Способ исследования свойств покрытия и основного материала

Номер патента: 1360365

Автор: Зайцева

Формула

СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СВОЙСТВ ПОКРЫТИЯ И ОСНОВНОГО МАТЕРИАЛА, по которому на образец основного материала наносят покрытие или подслой и покрытие, затем испытывают образец с покрытием и наблюдают структуры материалов образца, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности исследования за счет одновременного наблюдения в сечении покрытия и основного материала, используют образец основного материала переменной толщины с нанесенным покрытием, изменяют профиль сечения образца снятием части покрытия и основного материала до образования среза, содержащего как покрытие, так и основной материал, выполняют микрошлиф среза и на нем осуществляют наблюдения структур материалов образца.

Описание

Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов и может быть использовано для исследования свойств покрытия и основного материала.
Целью изобретения является повышение информативности исследования за счет одновременного испытания и наблюдения структур материала покрытия и основного материала в любом профиле контактной поверхности в образце.
На фиг. 1 изображено поперечное сечение образца с продольным углублением; на фиг. 2 то же, с нанесенным покрытием; на фиг. 3 то же, после профилирования; на фиг. 4 образец переменного поперечного сечения с продольным выступом; на фиг. 5 то же, с нанесенным покрытием; на фиг. 6 то же, после профилирования; на фиг. 7 основа образца с поперечным углублением; на фиг. 8 то же, с нанесенным покрытием; на фиг. 9 то же, после профилирования; на фиг. 10 образец с поперечным выступом; на фиг. 11 то же, с нанесенным покрытием; на фиг. 12 после профилирования; на фиг. 13 образец с поперечным сечением в форме прямоугольной трапеции; на фиг. 14 то же, с нанесенным покрытием; на фиг.15 то же, после профилирования.
Способ осуществляют следующим образом.
Используют образец 1 основного материала с переменным поперечным 2 или продольным 3 профилем в сечении, на который наносят покрытие 4. В качестве промежуточной подложки между основным материалом и покрытием может использоваться подслой для нанесения покрытия. Подслой (подложка) не показан.
Затем изменяют профиль сечения с нанесенным покрытием снятием, например шлифованием части слоя покрытия и основного материала до образования среза, содержащего прямое и косое сечения 5 и 6 и основной материал 1. Выполняют микрошлиф среза. Таким образом, профилированием образца достигают повышения информативности о структурах материала покрытия и основного материала.
Образец с покрытием испытывают и наблюдают на срезе структуры материала покрытия и основного материала и определяют их свойства и качество. Наблюдение среза возможно с кино- или фотофиксированием или с видеомагнитофонной записью качества структур покрытия и основного материала.
Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для исследования свойств покрытия и основного материала. С целью повышения информативности исследования за счет одновременного наблюдения сечения покрытия и основного материала используют образец 1 основного материала, поперечное или продольное сечение которого имеет переменную толщину. После нанесения слоя покрытия 4 профилируют сечение образца снятием части слоя покрытия и основного материала до образования среза, содержащего покрытие и основной материал. При испытании образца осуществляют наблюдение структуры этих материалов. Это позволяет оценить свойства и покрытия, и основного материала, установить зависимость свойств обоих, оценить качество технологии нанесенного покрытия. 15 ил.

Рисунки

Заявка

3905479/28, 05.06.1985

Зайцева Н. П

МПК / Метки

МПК: G01N 3/00

Метки: исследования, основного, покрытия, свойств

Опубликовано: 20.07.1995

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1360365-sposob-issledovaniya-svojjstv-pokrytiya-i-osnovnogo-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования свойств покрытия и основного материала</a>

Похожие патенты