Способ изготовления образцов для использования структуры твердых тел
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1119535
Авторы: Астахов, Герасименко, Ивахнишин
Описание
Заявка
3601915/25, 07.06.1983
Институт физики полупроводников СО АН СССР, Новосибирский государственный университет
Астахов В. М, Ивахнишин В. М, Герасименко Н. Н
МПК / Метки
МПК: H01L 21/302
Метки: использования, образцов, структуры, твердых, тел
Опубликовано: 10.11.1999
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1119535-sposob-izgotovleniya-obrazcov-dlya-ispolzovaniya-struktury-tverdykh-tel.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления образцов для использования структуры твердых тел</a>
Предыдущий патент: Способ измерения толщины тонких окисных пленок
Следующий патент: Полупроводниковый прибор
Случайный патент: Способ измерения уровня жидкости