Способ определения степени эритемы

Номер патента: 1528436

Авторы: Елин, Кочетков, Курсевич, Простатинов

Формула

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ЭРИТЕМЫ путем освещения поверхности кожи источником света, измерения величины отраженного света I_i на длинах волны в области полосы поглощения гемоглобина и за ее пределами с последующим логарифмированием величины I_i и вычислением степени эритемы С по формуле, отличающийся тем, что, с целью повышения точности способа, величину отраженного света дополнительно измеряют на длине волны 590 нм и более, вычисляют показатель пигментных изменений К, а показатель степени эритемы С находят по формуле

где - показатель степени пигментных изменений;
I₁ - величина отраженного света на длине волны в области поглощения гемоглобина;
I₂ и I₃ - величина отраженного света на длинах волн 590 нм и более;
K_i (i = 1,2,3) - коэффициент поглощения биологического пигмента на i-й длине волны.

Описание

Изобретение относится к медицине, в частности к измерению физиологических параметров организма человека, используемых в диагностике и для оценки индивидуальной реакции организма на внешние воздействия.
Цель изобретения - повышение точности определения степени эритемы.
Согласно способу измерения степени эритемы, включающему в себя операции освещения поверхности источником излучения, измерения отраженного света на длинах волн в области полосы поглощения гемоглобина (I₁) и вне ее (I₂) с последующим логарифмированием этих величин и нахождением разности lgI₂-lgI₁, измеряют отраженный свет дополнительно еще на одной длине волны в области вне полосы поглощения гемоглобина (I₃), показатель степени загара (пигментных изменений) К находится по формуле
К=I₃/I₁, а показатель степени эритемы С - по формуле
C= lg

K где К_i(i=1, 2, 3) - коэффициент поглощения меланина или другого биологического пигмента на i-й длине волны.
Способ осуществляют следующим образом. Поверхность кожи освещают источником излучения (например, галогеновой лампой КГМН 6, 3х1,5). Отраженное излучение измеряют на трех длинах волн. Длины волн выбирают, пользуясь спектральными характеристиками коэффициентов поглощения гемоглобина и меланина. Для удобства длины волн можно выбрать так, чтобы величина

= 1 . В данном случае

=0,54 мкм (К₁=0,22),

=0,66 мкм (К₂=0,12),

=0,95 мкм (К₃= 0,02). Отраженное излучение на этих длинах волн выделяют, например, с помощью интерференционных фильтров, а в качестве фотоприемников используют фотодиоды (например ФД10) или другие фотодатчики. Используя далее стандартные логарифмические усилители и алгебраические сумматоры, получают искомую величину показателя степени эритемы
C= lg

и величину показателя степени пигментных изменений или в данном случае загара
K=lg

В таблице приведены сравнительные данные величин отраженного света I_i (i= 1, 2, 3), измеренных на разных участках кожи человека. Свет, отраженный от белого матового эталона (BaSO₄) на каждой длине волны принимают за единицу.
По измеренным величинам света определяют значения степени эритемы по предлагаемому способу (С) и согласно прототипу (С _прот). Как видно из таблицы, С_прот может отличаться почти в 2 раза (0,110 и 0,192) только из-за влияния пигментного фона. Предлагаемый способ определения степени эритемы позволяет устранить это влияние и повысить точность.
Изобретение относится к медицине, в частности к измерению физиологических параметров организма человека, используемых в диагностике и для оценки индивидуальной реакции организма на внешние воздействия. Цель изобретения - повышение точности определения степени эритемы. Способ заключается в измерении отраженного от поверхности кожи света. Новым является измерение отраженного света еще на одной длине волны, величина степени эритемы находится по формуле

где

- показатель степени пигментных изменений; I₁ - величина отраженного света на длине волны в области полосы поглощения гемоглобина; I₂,I₃ - величина отраженного света на длинах волн в области, большей чем 590 нм; K_i(i=1,2,3) - коэффициент поглощения биологического пигмента на i-й длине волны.

Рисунки

Заявка

4274862/14, 02.07.1987

Краснодарское отделение с опытным производством Всесоюзного научно-исследовательского института источников тока

Елин Ю. М, Курсевич П. А, Простатинов К. А, Кочетков Ю. В

МПК / Метки

МПК: A61B 5/00

Метки: степени, эритемы

Опубликовано: 09.02.1995

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1528436-sposob-opredeleniya-stepeni-ehritemy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения степени эритемы</a>

Похожие патенты

Открытый резонатор для миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов длин волн

Номер патента: 293502

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Булыгин, Виноградов, Гугель, Днанов, Ирисова

МПК: H01S 3/02

Метки: волн, диапазонов, длин, миллиметрового, открытый, резонатор, субмиллиметрового

...в эгом диапазоне длн волн (измерение величщы фазовых сдвигов и степени прозрачности твердых образцов из различных веществ) предусмотрена раздвижная рамка, позволяющая помещать исследуемые образцы внутри резонатора.Раздвижная рамка может быть расположена в л 1 обой точке внутри резонатора, может вращаться вокруг двух взаимно перпендикулярных осей. В ней могут закрепляться образцы различных геометрических размеров.На фиг. 1 представлен открытый резонатор типа интерферометра Фабри-Перо; на фиг. 2 - съемный держатель образцов.Резонатор состоит из двух отражателей: переднего 1 и заднего 2, которые закреплены в оправах 3 при помощи постоянных магнитов 4.В качестве переднего отражателя применяется сетчатый элемент; в качестве заднего...

Способ определения поглощения сейсмических волн

Номер патента: 355588

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Кривин, Рогоцкий, Чиркин

МПК: G01V 1/36

Метки: волн, поглощения, сейсмических

...горизонта. Однако амплитуда и величины спектра отдельных импульсов-отражений зависят от многих изменяющихся факторов. Основными источниками искажений явля-. ются интерференция отражений от близкорааположенных границ и наложение различных волн-помех,Известен также способ определения поглощения сейсмических волн, при котором в достаточной степени исключаются искажающие факторы. Поглощение определяется по отношению энергетических спектров двух временных интервалов сейсмограммы, больших чем длительность отдельных отражений, Однако процесс обработки по этому способу сложен.Целью изобретения является повышение точности, упрощение процесса обработки и повышение ее надежности,Поставленная цель достигается благодарятому, что поглощение...

Интерферометр, репесматриваемый по длине волны

Номер патента: 471634

Опубликовано: 25.05.1975

Авторы: Воробьев, Крушеницкий, Федорцев

МПК: H01S 3/08

Метки: волны, длине, интерферометр, репесматриваемый

...параллельна поверхности пластины. При этом хотя бы одна из областей пластины легируется донорной примесью до такой степени, что в Диэлектрическая проницаемость полупника в определяется по формулам; в . - высокочастотная диэлектрическая проницаемость полупроводника в отсутствие свободных носителей тока;е - заряд электрона;Р - концентрация свободных электронов в и-материале и дырок в р-материале;аказ 999,"1421ЦНИИПИ Изд Лв 8 осуда рственногого делам изоМосква, Ж-З 5,Тираж 833омитета Совета Минисетений и открытийаушская наб., д. 4/5 ПодписноеСССР Тип. Харьк. фил Патент(,о - длина волны инфракрасногосвета;иг" (и - эффективные массы электрои рнов и дырок;С - скорость света.В области объемного заряда р - п перехода диэлектрическая...

Способ определения длины волны светофильтра

Номер патента: 549686

Опубликовано: 05.03.1977

Авторы: Седов, Урыский

МПК: G01J 3/28

Метки: волны, длины, светофильтра

...не позво- б ь характеристики светофильтдиапазоне длин волн,ель достигается те через образец све ляризуют, направля ю пленку, нанесенну ю подложку, и по и яризованного свет льтра.изменяются, Эти изменеомошью анализатора 6 определяют топриемника Измерение пара пленки на кремниев эллипсометра ведут и Я . Для этого с кают через два све метров диэлектрической ой подложке с помощью на двух длинах волн А вет от источника пропустофильтра 2 с известной неизвестной ; находят инои волны 1 и го света, Ь и орые на номограм преломления и фа ам ва етры поляриздля Л и Л2мостей показтолшины пле к зави овой ки от параметров поляри(с Ь) представле(фиг. 2). Найден- и 1 и 2 соответстров пленки П Р 1 длин волк Л и Лна одном участке зованного света: 1ны...

Способ калибровки шкалы длин волн сканирующего интерферометра

Номер патента: 634092

Опубликовано: 25.11.1978

Авторы: Голобородько, Шульман

МПК: G01B 9/02

Метки: волн, длин, интерферометра, калибровки, сканирующего, шкалы

...необходимо делать очень большим. Целью изобретения является повышение точности калибровки и расширение области применения способа.Это достигается тем, что дополнительную интерференционную картину создают путем ввода контрольного светового луча между зеркалами калибруе634092 Формула изобретения Иссре 3 уеный сигнал Звйиньи сиен Фиг. гСоставитель Л.ЛобзоваТехред З.Фанта КОрректор Е.Пап ародная едакто П овета Моткрыти кая наб Тираж 830 нного комитетаам изобретений ква, Ж, Рауш писное истров аказ б 747/37 ЦНИИПИ Государств по дел 113035, Мод.4/5 Филиал ППП фПатентфф, г.ужгород, ул, Проектная,мого интерферометра и получения многократного отражения этого луча.На фиг.1 изображена оптическая схема, реализующая предлагаемый способ; на фиг.2...

Предыдущий патент: Способ испытания изделия на герметичность

Следующий патент: Производные бензимидатиазолинокарбоцианинов в качестве спектральных сенсибилизаторов галогенсеребряных фотографических эмульсий к зоне спектра от 460 до 550 нм с максимумом сенсибилизации 510 520 нм.

Случайный патент: Подъемные ворота

В верх страницы