Устройство для исследования поверхности планет солнечной системы
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1307735
Автор: Камышный
Описание
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что заостренные опоры с одной стороны пластины выполнены короче, чем заостренные опоры с другой стороны пластины.
3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оно снабжено жесткой рамкой, поджимающей термобиметаллическую пластину.
Заявка
3918236/23, 28.06.1985
Камышный М. А
МПК / Метки
МПК: B64G 1/16
Метки: исследования, планет, поверхности, системы, солнечной
Опубликовано: 27.05.2002
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1307735-ustrojjstvo-dlya-issledovaniya-poverkhnosti-planet-solnechnojj-sistemy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для исследования поверхности планет солнечной системы</a>
Предыдущий патент: Способ выращивания монокристаллов на основе окиси алюминия газопламенным методом
Следующий патент: Устройство для определения положения линии горизонта в полете
Случайный патент: Реагент для флотации угля