H01J 49/44 — спектрометры по энергии, например альфа-, бета-спектрометры

Номер патента: 1661872

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Вологиров, Слепцов, Сухов

МПК: H01J 49/44

Метки: анализа, ионов, потока, распределения, состава, энергиям

...анализатор, который настроен на максимальное пропускание ионов именно с энергией к = е 0 (для квадрупольного массспектрометра оптимальное значение е 0 = 50 эВ), и далее через анализатор масс спектрометра (который настроен на даннуюмассу а). Все остальные ионы, прошедшие через трубку в первую часть периода 1 (когда на ней был потенциал О,мп), будут иметь энергию, отличную от е 0, и. следовательно, не пройдут через энергоанализатор. В ту.з з часть периода 1 г, когда на трубке поддерживается нулевой потенциал, на диафрагме- электроде поддерживается постоянный положительный потенциал 016 /2 е, что преграждает путь в указанный период 5 ионам с энергией е = 80 (т,е. тем ионам, что могли бы пройти через энергоанализатор и далее). Ионы,...

Номер патента: 1704192

Опубликовано: 07.01.1992

Авторы: Баранова, Дьякова, Микушкин, Шнитов, Явор

МПК: H01J 49/44, H01J 49/48

Метки: заряженных, зеркального, типа, частиц, электростатический, энергоанализатор

...и детектора выбираются так, чтобы скомпенсировать увеличивающее аберрацион 1704192ное расширение изображения, Из (2) и (5) для суммарной кривизны внутренних краев в плоскости дисперсии имеемВеличина коэффициентов Су иСх определяется формой электродов анализатора, Второй член в скобках в формуле (7) может быть больше или меньше единицы, вследствие чего выражение в скобках может быть как положительным, так и отрицательным. Таким образом, кривизна внутренних краев щелей детектора и источника также может быть разного знака. При положительном знаке каждая щель имеет форму серпа, края которого имеют различные радиусы кривизны, но центры кривизны лежат по одну сторону от щели. При отрицательном знаке каждая щель имеет форму чечевицы и...

Номер патента: 1707652

Опубликовано: 23.01.1992

Авторы: Белесев, Гераскин, Голубев, Казаченко, Кузнецов, Лобашев, Овчинников, Парфенов, Секачев, Солодухин, Спивак, Титов

МПК: H01J 49/44

Метки: интегральный, спектра, частиц, электростатический, энергетического

...плоскости спектрометра направлены параллельно оси спектрометра, так же, как и сигоеые линии электрического поля, Одноерел 1 енное с выстраиванием торможение электронов распределенным электрическим полем, создаваемым потенциальными электродами 8-10, позволяет сократить длину, на которой происходит выстраивание импульсов электронов, Для электрического поля неоднородность в медианной плоскости составляет -1 ц отн.ед,-6Максимальный угол между импульсом частицы и магнитной силовой линией, а следовательно, и электрической силовой линией в медианной плоскости, составляет%вкс . ( - гт - ) . Энергия, связанная в попоперечной компонентной импульса в меди- анной плоскости определяют абсолютное энергетическое разрешение спектрометра. После...

Номер патента: 1714720

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Саченко, Явор

МПК: H01J 49/44

Метки: секторного, электростатического, энергоанализатора, юстировки

...Ч) в направлении дальнейшего увеличения ионного тока до достижения его максимального значения.Эффективность изобретения иллюстрируется на примере цилиндрического энергоанализатора. Влияние на. траектории частиц равных по величине и противоположных по знаку потенциалов +Щ подан-. ных с дополнительного источника питания на ограничивающие пластины А и В идеального (без дефектов изготовления) энерго- анализатора (фиг.1), состоит в следующем. При любом значении Я значение потенциала на оси пучка остается неизменным, ось пучка при прохождении черездефлектор не смещается и фокусное расстояние его остается прежним, Однако две частицы, летящие по траекториям 1 и 2, расположенным по разные стороны от средней плоскости Я=О,при попадании в...

Номер патента: 1725290

Опубликовано: 07.04.1992

Авторы: Саченко, Шиморин

МПК: H01J 49/30, H01J 49/44

Метки: анализа, двух, заряженных, направлениях, ортогональных, спектрометрического, фокусировкой, частиц

...формуле (1), на Фиг.2 - устройство, реализующее предлагаемый способ, где с - схема рас 25 Анализируемый пучок заряженныхчастиц направляют в аксиально-сим"метричное магнитное поле с напряженностью (1) Пучок диафрагмируетсяпо ширине щелью 2 (фиг,2), установЗ 0 ленной в магнитном поле на рассто"янии г от оси симметрии, и коллимируется щелью по угловому разбросу таким образом, чтобы оптическая ось 4 составляла с окружностью г = г угол, определяемый соотношением (2) . Двигаясь в магнитном поле с напряженностью (1),моноимпульсный пучок заряженных частиц фокусируется в средней плоско сти в некоторой точке на осевойтраектории. При этом имеет местоФокусировка как в радиальном, таки в аксиальном направлениях, причем указанная объемная фокусировка...

Номер патента: 1795526

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Гольдин, Попов

МПК: H01J 49/44

Метки: излучения, линейного, плотности, потока, распределения, частиц

...совокупности координатно-чувствительных фотоэлектрических преобразователей, причем начало и конец смежных по отношению к измеряемому распределению фотоприемников лежат в плоскости перпендикулярной плоскости зеркал.Сущность изобретения поясняется фиг,2 (применительно к измерению одномерного распределения).Устройство (фиг,2) содержит детектор- преобразователь плотности измеряемого потока )= у (х) в подобное распределение яркости оптического изображения Е= р(х), включающий в себя микроканальную пла 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 стину 1 и катодолюминофср 2, нанесенныина волоконно-оптическую пластину 3. Выходная поверхность пластины 3 расположена в предметной плоскости ХОУ объектива4, Между детектором-преобразователем иобьективом...

Номер патента: 1826089

Опубликовано: 07.07.1993

Автор: Якушев

МПК: H01J 49/44

Метки: анализатор, заряженных, частиц, электростатический, энергий

...2 подвижно вдоль оси с помощьюштока 9, полый цилиндр 10, закрепленныйна пластине 11. Торцы цилиндров 8 и 10ограничивают образуемую между нимикольцевую щель 12 выходной диафрагмы.Общая ось электродной системы анализатора -13.Пластина 11 скреплена со штоком 14,служащим совместно с коромыслом 15 ддяперемещения цилиндров 8, 10 вдоль оси 13.На чертежах показаны также крайниетраектории заряженных частиц, определяющие входной конический пучок.50 55 В подобных анализаторах при уменьшении или увеличении щели выходной диафрагмы, соответствующем изменению полезного сигнала, происходит соответственно изменение фона, образующегося, например, эа счет паразитной вторичной эмиссии с электродов анализатора. В результате достигаются . высокие значения...

Номер патента: 1116928

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Дементьев, Кузнецов, Лукстиньш, Матюшевский, Матюшин, Нургожин, Саитов, Стекольщиков

МПК: G01T 5/12, H01J 49/44

Метки: магнитный, спектрометр

1. МАГНИТНЫЙ СПЕКТРОМЕТР, включающий анализирующий магнит с герметизированной шахтой в ярме и одном из полюсных наконечников, фоторегистрирующую аппаратуру и стримерную камеру в экранирующем кожухе, герметично зажатую между полюсными наконечниками с помощью упругого силового элемента одностороннего действия, отличающийся тем, что, с целью улучшения детектирующих свойств и повышения эффективности спектрометра путем расширения диапазона давлений рабочего газа в камере, сокращения расхода рабочего газа и ускорения ввода камеры в рабочий режим предварительным вакуумированием ее объема, экранирующий кожух выполнен герметичным, содержащим вакуумно-прочные переднюю и заднюю крышки и упругий силовой каркас, включающий жесткие раму и плиту,...

Номер патента: 1220506

Опубликовано: 27.07.1996

Авторы: Галль, Сачечко

МПК: H01J 49/26, H01J 49/44

Метки: анализа, энерго-масс-спектрального

1. Способ энерго-масс-спектрального анализа, заключающийся в ионизации вещества, формировании короткого во времени пакета ионов заданной энергии, разделении его по массам и энергии и детектировании энергетических и массовых спектров, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности по массам и по энергии, увеличения быстродействия, чувствительности и точности анализа, увеличения диапазона масс исследуемых ионов, расширения областей применения, упрощения технической реализации, разделенный по массе в пространстве дрейфа пакет ионов вводят в тормозящее электростатическое поле через время мкс,где