Патенты с меткой «щелочно-земельного»

Номер патента: 526617

Опубликовано: 30.08.1976

Авторы: Антонов, Катренко, Кузнецова, Михайлов, Потоловский, Фуфаев, Чекаленко

МПК: C07C 139/00

Метки: металла, сульфоната, щелочно-земельного

...полученного сульфоната кальция до 180 С и выдерживают приэтой температуре 30 мин,Ланализ полученного продукга: вязкостьпри 100 С 32 сст, щелочность 4,5 мг КОН/г,содержание азота О,ОЬ;д. Оощес Врьм 51 последовательного проведения обменной реакции истабилизации 2 час 30 мин.После высокотемпературной обработки стабилизируется качество сульфонатаболееполно проходит обменная реакция, понижается вязкость и повышается щелочносгь полученного сульфоната кальция. П р и м ер 2. Получение сульфоната кальция из сульфоната аммония в присутствии добавок - низкомолекулярных карбоновых кислот С, - С 4 (предлагаемый способ). (11 изкомолекулярные карбоновые кислоты С, - С являются побочными продуктов при производстве высокомолекулярных жирных кислот).300 г...

Номер патента: 1407900

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Гурвич, Ильин, Колесников, Корнеева, Крылов, Михайлов, Орлов

МПК: C01B 11/06

Метки: гипохлорита, металла, раствора, стабилизации, щелочно-земельного, щелочного

...в 11 раэ повыситьстабильность растворов гипохлоритов1 табл.10 7900 101 С 1Г )О Количестводобавки и траль/Мд,81 С) )д % и 1 со центр ация.;ис,ой рогк.и,виост) ндстности к )ронэвс),ству и хрде.к р(сворон эохорито) е)очн,гх)елочгод. ельных метал.ов.1 р н . е р, К 100 м) водь добдв;я;т О, г цитрдля и 10 г силикатд нтрия. 11 э этого раствора отбирают 1 мл и;обдвляют к 100 г раствора гипохлорита натрия с содержанием активного хлора 14,50%. Раствор термоостдтируют при 60 С в течение 6 ч. Концентрация активного хлора в раствсре после термостатирования 12)41%. Количество вьделившегося кислорода эд то же время термостатировдния в идентичных ус;овях в пдрдллельном опыте рано сс. о" д н. )(:,":, с) ня 3с т 1 ( О))3, С)01+с)Г)11) ОГгд и"...

Номер патента: 1575845

Опубликовано: 07.09.1991

Авторы: Бенеманская, Лапушкин

МПК: H01L 21/66

Метки: двумерных, зон, металла, металлической, пленки, подложке, субмонослойной, щелочно-земельного, щелочного, электронных, энергии

...света. С помощью поляроида 10 осуществляют поляризацию электрического вектора излучения в плоскости падения облучения(выделяют излучение р-поляризации),Длину волны монохроматического светаизменяют в пределах от Л800 нмКдо длины волны видимого света Л= 400 нм. Линейная дисперсий монохФоматора равна 2 нм/мм, что при ширинещелей монохроматора, равных 1 мм,позволяет использовать для облучения.пленки. участок укаэанного спектра ши".риной ЮЛ = 2 нм. Погрешность измерения длины волны монохроматическогосвета составляет Л, = 0,05 нм. Облучение пленки светом осуществляют подуглом д 45 ф так как .угол Брюстераудля этой системы в видимой облас.Р оти спектра равен )ф= 78Интегральный фотоэмиссионный токрегистрируют в цепи подложка 4 с пленкой -...