G01J 3/30 — путем измерения интенсивности спектральных линий непосредственно в самом спектре

Номер патента: 1318801

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Аполицкий, Слесарев

МПК: G01J 1/02, G01J 3/30

Метки: выведения, линий, микрофотометра, спектральных, щель

...отсчете репер 2ные линии шаблона не совмещаются со спектральными линиями спектра исследуемой пробы, то на щель микрофотомет. ра выведена не спектральная линия определяемого элемента.На фиг. 1 схематично показано положение шаблона относительно щели микрофотометра, на фиг, 2 - спектр рабочего стандартного образца с выведенной на щель микрофотометра аналитической линией; на фиг. 3 - реперные линии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями рабочего стандартного образца (аналитическая линия расположена напротив щели (как ее продолжение); на фиг, 4 - реперные лийии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями спектра проб.П р и м е р . Для эмиссионного спектрального определения лантана (Ьа) обычно используется аналитическая...

Номер патента: 1335788

Опубликовано: 07.09.1987

Авторы: Корровитс, Лийдья, Труммал

МПК: F25D 3/10, G01J 3/30

Метки: исследований, образцов, оптических, сверхнизких, температурах

...сосуде 6, наазотном экране 7, на внешнем кожухе9, Окна выполнена из материала, погЗ 5 лощающего инфРакРасное излучение(ИК). Апертура окон оптического тракта менее 11 , телесный угол ИК теплового излучения 2 10ср, что сводит паразитный поток светового излу 4 О чения до величины, которая не вызывает повышения температуры образца, по ток составляет 10 Вт,ГУстройство работает следующим образом.884Изобретение позволяет расширить диапазон исследования эа счет воэможности охлаждения образца до сверхнизких температур, так как образец помещается непосредственно в сверхтекучую фазу расслоенной смеси гелия- гелия, а нагрев образца тепловым ИК излучением исключается, поскольку в оптическом тракте фильтруется ИК излучение. Формула...

Номер патента: 1343251

Опубликовано: 07.10.1987

Автор: Савинский

МПК: G01J 3/30

Метки: инженера, квантометров, савинского, усилительно-регистрирующее

...концентрации элемента в пробе линейной зависимостью, что позволяет градуировать прибор непосредственно в кон центрациях исследуемого элЕмента.В качестве вольтметра 15 может использоваться балансный усилитель постоянного тока с высокоомным входоми стопроцентной обратной связью.К его выходу подключено регистрирующее устройство 16, Величина максимума на записи регистрирующего устройства 1 р пропорциональна отношениюлогарифмов интенсивностей аналитичес"кой пары линий. На записи против максимума читается концентрация анализируемого элемента, если прибор предварительно проградуирован по эталонам. Отношение логарифмов интенсивностей спектральных линий связано с концентрацией Кцн анализируемого элемента в пробе соотношением1 а 1 ан=К 1 оК...

Номер патента: 1679214

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Омаров, Эльдаров, Эфендиев

МПК: G01J 3/30

Метки: излучения, исследования, спектров

...с фотоприемника 9, прямо пропорционально величине светового потока,падающего на фотоприемник. А значениеЭДС индукции е, наводимой на катушкеиндуктивности мультсборника 10, пропорционально б 1 йт, Следовательно,ЗО сП дФ Й б 1(4)Подставляя в выражение(4) значе- Э 5 ние 4 Ъ иэ формулы (2) получают 40Из формулы (5) следует, что величина запускающего сигнала, идущего с мультсборника 10 с индуктивным каналом связи на прибор 7, прямо пропорциональна как крутизне фронта светового импульса 6 Ъ, так и 45 скорости изменения крутизны Фь . Следовательно, если произойдет рост крутизны исследуемого сигнала, то регистрирующий прибор 7 на него прореагирует и его запуск произойдет раньше. 50 К,=Ц,2 лгде Таким образом, сам световой сигнал...

Номер патента: 1762157

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Дмитриева, Корнилова, Латышева, Ратовский, Ченец

МПК: G01J 3/30, G01N 1/10

Метки: кристалличности, степени, цеолитов

...31 г(ТЕЛЫ(ай Г 10/1 ОСЫ Р 1545 СМ(гя;,г(г( Р( - ИЦТЕЦСИНОСТЬ МДКСИМДЛЫ(0- 30 3 а ЦРОП",С 1,ганИ)1 с)(ЭЛИТИ(ГЗСКОЙ 1 ПОЛОСЫ11(45 с;,.(Б 0лдст(1 800 - 700 см1)г:с Р( И(ТЕЦСИНОС;ТЕ РгЛЛ( И(г 1 ЭЛЫ(ОГОПРО(1 УСКс) НИЯ ЭДЛИТИЧЕСКОЙ ПОЛОСЫ Р 1 ПРИ 545 гм 1 г гог"Акс (СТ(,(-гК с. 2 г). ГДС; /г 2 " ЗЦЭ(ЕНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ Г 1 ЛОТНОСТИ Г 10ласы 3 Нутццего с) дндарта (с(руктурцо неу/)ствитсльцОЙ) 3 (, -"(" -350 480 смг ггг( Р/ - , ИНТЕ)г 1 СИГ 3 гОСТЬ РЛДКС4 Д/(ЬНОгс 1(роускдия полосы внугрене(0 стан.пдртд 32 в области 230-250 см г )(гс 1"," - 1(НТЕЦСИБНОСТЬ МИЦ(г(РЛЭ/(ЬНОГО113)опускания полосы внутреннего стандартав Облсзсти 4 Ь 0"480 с(4А(торам ца известны технические решения, и/4 е(а(цие признаки сходные с отме(с)ц ными признаками и...

Номер патента: 1295890

Опубликовано: 27.05.1995

Авторы: Громаков, Игнатьев, Кириллова, Малютина, Мискарьянц, Назарова, Орлова, Столярова, Цапенко, Шевцова

МПК: G01J 3/30, G01N 1/28

Метки: примесей, спектрального

1. СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРИМЕСЕЙ преимущественно в кремнии, германии и их оксидах, включающий отгонку основы пробы, помещенной в графитовый электрод, обработкой электрода парами растворителя в замкнутом объеме с последующим анализом концентрата примесей, отличающийся тем, что, с целью обеспечения определения примесей бора, фосфора и мышьяка, в графитовый электрод дополнительно вводят фторопласт, комплексант, выбранный из ряда: маннит, глицерин, трифенилхлорметан, дианилин, бутилродамин, бриллиантовый зеленый, и окислитель, выбранный из ряда: перманганат калия, хлорная кислота, пероксид водорода, азотная кислота, перйодат калия.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что фторопласт вводят при соотношениях массовых долей к...

Номер патента: 753250

Опубликовано: 20.05.2000

Авторы: Вдовин, Скок

МПК: G01J 3/30

Метки: излучения, спектра

Способ измерения спектра излучения, включающий пропускание исследуемого излучения через измерительную систему, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа и уменьшения трудоемкости, проводят совмещение монохроматического излучения лазера накачки и исследуемого излучения на элементе, в котором осуществляют контролируемую перестройку двух энергетических уровней, затем отделяют исследуемый сигнал накачки и направляют его на фотоприемник с последующей регистрацией исследуемого сигнала на двухкоординатном приборе.