Способ измерения спектра излучения

Номер патента: 753250

Авторы: Вдовин, Скок

Описание

Способ измерения спектра излучения, включающий пропускание исследуемого излучения через измерительную систему, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа и уменьшения трудоемкости, проводят совмещение монохроматического излучения лазера накачки и исследуемого излучения на элементе, в котором осуществляют контролируемую перестройку двух энергетических уровней, затем отделяют исследуемый сигнал накачки и направляют его на фотоприемник с последующей регистрацией исследуемого сигнала на двухкоординатном приборе.

Заявка

2723968/25, 09.02.1979

Институт физики полупроводников СО АН СССР

Вдовин А. В, Скок Э. М

МПК / Метки

МПК: G01J 3/30

Метки: излучения, спектра

Опубликовано: 20.05.2000

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-753250-sposob-izmereniya-spektra-izlucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения спектра излучения</a>

Похожие патенты