G01N 23/205 — дифракционными камерами

Рентгеновский дифрактометр

Загрузка...

Номер патента: 500495

Опубликовано: 25.01.1976

Автор: Захаров

МПК: G01N 23/205

Метки: дифрактометр, рентгеновский

...служащих для исследования материаловв широком интервале температур, содержащих рентгеновскую трубку, узел детектораи кристаллодержатель, вращаются образеци детектор рентгеновских лучей, а рентгеновская трубка неподвижно закреплена, чтозатрудняет создание высокого вакуума вкамере, нужных температурных условий и.установку образца в камере,Рентгеновский дифрактометр с вертикальбочей плоскостью позволяет провосследования на образцах, расположен- й 5ных исследуемой поверхностью относительноГгоризонтальной плоскости неподвижно, что ,обеспечивается счнхронным вращением рент:геновской трубки и детектора вокруг гариэонтальной. оси, лежащей в плоскости обраэ 1ца; позволяет обеспечищать в камере высо "кий вакуум, благодаря возможности...

Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру

Загрузка...

Номер патента: 502299

Опубликовано: 05.02.1976

Авторы: Епифанов, Завилинский, Исьянов, Петьков

МПК: G01N 23/205

Метки: высокотемпературная, дифрактометру, камера-приставка, рентгеновскому

...9. Редуктор обеспечивает регулирование скорости вращения в интервале 20 - 120 об/мин: механически - в двух диапазонах дискретно, электрически - плавно в пределах каждого диапазона изменением напряжения на электродвигателе,Образец 5 и образец-свидетель 10 помещены в термостатирующий экран 11. Образец- свидетель 10 расположен неподвижно над образцом 5 и соединен с блоком верхних торцовых экранов тремя винтами. Спай термопары 12 укреплен в контактном прижиме у поверхности образца-свидетеля в месте максимального приближения его к образцу 5. Перфорированный цилиндрический нагреватель 13, изготовленный из вольфрама, своей рабочей зо.ной расположен внутри образцов 5 и 10.Основание камеры через фланцевые разъемы соединяется с корпусом 14...

Способ рентгенографического определения макронапряжений

Загрузка...

Номер патента: 624150

Опубликовано: 15.09.1978

Автор: Мясников

МПК: G01N 23/205

Метки: макронапряжений, рентгенографического

...регистрацию, по крайней мере, при наклонной съемке производят с помощью диафрагмы, например секторной, которую последовательнорасполагают в двух, разнесенных на 180,положениях, которые пересекаются плоскостью, перпендикулярной к оси наклонаобразца и содержащей первичный пучок.Сущность изобретения поясняет чер.теж,Держатель образца 1 может поворачиваться относительно оси 2, На коллнматорепервичного пучка 3 установлена кассета 4для рентгеновской пленки с секторным экраном 5 и приводом 6 вращения кассеты.Между кассетой 4 н держателем образца 1размещен дополнительный экран 7 с секторным вырезом, который может заниматьлибо полажение А, либо положение В. Уголпри вершине сектора не превышает 20 - -30.Первичный пучок падает на...

Способ измерения напряжений

Загрузка...

Номер патента: 737818

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Дерявко, Ланин

МПК: G01N 23/205

Метки: напряжений

...отражениями отплоскостей ВИ ), расположенных.подуглами 9,Ч: 2 (90 ф - 6, ) к поверхности образца, а на правой стороне - линии, образованные отражениямиот плоскостей 1 И ), расположенных под углами Ч: 0 и Ч " 4(90 в 8), Таким образом, интерференционные линии на левой стороне пленки будут служить своеобразными реперными линиями для учета изменения расстояния образец-пленка прн наклоне обраэца на новый угол. Действительно, если расстояние В остается неизменнымпри обоих углах наклона, то смещение линий относительно друг друга на левой стороне рентгенограммы будет от- сутствовать (т.е, о = О) и тогда величину и знай напряжений можно определить по смещению положения линийдруг относительно друга на правой стороне, рентгенограммы, Если же...

Камера для рентгеноструктурного анализа кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 741123

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Колеров, Логвинов, Скрябин, Юшин

МПК: G01N 23/205

Метки: анализа, камера, кристаллов, рентгеноструктурного

...и хотя бы в одном из торцов скобы выполнены резьбовые отверстия для крепления технологической пластины,На фиг. 1 показана предложенная камера, осевой разрез; на фиг. 2 - держатель образца; .на фиг. 3 - камера, поперечный разрез; на фиг. 4 -держатель сменных диафрагм. оКамера состоит из разъемного цилиндрического корпуса 1, верхней 2 и нижней 3 крышек, между которыми установлен держатель 4 сменных диафрагм 5. Держатель выполнен в виде пластины со сквоз ным продольным пазом и выемкой для держателя 6 образца, Последний представляет собой С-образную скобу, торцы которой могут быть образованы съемными накладками 7. Плоская внутренняя поверхность 20 накладок служит для поджатия рабочей поверхности образца прижимным винтом 8. Держатель 6...

Способ исследования структурного совершенства пьезоэлектрических монокристаллов

Загрузка...

Номер патента: 935759

Опубликовано: 15.06.1982

Авторы: Адамян, Безирганян, Заргарян

МПК: G01N 23/205

Метки: исследования, монокристаллов, пьезоэлектрических, совершенства, структурного

...топограмму получают в условиях воздействия на исследуемый монокристалл постоянного электростатического поля.На чертеже показана схема получения рентгеновской топограммы методомЛанга..Рентгеновский пучок 1, прошедшийчерез коллимирующие щели 2, падает35под брегговским углом на исследуемый пьезоэлектрический монокристалл3 с косым срезом, помещенный междупрозрачными для рентгеновского излу 40чения обкладками конденсатора 4, накоторые подается постоянное напряжение от источника (не показан), Прошедший через коллимационную щель 5,задерживающую также первичный пучок1, дифрагированный пучок 6 рентгенов 45ского излучения попадает на рентгеновскую пленку 7 Монокристалл 3 ипленка 7 во время съемки топограммысовершают...

Узел образца высокотемпературной вакуумной рентгеновской камеры

Загрузка...

Номер патента: 1043536

Опубликовано: 23.09.1983

Авторы: Гавриш, Шах

МПК: G01N 23/205

Метки: вакуумной, высокотемпературной, камеры, образца, рентгеновской, узел

...рентгеновской съемки (изменяетсяинтенсивность и положение диффракционныхмаксимумов), изменяется взаимное положениеобразца и сная термопары, что вносит дополнительную погрешность в измерения.Целью изобретения является повышение точности рентгеновских исследований за счет компенсации ухода плоскости образца, а также увеличе.ния точности измерения его температуры,Поставленная цель достигается тем, что в уз.ле высокотемпературной вакуумной рентгенов.ской камеры, содержащем керамический стер.жень с внутренними продольными каналами, дер.жатель образца и термоиару, держатель образца 45снабжен крепежными шпильками, выполненнымииэ такого материала, что разность коэффициентов термического расширения этого материалаи керамического стержня...

Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру

Загрузка...

Номер патента: 1075128

Опубликовано: 23.02.1984

Авторы: Богун, Горбачева, Петьков, Подорожный, Поленур

МПК: G01N 23/205

Метки: высокотемпературная, дифрактометру, камера-приставка, рентгеновскому

...ру в образце-свидетеле выполнены ля 14 в месте их максимального призамкнутые полости, равномерно распреближения к образцу 7. Нагреватель 18 деленные по его периметру, заполнен- в Форме цилиндра, изготовленный из ные веществами с известными темпера- вольфрама, помещен внутри образцов турами плавления, в которые введены 7 и 14 и совместно с экранами 19 рабочие спаи дифференциальной термо- создает вокруг них термостатируемый пары. 50 объем. Сменный нагреватель можетНа чертеже схематически показана быть изготовлен также из проволоки конструкция высокотемпературной каме- в форме 0 -образной дуги. ры-приставки к рентгеновскому дифрак" Основание камеры 1 соединено с тометру. корпусом 20 токовводов через метал 55 лическое уплотнение 21. На...