Патенты с меткой «полированных»

Номер патента: 1030324

Опубликовано: 23.07.1983

Авторы: Ветров, Гречишкин, Дрогин, Мычак, Осадчий, Терновский

МПК: C03B 11/08

Метки: оптических, полированных, производства

...расплава по нему, с последующим его переворотом на 180 в вертикальной плоскостии,мент остановки столов обеспечивается возможность передачи порции стекло- массы с Формы поворотного стола в матрицу пресса.Привод столов пневматический, Синхронность работы механизмов осуществ- ляется командоаппаратом 9. Изменение числа оборотов командоаппарата плавное - двигателем постоянного тока.Устройство работает следующим образом.В момент раскрывания ножей пневматических ножниц 1, установленных под патрубком питателя 10, из которого непрерывной струей истекает жидкая струя расплава термопластической стекломассы, подводимая под патрубок форма 3 совместно с платформой 4 поднимается пневмоцилиндром 11 на высоту, не позволяющую струе утоньшиться,После...

Номер патента: 1155848

Опубликовано: 15.05.1985

Авторы: Архипов, Бердиков, Леонидов, Назаренко, Пушкарев

МПК: G01B 11/30

Метки: объектов, поверхностей, полированных, шероховатости

...потока, расположенный вфотометрическом шаре, защитный узел 20 установлен в формирователе световогопотока и выполнен в виде ступенчатого цилиндра с каналом по оси, навнутренней поверхности канала нанесены кольцевые канавки, а по пери ферии. ступени с большим диаметромвыполнен сквозной круговой паз, навнутренней поверхности которого нанесены кольцевые канавки.Кроме того, защитный узел выполнен из светопоглощающего материала.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для измере-.ния шероховатости полированных поверхностей.Устройство содержит источник 1 35света, объектив 2, гибкий световолоконный световод 3, соединенный сформирователем 4 светового потока,установленным в фотометрнческом шаре 5. В фотометрическом шаре 5...

Номер патента: 1186942

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Елисеев, Панков, Рюхин, Шишлов

МПК: G01B 11/24

Метки: бесконтактного, поверхностей, полированных, профиля

...к выходам датчика 4 линейного перемещения платформы 2, датчика 11 угла поворота платформы 2 и датчика 13 перемещения. На узел 1 базирования устанавливается измеряемая оптическая деталь 42.Устройство работает следующим образом (Фиг.З).В исходном положении измеряемая деталь 42 установлена так, что опти-. ческая ось фотоэлектрического автоколлиматора 7 совпадает с нормалью к поверхности измеряемой детали 42 в точке А (добиваются перемещением поперечной 14 и продольной 15 кареток, при этом показания индикатора нулевые, Затем замыкают ключ 41, при этом механизм 12 перемещения платформы 2 перемещает оптический датчик, установленный на платформе 2, в сторону измеряемой детали 42 до тех пор, пока точка пересечения оптических осей...

Номер патента: 1293485

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Бережинский, Лисица, Лысенко, Нечепоренко, Сергеев, Усенко

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: пластин, плоскостности, полированных, полупроводниковых

...отражением друг друга относительно нормали к эталонной поверхности клина 5, В качестве источника 1 монохроматического могерентного излучения используется лазер. Коплиматор состоит из двух объективов: первый микрообъектив 2 экране 6 визуально наблюдают интер.Ференционную картину сразу от всейконтролируемой поверхности пластины 7, по которой и производится котроль плоскостности пластины 7, 1 ил. фокусирует излучение лазера в точку, которая лежит в фокусе второго коллимирующего объектива 3, Оба обьектива 2 и 3 подобраны так, что их относительные отверстия предельно, близки. Коллимирующий объектив 3 и микрообьектив 2 установлены с возможностью перемещения относительно друг друга вдоль оси светового пучка. Это позволяет точно совместить...

Номер патента: 1320660

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Антонов, Панков, Рюхин, Шишлов

МПК: G01B 11/245

Метки: автоколлимационное, бесконтактного, поверхностей, полированных, профиля

...на четыре зоны с разными свойствами оптического излучения, Г 1 ри этом границей между зонами, ширина которой определяется в основном дифракцией, является оптическая ось. Противоположные зоны переносят энергию излучения на одной из частот 1, 1, з, 1, но в противофазе у= 0 или р= 180. Сечения пучков автоколлиматоров 1 и 2 соответственно представлены на фиг. За и б. Устройство работает следующим образом.Перед началом измерений на место детали с контролируемой поверхностью 36 устанавливают деталь с образцовой поверхностью, Включают блоки 37 - 40 питания. Вводят перед полупрозрачными пластинами 3 - 8 непрозрачные экраны 9 - 14. В результате от автоколлиматора 2 идет только один световой пучок, оптическую ось которого совмещают с оптической...

Номер патента: 1348640

Опубликовано: 30.10.1987

Автор: Чунин

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, бесконтактного, вращения, поверхностей, полированных, профиля

...Ужгород, ул. Проектная, 4 1Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения.Цель изобретения - измерение профиля поверхностей большой крутизны (50-60 , до 90), обе фокальные точки которых находятся внутри измеряемой поверхности типа выпуклого эллипсоида или вогнутого гиперболоида.На чертеже изображена принципиальная схема реализации способа.Луч света от источника 1 проекционной системой (не показана) с объективом 2 направляется в находящуюся внутри измеряемой поверхности 3 ее первую фокальную точку 4. Отраженный от поверхности луч создает в ее второй фокальной точке 5 мнимое изображение, которое положительной линзой 6 переносится...

Номер патента: 1368704

Опубликовано: 23.01.1988

Автор: Яновский

МПК: G01N 1/28

Метки: дисперсных, полированных, шлифов

...калия. Пресс-форму помещают под гидравлический пресс и выдерживают при давлении 300 ИПа в 20 течение 1 мин, Полученный брикет полируют.Качество брикета хорошее, поверхность брикета ровная, гладкая, зерна минералов хорошо отполированы. 25В табл. 1 представлены результаты оценки качества брикетов при изменении соотношения компонентов связующего.В табл. 2 представлены результаты оценки качества брикетов при изменении давления прессования. Формула изобретения 1. Способ изготовления полированных шлифов из дисперсных материалов, включающий прессование смеси анализируемого материала, со свяэующим. - полистиролом и последующую полировку.брикета, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью сохранения свойств анализируемого материала, в качестве...

Номер патента: 1394035

Опубликовано: 07.05.1988

Авторы: Антонов, Панков, Рюхин, Шишлов

МПК: G01B 21/00

Метки: автоколлимационное, бесконтактного, поверхностей, полированных, профиля

...на частотеГ , и от пары светодиодов 38 и 39,излучающих в противофазе на частоте. Е.,После отражения от измеряемой.поверхности пучок, сформированныйавтоколлиматором, вновь попадает вобъектив 44 на Фотодиоды 42 и 43,с которых напряжения фильтруются,усиливаются узкополосными усилителяВт и с = О, 4,У = О г ЛУЧИСТЫЕ ПОТОКИ ОТ светодиодов, модулированные частотами Г,. иФазы модуляции которых приняты за нуле вую = 0 9Уц = 180о- 180 - лучистые потоки от2светоДиодов, модулированных частотами Г иХ, Фазы модуляциикоторых сдвинуты на180Из выражений (2) и (3) видно, чтосигналы Бг, =О, Б =О, если Рср =0 = Р, ср =180, Рх, су =0 = Р , ср = 180, " что возможно в случае совпадения осей отраженного пучка с осью объектива 44 и следовательно, с центрами...

Номер патента: 1631267

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Антонов, Панков, Сумарокова, Шишлов

МПК: G01B 21/00

Метки: бесконтактного, оптико-электронное, поверхностей, полированных, профиля

...45.фоторегистрирующий блок 4 выполнен в виде оптически связанных объектива 46 и фотоприемной схемы, выполненной в виде оптически связанных светоделителя 47 и выпуклого зеркала 48 и оптически связанных с зеркалом 48 через светоделитель 47 объектива 49 и координатно-чувствительного фотоприемника 50, выход которого является выходом блока 4, Оптические осиобъективов 37,45 и 46 лежат в однойплоскости и пересекаются в одной точке.Устройство работает следующим об" разом.Измерение профиля контролируемой поверхности устройством сводится к зондированию контролируемой поверхности детали 51 световыми лучами автоколлиматора 2 и коллиматора 3, пространственному отслеживанию этих лу 16312чей с целью о пределе ния положен ия нормалей к...

Номер патента: 1686305

Опубликовано: 23.10.1991

Авторы: Антонов, Бутяйкин, Панков, Шишлов

МПК: G01B 21/20

Метки: автоколлимационное, оптико-электронное, поверхностей, полированных, профиля

...схем 53 вычитания сигналы поступают наторый после отражения от контролируемой элемент И 55, выход которого подключен кповерхности направляется объективом 32., блоку 24. Сигнал с выхода элемента 55 пона отражающую грань светоделительного следует лишь в случае равенства "0" сигнаэлемента 31 и далее на приемную площадку ЗО лов с обоих схем 53 вычитания, что возможнофотоприемника 33, Одновременно на пло-; лишь в случае совпадения оси отраженного отщадку фотоприемника 33 направляется при контролируемой поверхности пучка с оптичепомощи конденсора 35, диафрагмы 36, объ- ской осью автоколлиматора 17, а следовательектива 37 иэлучениеотсветодиода 34, кото-: но, с центром позиционно-чувствительногорый излучает на той же...

Номер патента: 1696862

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Антонов, Федосов, Шишлов

МПК: G01B 21/20

Метки: бесконтактного, оптико-электронное, поверхностей, полированных, профиля

...Ао, приступают к измерениюдругих точек поверхности, При этом в процессе измерения каждой точки поверхностивыполняется ряд последовательных перемещений оптического датчика в реэульгатеразворота рамы 16 и вала 20 на некоторыйфИКСИРОВЭННЫй УГаЛ ),(л, РаЗВОРОта ПЛат 1696862формы 4 на некоторвй угол Ъ до момента совпадения оси автоколлиматора 1 с нормалью Ко к измеряемой поверхности в некоторой точке Ап и линейного перемещения на величину Мп до момента совпадения с точкой Ао точки пересечения оптических осей оптического датчика, Величины поворотов а р перемещения Мо фиксируютсл соответствующими датциками 12 и 17 и по ним рассчитываются координаты Хп и Уп точек Ао поверхности, по которым в свою очередь вычисляется профиль...

Номер патента: 1788432

Опубликовано: 15.01.1993

Автор: Шишлов

МПК: G01B 11/24

Метки: бесконтактного, мередиональный, поверхностей, полированных, профиля

...в ЭВМнулевой сигнал, а с фотоприемника 14 30 сигнал положительной полярности, С этогомомента ЭВМ начинает управлять процессом измерения по программе, По команде ЭВМ (см.фиг,1,3) электропривод 20 обеспечивает поступательное перемещение опти ческого датчика на величину Н кконтролируемой детали до момента совпадения изображения диафрагмы 8 (точка А) с вершинной точкой поверхности АО, т,е. до момента появления нулевого сигнала с фо топриемника 14, что свидетельствует о завершении первого этапа измерения по фиксации вершинной точки контролируемой поверхности.Величина Л Но перемещения оптиче ского датчика фиксируется ЭВМ посредством датчика 21 и т,о, вершинная тока А, получает координаты ХАо = Но +ЛНо Уд= 0(2) живании пространственного...