Лаанеотс
Мера толщины пленок
Номер патента: 1004748
Опубликовано: 15.03.1983
Автор: Лаанеотс
МПК: G01B 7/06
...основной паз, дно 4 которого удалено отверхней поВеркности подложки 1 навеличину Ь, равную требуемой толщинепленки 3. Пленка 3 ;,аполняет основной паз так, что ее верхняя поверх- ЗО ность совпадает с верхней поверхно1004748 Формула, изобретения Составитель А, Черны)Техред Е,Харитончик Корректор Н, Корол едактор Н. Горвааказ 1850/49 Тираж 600 Подпис ноеПИ Государственного комитета СССРо делам изобретений,и открытийМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 ВН 1303 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная 4 стью подложки 1, Кроме того, наповерхности подложки 1 выполнен второй паз, пересекакщийся с основным,прй этом дно 5 второго пазаудаленоот верхней поверхности подложки 1 навеличину Ь + Ь , равную требуемойсуммарной толщийе пленки 3 и...
Способ испытания материалов на износ и устройство для его осуществления
Номер патента: 998921
Опубликовано: 23.02.1983
Авторы: Аяотс, Лаанеотс, Тамре
МПК: G01N 3/56
...ванночкой для изо лирующей среды и размещенным междудном ванночки и пластиной ртутным шариком,На чертеже представлено устройство для испытания материалов на износ. ОУстройство для испытания материаловна износ содержит основание 1, держатель 2 образца 3, держатель 4 контртела 5, узел нагружения (не показан),средства 6 измерения износа, например 15микроскоп. Устройство снабжено рамкой 7, прозрачной пластиной 8, ванночкой 9 для изолирующей среды (например, воды), ртутным шариком 10.Перемещение ванночки 9 в направлении пластины 8 осуществляется с помощью винта 11 и гайки 12.Способ испытания материалов наизнос с помощью предлагаемого устройства осуществляется следующим образом.Образец 3 закрепляется в держателе 2, в контакт с образцом 3...
Мера толщины пленок
Номер патента: 993007
Опубликовано: 30.01.1983
Автор: Лаанеотс
МПК: G01B 7/06
...2 для настройки на ноль толщиномеров (не показаны) и . пленку 3, нанесенную на подложку993007 Формула изобретения д фие. Е НИИПИ Заказ 439/5 ираж 600 Подписно Фие Г На верхней поверхности подложки 1 выполнен паз, дно 4 которого удалено от верхней поверхности подложки 1 на величину И , равную требуемой .толщине пленки Епокрытия) 3Пленка 3 заполняет паз так, что 5 ее верхняя поверхность совпадает с верхней поверхностью подложки 1.Мера толщины пленок снабжена основанием 5 с пазом 6, в который запрессована подложка 1, выполненная из 10 элементов Е не обозначены) разных материалов.Прочие размеры меры определяются исходя из размеров измерительных головок толщиномеров, а также от раэ новидностей применяемых материалов для изготовления...
Устройство для испытания образцов материалов на изнашивание
Номер патента: 947702
Опубликовано: 30.07.1982
Авторы: Аяотс, Лаанеотс, Лээс, Саар
МПК: G01N 3/56
Метки: изнашивание, испытания, образцов
...приводного винта 20Перемецение стойки 18 измеряется с помощью измерительной головки 21, закрепленной на направляюцих 19, Для фокусирования микроскопа 16 на метке - индикаторе 8 износа . служит приводной винт 22, перемещающий стойку 18 вертикально по направляющим 23. Для освещения индикатора износа служит стробоскоп 24.20Устройство работает следующим образом.Образцы 6 из исследуемых материалов крепятся винтами 7 в держателях5, На внутренней поверхности барабана 2 крепится кольцеобразный элемент 15. Производится юстировка блока бесконтактного измерения линейного износа, для чего микроскоп 16 фокусируется на индикатор 8 износа верх него держателя 5 так, чтобы в фокальной плоскости микроскопа остался.индикатор износа следующего...
Мера толщины пленок
Номер патента: 813129
Опубликовано: 15.03.1981
Автор: Лаанеотс
МПК: G01B 7/06
...паз,а верхняя поверхность пленки совпадает с верхней поверхностью подложки.На чертеже изображена мера толщины пленок.Она содержит. подложку 1, на верхней поверхности которой имеется участок 2 для настройки на ноль толщино меров. На этой же поверхности подложкивыполнены паз, дно 3 которого удаленоот верхней поверхности на величину Ь,равную требуемой толщине пленки. Пленка 4 заполняет паэ так, что ее верхняя 15 поверхность совпадает с верхней поверхностью подложки 1. Прочие размерымеры определяются исходя из размеровизмерительных головок толщиномеров.При изготовлении мер верхнюю по верхность подложки 1 и дно 3 паза доводят до высокого класса шероховатости, что позволяет с высокой точностьюаттестовать его глубину, например...
Способ поверки толщиномеров неметаллических покрытий
Номер патента: 754200
Опубликовано: 07.08.1980
Автор: Лаанеотс
МПК: G01B 7/06
Метки: неметаллических, поверки, покрытий, толщиномеров
...- ими.аром толщины покрытия.На чертеже представлено устройство, осушестгяюшсе предложенный способ поверки.Устройство содержит подложку 1 с углубнием, запогвяемым жидкостью - имитато.м 2 покрытия. Измерительный наконечникповеряемого толшиномера 4, например вихтокового, размешен на штативе 5. Образцо.й прибор 6 устанавливаьгт на обшей изметельной оси с измерительным наконечникомповеряемого толшиномера.Подложка 1 закреплена на измерительном:ких покрытий осуществляется следуюшимэазом.В углубление подложкиналивают жид.сть - имитатор 2 покрытия (лак, краску,чо и др,), толшина которых подлежит4 ереиию поверяемым толшиномером.После этого измерительный наконечник 3теряемого толшиномера 4 приводят в сопри:новение с дном подложки 1,...