Способ обработки асферических поверхностей изделия цилиндрическим инструментом

Номер патента: 49275

Опубликовано: 31.08.1936

Автор: Нефедов

МПК: F16C 17/10, G01B 11/26, G01B 9/04

Метки: воспринимаемой, вращения, нагрузки, наклона, оси, подшипниках, радиально-упорных, угла, шариками

...и с нажимом повертывается несколько раз; затем шарики вынимаются и наружное кольцо с полученной риской устанавливается под объектив микроскопа на подвижную площадку 5 (фиг, 1, пунктир) таким образом, чтобы исследуемый элемент 11 поверхности дорожки катания находился внизу, как раз на оси вращения.Приспособление для измерения угла наклона к оси вращения нагрузки, воспринимаемой шариками, состоит из укрепленного на плите 1 диска 2 и соединенного с ним поворотного диска 3 с делениями на торцевой поверхности на 360; на диске 3 находится подвижная площадка 4, перпендикулярно к которой укреплена вторая подвижная площадка 5 с Ч-образным выступом, по диагонали которого расположен вырез 13, сделанный в площадке 5; на стойке б укреплена труба...

Номер патента: 911143

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Зверев, Орлов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, плоских, поверхностей, формы, шлифованных

...из него пучка лучей принимает значение, равное интенсивности зеркальной составляющей (изменение ин-, тенсивности происходит эа счет изменения коэффициентов отражения зеркал отражателя 5, обусловленного изменением углов падения на них пуч ка лучей при повороте отражателя 5).Предлагаемое устройство позволяет также оценить и среднюю высоту микронеровностей 1 Ср контролируемой 20 поверхности 9. Для этого пучок лучей, поступающий в отражатель 5, перекрывают непрозрачным экраном (экран показан пунктиром), а платФорму 7 поворачивают в положение,при 25 котором интенсивность. зеркальной составляющей близка к нуле, Затем измеряют угол 1 о падения пучка лучей на контролируемую поверхность 9, а величину средней высоты иикронеров ностей Ьср...

Номер патента: 1024706

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Контиевский, Липовецкий, Хуснутдинов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/04

Метки: асферических, поверхностей, прибор, формы

...10, Компенсатор 15 можетбыть выполнен, например, в виде линзы, перемещаемой перпендикулярно оптической оси 00, микрометренным вин.том.Функцию проекционной системы выполняют следующйе детали автоколлимационного микроскопа 7: источник 8 излучения, конденсатор 9, марка 10, светоделитель 11 и объектив 12, Функцию оптической системы измерения направления отражаемых контролируемой поверхностью, лучей выполняют (по хо3 102ду отражаемых контролируемой поверхностью 3 лучей) объектив. 12, светоделитель 11, компенсатор 15, сетка 13и окуляр 14.Автоколлимационный микроскоп 7установлен с возможностью перемещениявдоль его оптической оси 00 подополнительной направляющей 6, скоторой жестко связана диафрагма 16.Центр диафрагмы 16 совмещен с опти" .ческой...

Номер патента: 1219256

Опубликовано: 23.03.1986

Авторы: Клещев, Моргулис, Парфенов, Сирота, Щелкунов

МПК: B23B 1/00

Метки: компенсации, некруглым, обработке, погрешностей, поперечным, сечением, токарной, формы

...расположения большойили малой оси овала на обработанномЗО поршне,Для того, чтобы в контролируемой1-ой точке длина радиуса-вектора соответствовала А, необходимо изменить масштаб копирования в соответствии с соотношением:1219256 35 с + б -(К,-) КкЬт) а Ссор с у =(А, , -А,) - первоначальнополученное умень.шение длины радиуса-вектораконтролируемойточки по сравнению с большойполуосью вала.Соотношение (1) отражает тот факт, что с учетом систематических погрешностей обработки при копировании величина изменения (приращения) длины радиуса-вектора контролируемой точки относительно большой оси овала обратно пропорциональна применяемому масштабу копирования (при одном и том же изменении длины соответствующих точек копира).Для вычисления...

Номер патента: 1211602

Опубликовано: 15.02.1986

Авторы: Крыжановский, Шилов

МПК: G01B 21/00

Метки: формы

...токового сигнала, относительно которого поддерживается уровень сигнала, поступающего с выхода усилителя 9 (постоянного тока), вход которого подключен к выходу фотоприемника 8.Датчик 11 размера контролируемого изделия служит в качестве аналогового вычислительного устройства для получения сигнала, пропорционального величине деформации изделия 22. Датчик 11 выполнен в виде реостата (реохорда), механически связанного с светоделительными элементами 3 и 4 таким образом, что скользящий контакт и реохорд датчика 1 соответственно соединены с элементами 3 и 4, при плоскопараллельном перемещении которых изменяется сопротивление выхода реостатного датчика пропорционально расстоянию между оптическими осями элементов 3 и 4.Делитель 14...