Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра

СО 103 СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 091 (11) ТЕ щельсравнона счаст Мф 23педиция Всесоюзательского инстиарак аель МФ со браза щ Слесаре инт ого стровская Г,В., ика и практика аука, 1976,ивают в чтобы е сь с линияО. спектромают его з чистых ве ильберштейн ный аналед. Х.Ис. 57 Спектр ществ. По Химия, 19 рными линия ель МФ бу- соответСПЕКТРАЛЬНЬОМЕТРАится к энализу.произво нии. Испол енного неСПОСОБ ВЫВЕДЕНИЯ НА ЩЕЛЬ МИКРОФ Изобретение отн у спектральному етения - повыси овьппчес 5 н з миссиЦельдительи лиСУДАРСТНЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОПИСАНИЕ И АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(56) Зайдель А.НОстровский Ю.И. Техспектроскопии, М.; 1)4 С 01 3 1/02 3/30 ность анализа за счет повышения ск ости выведения линии наофотометра (МФ), Спектрзготавливают в виде шабл терными для исследуемого успектра реперными линиямипроецируют аналитическую лспектра рабочего стандартнца (РСО). Шаблон устанавлплоскости экрана МФ так,реперные линии совместилими РСО. Заменяют спектр РСисследуемых проб и совмещспектральные линии с репеми шаблона. При этом на щдет выведена длина волны,ствующая аналитической лизование шаблона, установлпосредственно у щели МФ, пскорость выведения аналитнии на щель МФ. 4 ил, 1 131880Изобретение относится к областиэмиссионного спектрального анализас фотографической регистрацией спектров.Целью изобретения является повышение производительности за счет ускорения процесса выведения аналитической линии на щель микрофотометра,повышение точности и чувствительности(снижение нижнего предела определе- Юния элементов) эмиссионного спектрального анализа,Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра заключается в том, что вначале изготавливают 15шаблон, для создания которого необходимо спроектировать на экран микрофотометра исследуемый участокспектра рабочего стандартного образца или пробы, положить на экран плотную бумагу (шаблон) и отметить положение реперных линий. Аналитическаяспектральная линия определяемогоэлемента должна находиться в центрешаблона и отмечена, например, стрелкои, После изготовления шаблона егорасполагают у щели в плоскости экрана микрофотометра, а на предметномстоле микрофотометра устанавливаютфотопластинку со спектрами исследуемых проб, затем проектируют на экране микрофотометра участок спектрарабочего стандартного образца иориентируют шаблон совмещением егореперных линий со спектральными линиями рабочего стандартного образца.Установленный таким образом шаблондолжен оставаться в одном и том жеположении в течение всего фотометрирования исследуемой линии. Затем 40осуществляется фотометрирование спек: тральных линий исследуемых проб путемвыведения участка спектра, где расположена спектральная линия определяемого элемента, на щель микрофотометра. Перемещая спектр с помощьюмикровинта микрофотометра, совмещаютспектральные линии выведенного участка спектра исследуемой пробы с реперными линиями шаблона. При совмещении этих линий на щели микрофотометра окажется аналитическая спектральная линия определяемого элемента.Показания гальванометра микрофотометра будут близки к максимальному 55почернению спектральной линии. Затемпроводят микроперемещения и берутмаксимальный отсчет гальванометра,Если при максимальном отсчете репер 2ные линии шаблона не совмещаются со спектральными линиями спектра исследуемой пробы, то на щель микрофотомет. ра выведена не спектральная линия определяемого элемента.На фиг. 1 схематично показано положение шаблона относительно щели микрофотометра, на фиг, 2 - спектр рабочего стандартного образца с выведенной на щель микрофотометра аналитической линией; на фиг. 3 - реперные линии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями рабочего стандартного образца (аналитическая линия расположена напротив щели (как ее продолжение); на фиг, 4 - реперные лийии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями спектра проб.П р и м е р . Для эмиссионного спектрального определения лантана (Ьа) обычно используется аналитическая спектральная линия Д = 324,51 нм. Расположение наиболее характерных спектральных линий,нм: Ре 323,93;324,42; 324,60; 324,74, 324,82; Т 1 323,90; 324,20; 325,19; Мп 324,38, 324,85; Ег 324,10; Их 324,31; Сц 324,75; Ьа 324,24 и т.д.-реперных линий 1 в спектре вблизи аналитической линии Ьа 324,51 нм, обычно присутствующих в спектрах проб и стандартных образцов, показано на шаблоне 2 (фиг, 1). Шаблон 2 располагают в плоскости экрана 3 у щели 4 микрофотометра. Затем на экран 3 проектируется участок спектра рабочего стандартного образца 5, в котором хорошо видна аналитическая линия Ьа 324,51 нм (это делается обычно по максимальному показанию гальванометра), ее выводят на щель 4 микрофотометра,Вид картины в этом случае на экране 3 микрофотометра показан на фиг. 2.После этого необходимо тщательно совместить, перемещая шаблон 2, наиболь-. шее число реперных линий 1 шаблона 2 со спектральными линиями спектра стандартного образца 5, при этом отмеченная на шаблоне 2 стрелкой аналитическая линия исследуемого элемента Ьа 324,51 оказывается напротив щели 4 микрофотометра (фиг. 3). Выбранное таким образом положение шаб,лона 2 должно сохраняться во всех последующих измерениях почернений аналитической линии Ьа 324,51 нм в спектрах исследуемых проб. Убрав перемещением стола микрофотометра спектр рабочего стандартного образ 3 13 Як ца 5, на экран 3 проектируют спектр исследуемой пробы 6 и совмещают наиболее характерные спектральные линии спектра пробы 6 с реперными линиями 1 шаблона 2 (Фиг, 4). При этом анали тическая линия Ьа 324,51 нм (или место, где она должна быть) будет выведена на щель 4 микрофотометра. Значение почернения ее бурет по максимальному показанию гальванометра. О Если при нахождении максимума, спектральные линии спектра пробы не совпадают с реперными линиями 1 шаблона 2, то на щели 4 находится не искомая аналитическая линия Ьа 324,51 нм. При 15 этом делается заключение о том, что линия Ьа 324,51 нм отсутствует в спектре пробы,Формула из обретения 20Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра, заключающийся в установке на его предметном столе Фотопластинки со спектрами 25 01исследуемых проб и последующей ориентации спектральных линий спектра сравнения и спектра исследуемых проб относительно щели микрофотометра по максимальному показанию его гальванометра при выведении не щель аналитической спектральной линии, о т - л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения скорости выведения спектральных линий, спектр сравнения изготавливают в виде шаблона с характерными для исследуемого участка спектра реперными линиями, проекти.руют на экран микрофотометра участок спектра рабочего стандартного образца и выводят аналитическую линию на щель микрофотометра, устанавливают шаблон в плоскости экрана параллельно спектру рабочего образца и совмещают реперные линии шаблона с лини-, ями рабочего образца, затем заменяют спектр рабочего стандартного образца спектром исследуемых проб и совмещают его спектральные линии с реперными линиями шаблона.1318801 Составитель И,Никулинедактор Н.Егорова Техред В.Кадар ктор А.Ильин аказ 2498/32 Тираж 776 ВНИИПИ Государственного комитета СС по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб,исно