Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией

Номер патента: 127054

Авторы: Архипов, Желудов, Киселев

ZIP архив

Текст

.АЗССР ИСАНИЕ АВТОРСКОМ ОБРЕТЕНИЯВИДЕТЕЛЬСТВУ В, М. Архипов, Б, А. ПЕКТРОМЕТР-И НТЕРФЕ АМ ПЛ ИТУДНОлудов и Б. А. Киселев Л ЕКТИ ВНЕй МЕТР СМОДУЛЯ аявлено 10 августа 1959 г. за636035/26 в Комитет по делам изобретени 1 и открытий при Совете Министров СССР зобретений6 за 1960 г Опубликовано в Бюллетен Известен спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией, выполненный по схеме интерферометра с одной плоской диффракционной решеткой и симметричным профилем штриха, Сканирование спектра в этом приборе осуществляется поворотом концевых зеркал в противоположных направлениях. Селективная модуля. ция производится, например, поступательным движением одного из этих зеркал в направлении, перпендикулярном плоскости зеркала. Такое осуществление сканирования и модуляции затруднено сложностью согласования поворотов зеркал,В описываемом приборе указанный недостаток устранен тем, что что сканирование спектра производится двумя зеркалами, которые жестко закреплены на общем основании и поворачиваются вокруг обшец оси вращения. Это полностью исключает ошибки в углах поворота каждого из зеркал. Для модуляции используют третье зеркало, которое расположено перпендикулярно или параллельно плоскости диффракционной решетки.На фиг. 1 изображена схема спектрометра-интерферометра, в котором модуляционное зеркало расположено параллельно диффрак. ционной решетке; на фиг. 2 - то же, перпендикулярно диффракционной решетке,В обеих схемах пучок параллельных лучей падает на диффракционную решетку 1 перпендикулярно. При этом интерферируют между собой пучки правых и левых порядков. Автоколлимационные зеркала 2 и 3, с помощью которых сканируют спектр, жестко закреплены на общем основании и поворачиваются вокруг общей оси вращения 4, что полностью исключает ошибки в углах поворота каждого из зеркал. Зеркало 5 служит для осуществления модуляции и установлено параллельно 1 фиг. 1) или перпендикулярно (фиг. 2) плоскости диффракционной решетки 1,Предмет изобретения 4 иг. 1 Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРдактор Н. С, Кутафина Гр. М п. к печ. 10,111.60 г. Цена 25 кои, ий отдел. Зак, 2316 Информационно.издатОбъем 0,17 и. л Тираж СССР тений и открытиа, Петровка, 14,Типография Комитета о делам изоби Совете Минис Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией, выполненный по схеме интерферометра с одной диффракционной решеткой с симметричным профилем штрихов, отличающийся тем, что, с целью облегчения сканирования спектра, автоколлимационные зеркала крепятся на общем основании и на общей оси вращения; при этом для модуляции используется дополнительное зеркало, распо. ложенное параллельно или перпендикулярно плоскости диффракционной решетки.

Смотреть

Заявка

636035, 10.08.1959

Архипов В. М, Желудов Б. А, Киселев Б. А

МПК / Метки

МПК: G01J 3/18, G02B 9/02, G02F 1/21

Метки: амплитудной, модуляцией, селективной, спектрометр-интерферометр

Опубликовано: 01.01.1960

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-127054-spektrometr-interferometr-s-selektivnojj-amplitudnojj-modulyaciejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией</a>

Похожие патенты