160339
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 160339
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБ РЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Ю 160339СОЮЗ СЯЕТСКИХ СОЦИАЮ 1 СТИЧЕСКИХ РЕСПУУККласс 421, 10 ва МПК б 011 с Заявлено 24.ХП.1962 (;пЪ 809808/26-10) ГОСУДАРСТВЕННЫЙКОМИТЕТ НО ДЕ д.АМИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИСССР УДК Опубликовано 16.1;1964. Бюллетень М 3а11 у Подписная группа1 Я С. И. Алексеев, В. И. Карпухин и В А. Николаенко СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ОБЪЕКТОВ; ТРУДНОДОСТУПНЫХ ВО ВРЕМЯ РАБОТЫПредмет изобретения Известные способы измерения температуры объектов, труднодоступных во время работы, не обеспечивают контроль максимальных температур в широком диапазоне измерений,Предлагаемый способ расширяет возможность измерения температуры таких объектов. Это достигается тем, что в место, подлежащее контролю, помещают облученный алмаз, а о величине максимальной температуры судят по кривой изотермического расширения облучен- ного алмаза или по точке излома зависимости расширения облученного алмаза от температуры отжига,На чертеже представлены кривые, по которым определяют температуры по данному способу,Для осуществления предлагаемого способа используют порошковый алмаз, облученный в реакторе при температуре (100 С, интегральном потоке) 102 о при Е)1 мэв. Облученный алмаз имеет увеличенный по сравнению с обычным объем кристаллической решетки (3/). Расширение облучаемого алмазаоможет быть снято его отжигом. Определение значений расширения производят рентгенографически.Если облученный алмаз используют для контроля температуры при длительном време. ни нагрева, то для разных температур берут Ь Ккривую зависимости от времени. В этом случае облученный алмаз после выдерживания при неизвестной температуре подвергают рентгенографированию. По полученному значению расширения и времени нагрева при неизвестной температуре определяют контролируемую температуру.Если облученный алмаз используют в недлительных экспериментах (от 3 час до нескольких минут), то после выдерживания при неизвестной температуре его подвергают серии последовательных отжигов и рентгенографированию. Отжиги производят в пределах контролируемой температуры. Время отжига при каждой температуре должно приблизительно равняться времени испытаний. Температурные интервалы между отжигами устанавливаются в 10 - 50 С. После каждого отжига производят рентгенографированпе. По точке излома завиЛУсимости = (1 отжига) определяют тем.0пературу, в которой испытывается образец, т, е. искомую контролируемую температуру. Способ измерения температуры объектов, труднодоступных во время работы, отличаюиийся тем, что, с целью контроля максималь160339 изотермического расширения оолученного алмаза или по точке излома кривой зависимостиРасширения облученного алмаза от температуры отжига. Ю 0 300 400 500 б 00 Составитель И. Л. Орловаактор Г, М, Печоров Техред Ю. В. Баранов Корректор Т. С. Дрожжина одп. к печ, 6.1 Ч.65 г. Формат бум, 60 Х 90/ваказ 596/2 Тираж 975ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобМосква, Центр, пр. Серова, д,пография, пр. Сапунова,ных температур объектов в широком диапазоне измерений, в место, подлежащее контролю, помещают облученный алмаз, а о величине максимальной температуры судят по кривой Объем 0,13 изд, л. Цена 5 коп,ений п открытий СССР
СмотретьЗаявка
809808
МПК / Метки
МПК: G01K 11/00, G01K 11/30
Метки: 160339
Опубликовано: 01.01.1964
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-160339-160339.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">160339</a>
Предыдущий патент: 160338
Следующий патент: 160340
Случайный патент: Устройство для центробежно-абразивной обработки деталей