Способ интерференционной амплитудно модуляции h3js учения аш1йо-тш: -бнблиоте;:

О П И С А Н И Е 3294 О 9 Союз Советсиигг Социапистицескиз Республин.Ч, Кл. 6 011 3 08 1 риоритет гтомитет оо дела аоОретениЯ и открытиори Совете МиннстроеСССР УД 1 535,853,3(088.8 535.853.4 (088.8 убликовано 09.11.1972, Бюллетень М 7 Дата опубликования описания 28.111.1972 авторыизобретения Н. Чико. Тарас Заявите,нинградскии институт т а:еханики и оптики ТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ АМПЛИМОДУЛЯ ЦИ И г 1331 У- ЕН ИЯ Н ПОСО ктраль- приме- интсрной моотносится к ооласти сп роения и может найт аботке спектрометров селективной амплит хода межд меняется н 2 Дг ракцпонные картины от и учков лучей тождественны,путь левого пучка непрпри повороте решетки,равого и леоднако оптперывно измспоэтому пвн го чсскнг0гнется Изобретение е ного приборост и нение при разр с ференцион ной уд дуляцией,Известен способ интерференционной модуляции, заключающийся в изменении разности хода при прецизионном возвратно-поступателыюм перемещении дифракционной решетки в одной из ветвей интерферометра, в то время как сканирование спектра осуществляется одновременным поворотом на одинаковые углы дифракционных решеток в обеих ветвях интерферометра.Предложенный способ отличается от известного гем, что, с целью повышения качества модуляции, два когерентных световых пучка, на которые делят параллельный световой пучок, разносят по поверхности плоской дифракционной решетки в направлении дисперсии, затем поворотом дифракционной решетки вокруг оси, проходящей через место падения одного из пучков на решетку, производят сканирование спектра и одновременно с этим постепенное изменение величины оптического пути второго светового пучка, Отраженные от дифракционной решетки световые пучки сводят в один для получения интерференции. Поскольку по мере поворота решетки разность хода этих пучков меняется, при их интерференции осуществляется интерференгционная амплитудная модуляция.Способ поясняется фиг. 1 - 3.Дпфракционная решетка занимает положе ние автоколлимации (см. фиг. 1) при однократной дифракции световых пучков (1. - длина нарезанной части решетки, поперек ступенек, О - ось вращения решетки). Приращение разности хода между крайними лу чамп каждого интерферирующего пучка, равное 7 получают при сканировании спектра на всличнну Б. (соответствующую переходу от главного максимума до первого минимума дифракционной полосы). При этом, если 15 крайний слева луч правого пучка, отстоящийот оси О на расстоянии гг,илг, получил прирагцение 7. при повороте решетки, то крайний слева луч левого пучка получит приращение Л- 7 Отсюда следует, что при сканировании ггспектра на величину О разностьгинтсрферирующимп пучками пз и вслнчинусведении этих двух пучков в один и интерференции их при непрерывно меняющес разности хода происходит пнтерференцпонная амплитудная модуляция.Способ можно осуществить в с:сктрометрах, схематически показашых па фиг. 2, 3.На фш. 2,а представлена оптическая схема спектрометра с однократной дпфракцисй.Параллельный пучок лучей, падающих на плоскопараллельную пластинку-светоделитель 1 делится на два когерентных пучка, один из которых после пентагопальпого отражателя 2 дифрагирует на плоской дифракционпой редетке 3, а затем возвращается о первоначальному пути на светоделитель 1. Отразившись от светоделителя, пучок соединяется и интерферирует с другим световым пучком, прошедшим через плоскопараллельную пластинку компенсатора 4, претерпевшим дифракцию на решетке 3 и возвратившимся на светоделитель 1 прежним путем. Селективность интерференции обусловливается протпвополож ной ориентацией спектров, полученных в результате однократной дифракции каждого пучка. При этом вблизи оптической оси прибора после светоделителя 1 происходит наложение (интерференция) лучей только определенной длины волны, зависящей от установки решетки 3,Спектр сканируется поворотом дифракционной решетки вокруг оси Б, селектпвно интерферирующее излучение модулируется в результате изменения разности хода при этомповороте,На фиг. 2,б показан спектрометр с двумя идентичными дифракционными решетками(жестко закреплепп:и на оощей плате с це,ьо более полного использования их рабочих поверхностей).На фиг. З,а изображена оптическая схемаспектрометра, в котором осуществляется двух - кратная дифракция. Спектрометр состоит из плоскопараллельной пластинки-светоделителя 1, пептагонального отражателя 2, плоского зеркала б, закрепленного жестко на общем со 10 светоделителем основании, плоской дифракциопной решетки 3 и плоского автоколлимационного зеркала 7. Работает этот спектрометр аналогично спектрометру с однократной дифракцией.15 Спектрометр, осуществляющий двухкратпую дифракцию, мокет содержать две идентичные дифракционные решетки (жестко закрепленные на общей плите) с целью более полного использования их рабочих поверх ностей. Предмет пзооретепияСпособ интерференционной амплитудной 25 модуляции излучения, отличающийся тем, что,с целью повышения качества модуляции, параллельный световой пучок делят на два когерентных, распространяющихся параллельно друг другу световых пучка, направляют 30 оба пучка на два расположенных у противополокных краев дифракционной решетки учасгка, отражешые от дифракционной ршетки световые пучки сводят в один для получения интерференции, а дифракционную 35 решетку поворачивают относительно оси, проходящей через один из ее краев.329409 аг Уиг г Составитель Е Техред 3. насье ктор Т. Орловска Корректор А. Василье ранен шография, пр. Сапунов Заказ 742/5 Изд.211 Тираж 448 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров ССС 1Москва, Ж, Раушская наб., д. 4,5