G01K 11/30 — с использованием измерения действия материала на рентгеновское излучение, гамма-излучение или корпускулярное излучение

Номер патента: 160339

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01K 11/00, G01K 11/30

Метки: 160339

...по сравнению с обычным объем кристаллической решетки (3/). Расширение облучаемого алмазаоможет быть снято его отжигом. Определение значений расширения производят рентгенографически.Если облученный алмаз используют для контроля температуры при длительном време. ни нагрева, то для разных температур берут Ь Ккривую зависимости от времени. В этом случае облученный алмаз после выдерживания при неизвестной температуре подвергают рентгенографированию. По полученному значению расширения и времени нагрева при неизвестной температуре определяют контролируемую температуру.Если облученный алмаз используют в недлительных экспериментах (от 3 час до нескольких минут), то после выдерживания при неизвестной температуре его подвергают серии...

Номер патента: 176442

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Веневцев, Висков, Изобретешш, Плотникова, Шпинель

МПК: G01K 11/30

Метки: температуры

...таких веществ с аномальной зависимостью поглощения (или рассеяния) от температуры, находящихся в тепловом контакте с исследуемым объемом, в области фазового перехода может быть использована для измеоения температуры.В способс определения температур, являющемся предметом данного изобретения, предложено использовать ряд резонансных датчиков температуры, состоящих из веществ, областп фазовы) переходов которых перекрываютвесь требуемый диапазон измерения температуры.На чертеже показан графики5 поглощения Ео от температурыдатчиков.Измеряя показания различных датчиков,определяют наиболее высокотемпературныйобразец, еще обнаруживающий резонансный10 эффект, и по величине Ео в соответствии сградуцровочной кривой определяют температуру.С помощью...

Номер патента: 177118

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Любченко, Царина, Шерман, Шухов

МПК: G01K 11/00, G01K 11/30

Метки: время, максимальной, недоступных, объектов, работы, телпературы

...ВО ВРЕМЯ РАБпри воздействии ца него темпе ляет расширить диапазон изме ратур и повысить точность из тнвном слоературы, позвряемых темпмсрения. изобретени реда Способ измерения максимальной тем туры недоступных во ьремя работы объ 0 с использованием радиоактивных элем нанесенных на контролируемые участки о та, от,ияа(ощийся тем, что, с целью рас ия диапазона измеряемых температур,ряют отношение площадей нанесенного 5 до и после нагрева объекта и по этому шению и градупровочцой кривой опред температуру, до которой нагревался объодписная группа1 Ф Известны способы измерения температуры недоступных во время работы обьектов с использованием радиоактивных элементов (эф. фект Мессбауэра) путем измерения интенсивности инфракрасного излучения...

Номер патента: 219242

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Клименков

МПК: G01K 11/00, G01K 11/30

Метки: время, объектов, работы, температуры, труднодоступных

...тем, что регистрируют электросопротивление индика тора при его повторном нагреве, а о максимальной температуре объекта судят по температуре, соответствующей изменению электро- сопротивления индикатора. Это позволяет уп ростить измерения и повысить их экономич. ность.Метод измерения.Для измерения температуры небольшие индикаторы в виде столбиков облученного реакторного графита помещают в то место, где из. меряется температура. Выдержка индикатора продолжается от нескольких секунд до нескольких часов (для измерений в интервале 1100 - 1800 С выдержка должна быть не менее 30 мин и не более 3 час).Извлеченный индикатор обжигают и изме ряют его электросопротивление. Способ измерения и регистрации максимальной температуры основан на...

Номер патента: 415516

Опубликовано: 15.02.1974

МПК: G01K 11/14, G01K 11/30

Метки: 415516

...революцииТЕМПЕРАТУРЫ ВО ВРАЩАЮЩИХСЯТУПНЫХ МЕСТАХ ОБЪЕКТОВ СПОСОБ ИЗМЕРЕ И ТРУДНОПод дейст но частично происходит дят по показ щенного черередмет пзобретени Способ 1 10 щихся и т путем поме го алмазно ратуры на отличаю 15 ни 51 точ 11 ос изменению мазного зезмерения температуры во вра уднодост, нных местах объ щения предварительно облуч го зерна в место измерения т фиксированный период вре щ и й с я тем, что, с целью пов и, о;емпературе объекта суд показателя преломления свет на. цаюектов енно- смне 1 ЕНИ, ышеят по Изобретение относится к области измерения температур.Известный способ измерения температуры во вращающихся и трудноступных частях и деталях машин при помощи облученных алмазных индикаторов недостаточно точен.Для повышения...

Номер патента: 479964

Опубликовано: 05.08.1975

Авторы: Лобанов, Мартынович

МПК: G01K 11/20, G01K 11/30

Метки: температуры

...способа является влияние на точность измерения температурной зависимости коэффициента пропускания оптических каналов для возбуждающего и люминесцентного излучении. С целью устранения указанного недостатка по,предлагаемому способу люминесценцию датчика возбуждают импульсами, например, световыми, рентгеновскими, электрическими, с длительностью, меньшей постояиной времени затухания люминесценции, измеряют величину этой постоявной и по ней находят искомую величину.При этом изменение коэффициента пропускания Оптических каналов не влияет на величину постоянной времени затухания люминесценции и, следовательно мерения температуры. На фиг. 1 изображена бл ства для реализации предл 5 на фиг, 2 - осциллограммы и люминесцентного импульс нат...

Номер патента: 699359

Опубликовано: 25.11.1979

Авторы: Вахидов, Гаппаров, Каипов, Тавшунский

МПК: G01K 11/20, G01K 11/30

Метки: среды, температуры

...среде, то в этом случае температурное местоположение первого максимума будет являться верхней границей температуры измеряемой среды, а последнего исчезнувшего максимума нижней, Наличие у кристаллов широкого температурного интервала термического высвечивания и значительного количества максимумов (у кристаллов ВаГ - ТКГз, например, от 4 К до 800 К) позволяет проводить измерение температуры предложенным способом с использованием этого кристалла в этом же широком интервале.Способ осуществля от следующим образом. Серию термолюмРкссцРручоших кристаллов, идентичных по внутренней структуре, например, изготовленных из одного моно;, лсталга, обл" ают ядерным излучением при минимально возможных температурах, например, температуре жидкого азота 77...

Номер патента: 1206630

Опубликовано: 23.01.1986

Автор: Чистяков

МПК: G01K 11/20, G01K 11/30

Метки: среды, температуры

...нагрева, в которых предполагается производить измерения,и необходимой точности определения температуры. Затем каждый датчиксерии подвергается нагреву до определенной температуры, причем первыйдатчик нагревается до исходной температуры, от которой предполагаетсяначать измерения, а последний -до максимальной, необходимой дляизмерения, или до максимальных,которые можно определять с помощьюданного ТЛДТ. Остальные датчикиданной серии нагреваются через определенный интервал от исходной (например исходная 400 С, далее через50 С 450, 500, 550 С). Время исреда нагрева для каждого датчикаидентичны. Затем все подвергшиесянагреву датчики облучаются одинаковой дозой радиации и для них записываются кривые ТЛ, На них измеряется величина 1 определенных...