Трансформатор с разрезным ленточным магнитопроводом

Номер патента: 1693484

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Данилов, Тарасенко

МПК: G01N 21/45

Метки: воспроизводимой, движущейся, двух, канале, поверхности, раздела, сред, формы

...2 зп а 4 = пст зп а 5;пзп а 5 = пв зп аб;да =ав - а,где пв,пта, п 1, п 2 - показатели преломлениясоответственно воздуха, стенок канала, среды перед поверхностью раздела и среды заповерхностью раздела;а, а 2, аз, а, а 5, аб - угл ы наклонапучка к плоскости поперечного сечения среды в канале соответственно в воздухе допрохождения через исследуемые среды иканал в ближней к источнику излучениястенке канала, в среде 1 до пересечения споверхностью раздела, в среде 2 после пересечения с поверхностью раздела, в дальней от источника излучения стенке канала,в воздухе после прохождения через канал иисследуемые среды,Решая эту систему для всех возможныхр при заданных и и а, получают зависимость Р ( ф углового отклонения луча д аот угла грот...

Номер патента: 746232

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Пуряев, Шандин

МПК: G01M 11/00

Метки: апертурой, астрономических, зеркал, компенсатор, крупных, нулевой, поверхности, телескопов, формы

...отражающей поверх.ности зеркала его теоретической форме. Подавляющее большинство компенсаторов имеют конечную апертуру, т.е. преобразуют сферический волновой фронт в асферический. Применение таких компенсаторов в интерферометрах требует использования либо объектива, создающего сферический волновой фронт, либо разделительного кубика, установленного в сходя щемся пучке лучей. Эти дополнительные элементы (объектив или кубик) вносят погрешности в результаты контроля, снижают его надежнбсть и точность.30 6;, -ч рдена Трудового Красн Ъ чилище им,Н.Э,Баумана746232 Формула изобретения Составитель В.ВанторинРедактор Е.Братчикова Техрец б. Андрейко ректор М,Вигул ак ПП "Патент", г,ужгород, ул.Проектная,4 ил мениска, причем оба мениска...

Номер патента: 935704

Опубликовано: 15.06.1982

Авторы: Горшков, Кряхтунов, Лозбенев, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометре, крупногабаритных, лазерном, неравноплечем, оптических, поверхности, формы

...покрытие), нанесенной на одну из поверхностей линз корректора (вид А наФиг. 1); на фиг. 3 , 4, 5 - изменение величины локальной деформацииволнового фронта при прохождении имрабочей ветви установки, схема которой приведена на фиг. 1,Способ реализуется следующимобразом.Создают от лазерного источникасвета с помощью оптических элемен"тов 2 интерферометра опорный (нафиг, 1 не показан)и сферическийволновой фронт 3, Преобразуют последний с помощью корректора 4 волновогофронта в асферический волновой фронт 5,форма которого, совпадает с теоретической формой контролируемой поверхности 6. При прохождении волнового фронта через оптическую систему корректора 4 его локально деформируют с помощью оптической фазовой неоднородности 7,...

Номер патента: 938008

Опубликовано: 23.06.1982

Авторы: Казак, Чебакова

МПК: G01B 11/25, G01B 9/021

Метки: детали, отклонения, поверхности, формы

...точек в заданном сечении поверхности, ню при условии обязательного определения расстояч ф ния от точечных источников до даннои точки контролируемой поверхности 23 .Однако такое определение требует привлечения специальных методов и приспособлений для измерения расстояний между точками. Кроме того, оп- в ределение расстояния от ъочечных источников до базовых точек детали, всегда осуществляется с некоторой погрешностью, равной сумме погрешности собственно измерения расстоя- ы ния и погрешности задания базовых точек. Это обстоятельство снижает точность контроля отклонения Формы 4детали, Необходимость определениярасстояния от точечных источников добазовых точек также снижает производительность контроля отклоненияФормы.Низкие точность и...

Номер патента: 1610248

Опубликовано: 30.11.1990

Авторы: Горшков, Лазарева, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, поверхности, сферических, формы

...линзовой системы в сторону контролируемой детали 13 обращают ту из эталонных поверхностей,радиус кривизны которой ближе по значению к радиусу кривизны контролируемой поверхности. В процессе работы интерферометра на эталонную и контролируемую поверхности должно обеспечиваться нормальное падение лучей, Афокальный компенсатор и линзовая система сообща преобразуют гомоцентрический пучок, выходящий из обьектива 7, в гомоцентрический пучок, вершина которого совмещена с точками С и Ск, где располагаются центры кривизны эталонной и контролируемой поверхностей 12 и 13 соответственно. Рабочая интерференционная картина образуется в результате взаимодействия волновых фронтов, отраженных от поверхностей 13 и 12, причем поверхность 12 выполняет...