Патенты с меткой «неравновесных»
Способ измерения неравновесных значений парамагнитной восприимчивости
Номер патента: 457387
Опубликовано: 25.06.1977
Авторы: Гсюк, Муромцев, Сафронов
МПК: G01N 27/78
Метки: восприимчивости, значений, неравновесных, парамагнитной
...в момент времени т, отсчитываемый после окончания действия насыщающего импульса;Но" - значение магнитного поля, при котором регистрируют величину отклонения магнитной восприимчивости от равновесного значения;Но - значение магнитного поля, при котором насыщают неоднородно уширенную лин.ию,Внешние .магнитные поля на парамагнигном образце в течение периода определяются соотношениями: Возмоина регистрация, зависимости отклонения магнитной восприимчивости бх"(Л, т) от времени т при фиксированном значении Л, т. е. зависимости: 1, (т) = бх" (Л, т),Л = сопМ (3) Эта зависимость в частном случае (при Л = 0) совпадает с обычными кривыми спадя сигналов импульсного восстановления.На фиг. 1 показаны экспериментальные сигналы импульсного...
Способ определения коэффициента биполярной диффузии неравновесных носителей заряда в полупроводниках
Номер патента: 1028204
Опубликовано: 30.12.1983
Авторы: Алмазов, Малютенко, Федоренко
МПК: H01L 21/66
Метки: биполярной, диффузии, заряда, коэффициента, неравновесных, носителей, полупроводниках
...зондируютщего инфракрасного излучения, прошедшего и отраженного от пластины в момент достижения максимального значения интенсивности света, вызывающего генерацию электронно-дыроч.ных пар при двух или более значениях его интенсивности, а коэффициент биполярной диффузии неравновесных носи телей заряда вычисляют по формуле 47 47 И 4 ат - +К, аг где в ; в- относительные коэффициенты пропускания и отражения при боль . шей интенсивности 5 света, вызывающего генерацию электронно дд дырочных пар - то же при меньшей интенсивности света 30 вызывающего генерацию электронно-дырочных парф(5) лярной диффузии благодаря контрОлю интенсивности возбуждающего и зондирующего излучений в каждом импульсе возбуждающего света. Это позволяет устранить влияние...
Устройство для измерения скорости неравновесных газовых потоков
Номер патента: 1170353
Опубликовано: 30.07.1985
Авторы: Британ, Гриднев, Старик, Хмелевский
МПК: G01P 5/00
Метки: газовых, неравновесных, потоков, скорости
...размещенными на расстоянии С от точки пересечения осей патрубков с продольной осью приемника, характеризующимся соотношением= ш(1-3)В,где ш - номер датчика,а общее число датчиков М 4 5.На фиг. 1 представлена схема устройства; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг.Устройство содержит осесимметричный приемник 1, воспринимающий иссле дуемый поток 2 и снабженный размещенными равномерно по окружности патрубками 3, подключенными через коллектор 4, подводящую магистраль 5 и вентиль б к источнику 7 вспомогательного газового потока, на моделяется по формуле 3 1лекулах которого обеспечиваетсяменьшая скорость релаксации исследуемого газового потока, чем на собственных. Измерение статическогодавления до и после зоны введениявспомогательного потока...
Бесконтактный способ определения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводнике
Номер патента: 1384117
Опубликовано: 23.08.1990
МПК: H01L 21/66
Метки: бесконтактный, времени, жизни, заряда, неравновесных, носителей, полупроводнике, эффективного
...излучения, ш - эффективная45масса электрона.Для, детектирования излучения использовался фоторезистор иэСЙИ 808 Те при 77 К, который имеетграницу чувствительности при =11 мкм.Таким образом, практически диапазондлин волн 1-11 мкм, Иаксимальный коэффициент поглощения в этом диапазоне .равен для максимальной концентра 18 в.цин электронов 10 см .К = 200 см,.Следовательно толщина д образцадолжна быть впределах 0,52 ,й4 50 мкм, например 10 мкм. Для длины волны0,8 мкм.поглощение определяетсямежзонными переходами. Коэффициент поглощения длятаких переходов зависит от энергиикванта и не зависит от концентрацииносителей заряда, Таким образом,временная зависимость плотности излучения на длине волны 0,8 мкм не будет пропорциональна концентрации...
Способ определения колебательной температуры и концентрации молекул в неравновесных средах
Номер патента: 1635082
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Кернажицкий, Кочелап, Наумов, Носенко, Шварчук
МПК: G01N 21/00
Метки: колебательной, концентрации, молекул, неравновесных, средах, температуры
...от темпераЯгп, для которой покагтп 1 имеет максимальну1635082 Составитель Р.ИвановТехред М.Моргентал Корректор Н,Король Редактор М.Петрова Заказ 751 Тираж 410 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 к температуре, и определяют поглощательные способностиЛЦА=- - - и/1АП 1 = --о о Щгде 1 Ар Ц - сигналы интенсивности излучения зондирующего источника света;Л 1 р Л 1 - сигналы поглощения света в диагностируемой среде, соответствующие длинам волныи 4,.После этого определяют колебательную температуру Тч и концентрацию молекул п с помощью соотношенийОп 1(Тч) = 019 (1 - Ащ)/19 (1 - Ак 1;...
Способ определения времени релаксации неравновесных возбуждений
Номер патента: 1581138
Опубликовано: 15.05.1991
Авторы: Балкашин, Кулик, Пилипенко, Янсон
МПК: H01L 21/66
Метки: возбуждений, времени, неравновесных, релаксации
...По частотной зависимости (%) определяют частоту релакса" цИи квазичастиц используя аппрокси" мацию зависимостью ИГ ). Явный вид этого выражения рассчйтывают теоретически для конкретной модели процесса релаксации квазичастиц. Например, на фиг.З и 4 точками пред. ставлены экспериментальные значения 3, отражающие зависимость 1 И), и аппроксимация этой зависимости Функ" ций, 1(Г;Г) при разных значениях .Ю 6Для определения частотной завис- мости (Г) используют способ, обеспечивающий необходимую точность, достаточно простой и доступньй. Поскольку частота релаксации квазичас"тиц может находиться в широком час.тотном диапазоне (10 -10 Гц) в каУ 7честве источника излучения с нерестраиваемой частотой 3 используют набор генераторов сигналов...
Демонстрационное устройство для измерения времени жизни неравновесных носителей заряда
Номер патента: 1772817
Опубликовано: 30.10.1992
МПК: G09B 23/18
Метки: времени, демонстрационное, жизни, заряда, неравновесных, носителей
...делителя 3 частоты формируется длинный импульс, по переднему фронту которого одновибратор 8 формирует сигнал, приводящий в исходное состояние элемент 11 выделения максимального значения напряжения и счетчик 15,Импульс с выхода делителя 3 частоты запускает формирователь 4 импульсов, который формирует на своем выходе импульс тока, обеспечивающий импульс излучения быстрадействующего светадида 5. Этот прямоугольный импульс излучения оптического или ближнега инфракрасного диапазона спектра обеспечивает засветку окна фотодиода 6, который формирует на своем выходе импульс фотоэдс. Однако, этот импульс фотоэдс иэ-за инерционности фотодиода за счет времени жизни неравновесных носителей заряда не сохраняет прямоугольную форму. Причем, интервал...
Способ измерения объемного времени жизни неравновесных носителей заряда в примесных полупроводниках
Номер патента: 1778819
Опубликовано: 30.11.1992
МПК: H01L 21/66
Метки: времени, жизни, заряда, неравновесных, носителей, объемного, полупроводниках, примесных
...подключения испытуемого об разца (фиг. 2) показаны: диафрагма 1, игольчатые электроды 2, испытуемый образец 3,область рекомбинации 4, инжектирующее излучение 5,.линии электрического тока 6;Реализуется способ следующим образом. В зависимости от требуемого уровня инжекции задаются количеством свободных носителей заряда примеси в зоне проводимости полупроводника и пользуются вь 1 раже нием где и - количество свободных зарядов примеси в зоне проводимости полупроводника, А - константа, численно равная количеству связанных носителей заряда с энергией активизации Еи, К - постоянная Больцмана, Т - абсолютная температура, определяют требуемую температуру образца,Присоединяют испытуемый образец 3 к источнику тока при помощи игольчатых электродов...
Способ бесконтактного измерения времени жизни неравновесных носителей тока в полупроводниках
Номер патента: 1778821
Опубликовано: 30.11.1992
МПК: H01L 21/66
Метки: бесконтактного, времени, жизни, неравновесных, носителей, полупроводниках
...волны зонда измерение времени жизни либо вообще перестает быть возможным в силу непрозрачности образца, либо существенно снизить чувствительность способа, Это исключает возможность применения описанного выше способа прототипа для измерения объемного времени жизни неравновесных носителей тока в легированных полупроводниках.Целью предлагаемого изобретения является расширение области применения за счет получения возможности измерения объемного времени жизни неравновесных носителей тока в легированных полупроводниках и повышение чувствительности,Поставленная цель достигается тем, чтов предложенном способе зондирующее и инжектирующее излучения выбирают из области максимальной прозрачности исследуемого образца (сохраняя при этом условие,...
Способ определения диффузионной длины неравновесных носителей заряда
Номер патента: 2001466
Опубликовано: 15.10.1993
МПК: H01L 21/66
Метки: диффузионной, длины, заряда, неравновесных, носителей
...поля в образце течет кольцевой электрический ток (далее будем называть его "ФЭМ-током"). Расчеты показывают, что плотность этого тока максимальна на границе светового пятна, а ширина токового кольца примерно равна диффузионной длине. При станционарном освещении ФЭМ-ток стационаренЕсли освещение не стационарно, а модулировано, то ФЭМ-ток будет переменным, и вследствие эффекта электромагнитной индукции в индукционном элементе связи 4, расположенном вблизи рабочей поверхности образца, будет возникать ЭДС. На фиг,1 для наглядности в качестве индукционного элемента связи изображен одиночный кольцевой проводящий виток, опоясывающий световое пятно 3 и расположенный вблизи рабочей поверхности образца, но не имеющий с образцом...
Способ определения диффузионной длины неравновесных носителей заряда в приповерхностных однородно легированных слоях полупроводниковых структур
Номер патента: 1627007
Опубликовано: 20.12.2005
МПК: H01L 21/66
Метки: диффузионной, длины, заряда, легированных, неравновесных, носителей, однородно, полупроводниковых, приповерхностных, слоях, структур
1. Способ определения диффузионной длины неравновесных носителей заряда в приповерхностных однородно легированных слоях полупроводниковых структур с p-n-переходом, включающий формирование малоуглового линейного скоса структуры со стороны исследуемого слоя, измерение наведенного тока, протекающего во внешней цепи структуры при зондировании ее на фиксированную глубину постоянным по току лучом растрового электронного микроскопа в точках скоса с различающейся глубиной залегания p-n-перехода, и расчет диффузионной длины из уравнения, связывающего величину наведенного тока с глубиной залегания p-n-перехода, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, на поверхность скоса...