Типисев
Туннельный микроскоп
Номер патента: 1721662
Опубликовано: 23.03.1992
Авторы: Голубок, Давыдов, Тимофеев, Типисев
МПК: H01J 37/285
Метки: микроскоп, туннельный
...импульсов, стержень 5, зафиксированный силой трения с помощью упругого элемента 6 в направляющей втулке 7, При этом внешний пьезоэлемент 2 закреплен на переходной детали 8, установленной на основании 9, на котором закреплены держатель 10 с образцом 11.Устройство работает следующим образом.Внутренний пьезоэлемент 1 в начальном положении находится на расстоянии от держателя 0,110 мм, что позволяет производить как смену образца, так и его исследование другими методами. При подаче на электроды внешнего пьезоэлемента 2 импульсов от источника 4 в соответствии с фронтом импульса происходит медленное или быстрое изменение его длины. Когда значение сиды инерции превышает силу1721662 Формула изобретения Составитель В,Гаврюшинедактор А,Зробок...
Сканирующий туннельный микроскоп
Номер патента: 1705915
Опубликовано: 15.01.1992
Авторы: Гастев, Голубок, Грохольский, Давыдов, Тимофеев, Типисев
МПК: H01J 37/285
Метки: микроскоп, сканирующий, туннельный
...молеку;1 ярН 031 ЭЬ 1 КТРГ Н 1 КИ.Цель ц.обретия - 1101311.егце на- ДЕЗЛЗОЬ Тц Р,.ОТ 1:33 ГЕТ УМЕНЬИС 11 ЦЯ 13 ЧЦЧ 1 Л. 1 ЕРЛ:10:1 РНОСТ 5; ПЕР, 350И 1 . ИОД 3115,:11,х :3 ст. ик 5 оскопл.Ва т 5 р-Пр; о ГЛ 1 Л СХЕМ 1.РУ; Г, 1, ы 33,5 Р,НРЭко 1,1":111 .ОРл,15,015 1 с 1 лЙчцм ост,. но рас 13 олояен 11,Л пьезомаипулятор сострием, закреппенньп 1 на основании,и устройстпо подвода оразца, ьсдер 5 ящее дер 5 татель образа, установлен 11 ыйи удержцвя емьй при.тимямР 1 в на.Рав яющей, Под дерРхяте 31 ем на ос 110 пл 131 ц размещен ПОДВР 1 кп;в 1 упорньй 1 элем,.нт, ягпереме 1;ения которого не превосходитШЯ 1 Я ПЕРЕ 1 ЕГЕН 11 Я ДЕРлат(ЛЯ.5 ГОР 1 ЬПэлемет мОхе 1 б 1 1 ть Вьн 0 Лен 5 1 еа 11 римерВ 13 иде к 13 нл а Исремееис дергл 3 елавнерх...
Устройство для создания туннельного контакта
Номер патента: 1585847
Опубликовано: 15.08.1990
Авторы: Галль, Голубок, Давыдов, Типисев
МПК: H01L 21/28
Метки: контакта, создания, туннельного
...предлагае еремещении подвижной части 5 регулировки силы относительно етали 3, протяженный упругий (струна), закрепленный обоими д подвижной части и огибающий дним участком базовую деталь 3т деформацию сжатия - растяжечиваясь или удлиняясь, при этом т изменение его поперечногоразмера на всей его длине, в частности на среднем участке, поверхность которого, противоположная опорной, расположена напротив поверхности базовой детали. Вследствие изменения поперечного разме ра струны изменяется зазор между этими поверхностями.Предлагаемое устройство повышает виброустойчивость за счет уменьшения размеров частей упругих элементов, подвер женных действием вибраций до 0,2 мм (в известном устройстве диаметр мембран 2 - 3 мм), и за...
Пьезоэлектрическое устройство перемещения
Номер патента: 1541741
Опубликовано: 07.02.1990
Авторы: Голубок, Давыдов, Тимофеев, Типисев
МПК: H01L 41/09, H02N 2/04
Метки: перемещения, пьезоэлектрическое
...вызванная ускорением перемещаемого центра масс, превышает силу трения покоя, и опоры сдвиГаются относительно основания в направлении действия этой силы,Измерения направления движенияосуществляется путем изменения полярНости пилообразного напряжения, подаваемого на электроды пьезоэлемента,цополиительные массы необходимы дляувеличения доли силы инерции в сравнении с силой трения, В предлагаемомустройстве величина силы трения определяется массой всего устройства, а .величина силы инерции лишь массойпьезоэлемента, так как массы опор недают вклада в эту силу. Для увеличения этой силы к точке пьезоэлементас максимальной амплитудой смещенияжестко закрепляют дополнительнуюмассу.Варианты устройства на двух и натрех опооах (Фиг. 1 и 2)...
Туннельный микроскоп
Номер патента: 1520609
Опубликовано: 07.11.1989
Авторы: Войтенко, Голубок, Давыдов, Тимофеев, Типисев
МПК: H01J 37/285
Метки: микроскоп, туннельный
...кг;8 - ускорение свободного падения, м/сВнутренний пьезоэлемент 1 имеет разрезной электрод для управления сканированием острия по трем координатам, а к электродам внешнего пьезоэлемента 2 подключен выход источника 7 пилообразного напряжения с несимметричными фронтами импульсов.Микроскоп работает следующим образом.При подаче пилообразного напряжения от источника 7 на электроды внешнего пьезоэлемента 2 он изменяет свою длину медленно при пологом фронте импульса и быстро при крутом фронте импульса. При медленном изменении длины корпус 5 не сдвигается отно сительно основания 4. При резком изменении длины сила инерции превышает силу трения, корпус 5 проскальзывает относительно основания Послетого, как острие 3, закрепленноена узле...
Способ регулирования зазора между двумя поверхностями проводящих электродов
Номер патента: 1499321
Опубликовано: 07.08.1989
Авторы: Галль, Голубок, Давыдов, Типисев
МПК: G05D 3/00
Метки: двумя, зазора, между, поверхностями, проводящих, электродов
...положения двух поверхностей и может быть использовано дляобразования малых диэлектрическихз аз оров для создания туннельногоконтакта между двумя проводящимиэлектродами, Цель изобретения - повышение надежности, Сущность способа заключается в том, что при приложении растягивающих усилий к упругому элементу последний удлиняется,толщина его уменьшается, а следовательно, уменьшается зазор между первым и вторым проводящими электродами, 2 ил. реплены на основании пор поверхность 4, винт 5,Сущность способа заключается в том, что при приложении растягивающих усилий к упругому элементу 2 ледний удлиняется, толщина его у шается, а следовательно, уменьша з аз ор между пер вым 1 и вт оры м 2 пр оводящими электродами. При необходимости...