Патенты с меткой «субмонослойной»
Способ определения энергии двумерных электронных зон субмонослойной пленки щелочного или щелочно-земельного металла на металлической подложке
Номер патента: 1575845
Опубликовано: 07.09.1991
Авторы: Бенеманская, Лапушкин
МПК: H01L 21/66
Метки: двумерных, зон, металла, металлической, пленки, подложке, субмонослойной, щелочно-земельного, щелочного, электронных, энергии
...света. С помощью поляроида 10 осуществляют поляризацию электрического вектора излучения в плоскости падения облучения(выделяют излучение р-поляризации),Длину волны монохроматического светаизменяют в пределах от Л800 нмКдо длины волны видимого света Л= 400 нм. Линейная дисперсий монохФоматора равна 2 нм/мм, что при ширинещелей монохроматора, равных 1 мм,позволяет использовать для облучения.пленки. участок укаэанного спектра ши".риной ЮЛ = 2 нм. Погрешность измерения длины волны монохроматическогосвета составляет Л, = 0,05 нм. Облучение пленки светом осуществляют подуглом д 45 ф так как .угол Брюстераудля этой системы в видимой облас.Р оти спектра равен )ф= 78Интегральный фотоэмиссионный токрегистрируют в цепи подложка 4 с пленкой -...