G01J 9/02 — методами интерферометрии

Номер патента: 1717971

Опубликовано: 07.03.1992

Автор: Тынниссон

МПК: G01J 3/45, G01J 9/02

Метки: жидкостей, интерферометр, комплексного, маха-цандера, показателя, преломления, сканирующий

...кювету, состоящую из входного и выходного окон, расположенных под небольшим углом друг к другу, и вспомогательных стенок для закрытия объема, кювета устанавливается в одно из плеч сканирующего интерферометра Маха-Цандера вместо компенсационного клина с возможностью1717971 Формула изобретения Составитель Т.ТынниссонРедактор О.Юрковецкая Техред М.Моргентал Корректор Т,Палий Заказ 870 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 перемещения относительно оптическойоси.Сущность изобретения состоит в том,что кювета с исследуемой жидкостью имеетвозможность перемещаться...

Номер патента: 1728675

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Воронов, Мурзаханов

МПК: G01J 9/02

Метки: двухканальный, жамена, интерферометр

...лучей на вторую плоскопараллельную пластину, Все это приводитне только к более значительному(по сравнению с известным интерферометром)уширению интерференционных полос, вызванному наличием не только поперечного,но и углового смещения волнового фронтаотносительно рекомбинирующей плоскости, но и к большему изменению разностихода лучей в каналах интерферометра, чтоявляется причиной повышения чувствительности,На фиг, 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг, 2 - возможныеварианты включения клина в оптический канал интерферометра (на фиг. 1 и 2 не показаны источники когерентного излучения ирегистраторы интерференционных картин).Предлагаемое устройство содержитплоскопараллельные пластины 1 и 2 с толщиной й или клин 3.Ход...

Номер патента: 1775622

Опубликовано: 15.11.1992

Автор: Драчев

МПК: G01J 9/02

Метки: дисперсионный, интерферометр

...оптических удвоителя частоты на расстоянии, обеспечивающем размещение между ними исследуемого объекта, светофильтр и регистрирующее устройство дополнительно введены поляризационный светоделитель, установленный по ходу излучения за светофильтром, и второе регистрирующее устройство, при этом оба регистрирующих устройства оптически связаны с выходами светоделителя, удвоители частоты и поляризационный светоделитель ориентированы так, что 4 Й. Й- а углы между с в Щ - а также в иА при линейной поляризации излучения источника составляет 45 соответствен 775622но, где Ь- единичный вектор поляризации излучения источника, К и 1 единичные векторы поляризации второй гармоники, генерируемой первым и вторым удвоителями частоты соответственно,...

Номер патента: 1793273

Опубликовано: 07.02.1993

Автор: Снежков

МПК: G01J 9/02

Метки: аберраций, волнового, излучения, фронта

...точек обоих интерферирующих фронтов в пределах ИФК, На фиг. 1 этой "0 точкой является точка 0 начала ортогональных и соответственных систем координат ХУ и Х У принадлежащих соответственноменьшему 1 и большему 2 интерферирующим фронтам. (Соответственными точками 45 интерферирующих фронтов в сдвиговой интерферометрии принято называть точки, соответствующие одной и той же точке измеряемого Вф. Например. точка А, волнового фронта 2 является соответственной 50 точке А 0 волнового фронта 1),Полученная таким образом сдвиговаяИФК позволяет при ее расшифровке найти значение фазы в любой точке Вф, т.е. полностью определить форму Вф, э значит, аберрации. Для расшифровки такой ИФК могут быть использованы различные алгоритмы, которые могут быть...

Номер патента: 1793274

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Аврамов, Корябин, Кузьминский, Шмальгаузен

МПК: G01J 9/02, G02B 26/00

Метки: волнового, датчик, локальных, наклонов, фронта

...возможнолишь при использованйи решетки с меньшйм периодом; что приводит к уменьшениюдиайазОна,Целью изобретения является расшире-нйе диапазонаизмеряемых локальных наклонов волнового фронта при одновременном 0сохранении точности измерений,С этой целью в датчике локальных наклонов волнового фронта, содержащим двесоосные линзы, установленную в их общейфокальной плоскости дифракционную ре- З 5шетку с периодом д и скважностью 1/2,матрицу фотоприемников, установленную взадней фокальной плоскости второй линзы,резонансные усилйтели, фазовые детекторы, опорный источник света и фотоприемник опорного сигнала; использованадвухчастотная дифракционная решетка спериодом О = М б, где й1- целое число,причем одна половина периода решеткипромодулирована...

Номер патента: 1805306

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Миронов, Привалов, Синица

МПК: G01J 9/02

Метки: гетеродинный, интерферометр

...к расщеплению частот мод. Если астигматический элемент выполнен в виде сферической линзы, размещенной под углом Брюстера к оптической оси 11, то разность частот мод равна где Р - разность частот, МГц;с, - частотный интервал между продольными модами лазера 1, МГц;и - показатель преломления материала элемента 7;щ - радиус пучка излучения, м;Я - радиус сферической поверхности элемента 7, м;К = 1,2 10 - коэффициент, найденныйзв эксперименте,По выходе из лазера пучок излучения, содержащий две моды, делится светоделителем на два пучка, один из которых направляется непосредственно на основной светоделитель 2, а второй пучок - на отражательное зеркало 10 и затем также на светоделитель 2 (см,фиг.2),При этом второй пучок при отражении от...

Номер патента: 1619852

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Голиков, Гурари

МПК: G01J 3/26, G01J 9/02

Метки: интерференционное, многолучевое

...при прохождении излучения через объект в противоположных направлениях, суммируются, а не вычитаются, как в обычном интерферометре ФабриПеро, и по смещению пика сигнала на выходе интерферометра можно измерить естественную оптическую активность обьекта. 1 ил,1619852 Составитель Г,ВоробьеваТехред М.Моргентал Корректор С.Патрушева Редактор Т.Зубкова Заказ 1979 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-ЗБ, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул. Гагарина, 101 возможность достижения цели изобретения,Предлагаемое устройство может найти применение для исследования оптических свойств различных материалов и сред.Формула...

Номер патента: 1818547

Опубликовано: 30.05.1993

Автор: Четкарева

МПК: G01J 9/02

Метки: дифракционный, интерферометр

...(паз. 4), в фокальной плоскости которого находится щелевая диафрагма, формирует параллельный пучок света, который падает на прозрачную фазовую решетку (поз, 5) под углом первого порядка дифракции для длины волны, соответствующей центральной части используемого интервала излучения источника света. С учетом того, что для образования полос в системе двух метрологических решеток с энергетической точки зрения выгодно использовать пучки наименьших, порядков дифракции, в интерферометре использованы фазовые решетки, концентрирующие излучение соответственно для прозрачной решетки в О, +1, а для отражательной в й 2. порядки спектра, При кратности постоянных решеток, равнойдвум, например, 600 и 300 штрих./мм соответственно для прозрачной и...

Номер патента: 1267868

Опубликовано: 30.05.1994

Автор: Мищенко

МПК: G01J 9/02

Метки: изменений, интерференции, порядка, регистрации

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ ИЗМЕНЕНИЙ ПОРЯДКА ИНТЕРФЕРЕНЦИИ, содержащее фотоэлектрический интерферометр с модулятором разности хода, установленные на его выходе блок регистрации дробной части порядка интерференции с информационным и стробирующим выходами, счетчик импульсов с информационным, корректирующим и стробирующим входами и выходом и подключенный к нему блок регистрации целой части порядка интерференции с выходами перезаписи и сравнения, отличающееся тем, что, с целью увеличения помехоустойчивости измерений в условиях слабоосвещенных интерференционных картин, в него дополнительно введены блок усреднения с двумя информационными входами, двумя входами перезаписи, информационным выходом и входом сравнения, блок сравнения кодов с двумя...

Номер патента: 1808210

Опубликовано: 20.04.1995

Автор: Болдин

МПК: G01J 9/02, G01N 21/45

Метки: материалах, оптических, разностей, фотоупругих, хода

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ РАЗНОСТЕЙ ХОДА В ФОТОУПРУГИХ МАТЕРИАЛАХ, содержащее последовательно установленные и оптически связанные источник излучения, двухлучевой интерферометр с поляризаторами с взаимно перпендикулярными плоскостями поляризации в каждом плече интерферометра, компенсатор, анализатор и жидкостную кювету для исследуемого материала, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности измерений, источник излучения выполнен немонохроматическим, устройство снабжено дополнительным поляризатором, плоскость пропускания которого составляет равные углы с плоскостями пропускания поляризаторов в плечах интерферометра, установленным за источником по ходу излучения, эталонной пластиной, установленной в одном из плеч...