-э.д.с. сети.Напряжение на нагрузке в каждый пз полупериодов складывается из двух зон - зоны рекуперации и зоны потребления энергии нз сети. Относительная продолжительность ука занных зон не влияет на форму выходного на541157 оставитель Д. ФуфлыгинТекред А. Камышникова корректор О, Тюрина актор И. аказ 288514ЦНИИПИ Изд. Ло 1894 Государственного комитет по делам изобретени 5 13035, Москва, 7 К, РауТираж 1029Совета Министрови открытийшская наб., д. 4/5 Поди испоСР ппография, пр. Сапунова, 2 пряжения. И хотя при изменении характера нагрузки продолжительность зон меняется, это не вызывает изменения формы кривой выходного напряжения, поскольку в интервалах обеих зон нагрузка подключена к сети. Следовательно, к нагрузке прикладывается...

Номер патента: 1100587

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Бумарин, Егоренков, Покровский

МПК: G01R 31/26

Метки: коэффициента, полупроводниковых, стабилизации, стабилитронов, температурного

...достигается тем,что согласно способу определениятемпературного коэфФициента напряжения стабилизации полупроводниковЫх 50стабилитронов, включающему измерениенапряжения стабилизации при нормальной температуре, дополнительно измеряют при нормальной температуре емкость запертого р-и-перехода стабилитрона в предпробойной области и определяют температурный коэффициент .напряжения стабилизации стабилитрона по модели связи с напряжениемстабилизации и емкоСтью запертого 60 р-и-перехода при нормальной температуре.Способ осуществляется следующим образом.Предварительно в достаточно большой группе (объемом 100-200 штук) однотипных стабилитронов (статистически значимой выборке) у каждого стабилитрона измеряют три характеристики:Х, - напряжение...

Номер патента: 114493

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Бунин, Калинин

МПК: G01R 31/24, H01J 9/42

Метки: клистронов, коэффициента, отражательных, температурного, частоты

...следующим образом,Уход частоты генерации клистрона, обусловленный тепловой деформацией его деталей, обеспечивается не изменением температуры окружаюшей среды, я изменением среднего тока клистрона модуляцией его злее;тронееого потока импульсами по катоду или резоетятору путем еезмепения напряжения уровня между импульсами, В этом случае сумма напряжения уровня между импульсами и напряжения импульса должна быть равна напряжению режима непрерывного генерирования и рассчитана на данный клистрон.Длительность импульсов модуляции, определяемая расчетным путем и проверенная экспериментально, равна 8 - 10 лсек, например, для клистрона типа К. Блок-схема установки для измерения ТКЧ импульсным методом представлена на чертеже, Здесь: 1 -...

Номер патента: 1536982

Опубликовано: 28.02.1994

Авторы: Гук, Зубрилов, Котин, Шуман

МПК: G01R 31/26

Метки: диодов, коэффициентом, лавинного, однородности, положительным, пробоя, температурным

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОДНОРОДНОСТИ ЛАВИННОГО ПРОБОЯ ДИОДОВ С ПОЛОЖИТЕЛЬНЫМ ТЕМПЕРАТУРНЫМ КОЭФФИЦИЕНТОМ НАПРЯЖЕНИЯ, включающий пропускание через диод импульсов обратного тока, отличающийся тем, что, с целью устранения разрушения прибора в процессе измерений, на диод подают последовательно два одиночных прямоугольных импульса обратного тока равной длительности с различными амплитудами со средней плотностью тока в импульсе не менее 20 А/см2, измеряют напряжения на диоде в конце каждого импульса тока, определяют по ним дифференциальное сопротивление диода, при этом длительность импульсов обратного тока выбирают в пределах 2 10-6c

Номер патента: 1626225

Опубликовано: 07.02.1991

Авторы: Гонов, Куракина, Образцов, Сергиенко

МПК: G01R 31/28

Метки: полупроводниковых, приборов, стабильности, температурной

...фактора, Обьем обучающей выборки М определяется нэ основаниитеоремы Бернули о достаточно большихчслах, Для доверительной вероятностиР=0,95 и относительной ошибки 0,1,К=96,Далее составляется план температурного эксперимента. Г 1 ри этом число температурных точек в зэданногл диапазонедолжо бть не гле е трех, Снимается зависигость пр гно руеглого параметра Унот т 1 РГа т,Г ,Для+ ения е да оператора ,1) порезул, обу люпего эксперимента использ, , регГ. ссвьй анализ, Эта процед;рз ,лзнает следующие этапы: выборвида г г гаи еской глодели (1); определение независимых коэффициентов этой модели; проверка значимости коэффициентови адекгэтности модели, Оценки коэффициентов уравнения регресгии определяют методом наименьших кл;,дратов.Подбор...