Патенты с меткой «дифракционных»

Номер патента: 1799161

Опубликовано: 10.05.1995

Авторы: Балясников, Варфоломеев, Лукашевич, Стрельников

МПК: G02B 5/18

Метки: вогнутых, дифракционных, профилем, решеток, ступенчатым, штрихов

...в вакууме и последующего формования в нем штрихов пластической деформацией материала алмазным резцом, согласно изобретению, на стеклянную подложку наносят подслой переменной толщины, твердость которого не менее чем в пять раз больше твердости основного слоя, который наносят также переменной толщины, при этом слои ориентируют клином в противоположные стороны, толщину слоев наносят в соответствии с соотношением:г 035. гУ . ИИ, -1/г +1 У+Цгде Е - расстояние от начала нарезки до точки, в которой определяется толщина слоя, мм;И - число штрихов на один миллиметр," В - радиус кривизны решетки, мм;и - глубина штриха, определенная для плоского слоя, мм;- припуск на толщину основного слоя, для подслоя припуск равен нулю,штрихи решетки...

Номер патента: 1052095

Опубликовано: 10.10.1995

Авторы: Гордеев, Горелик, Турухано

МПК: G02B 5/32

Метки: голографических, дифракционных, длинных, решеток, синтеза

УСТРОЙСТВО ДЛЯ СИНТЕЗА ДЛИННЫХ ГОЛОГРАФИЧЕСКИХ ДИФРАКЦИОННЫХ РЕШЕТОК, содержащее источник когерентного излучения, двухлучевой интерферометр, подвижную подложку с записанными на ней нефазированными голографическими дифракционными решетками и оптоэлектронную схему, включающую фотодетекторы, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, в устройство дополнительно введены подложка со светочувствительным слоем, неподвижная дифракционная решетка, расположенные последовательно и на подвижной подложке с нефазированными голографическими дифракционными решетками, а оптоэлектронная схема дополнена фотодетекторами, блоком коммутации усилителями, фазометром, вольтметром, электрострикционными ячейками, источниками постоянного напряжения и...

Номер патента: 1364032

Опубликовано: 10.05.1996

Автор: Турухано

МПК: G01B 9/021, G02B 5/32

Метки: голографических, дифракционных, длинных, решеток, синтеза

УСТРОЙСТВО ДЛЯ СИНТЕЗА ДЛИННЫХ ГОЛОГРАФИЧЕСКИХ ДИФРАКЦИОННЫХ РЕШЕТОК по авт. св. N 1052095, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и дифракционной эффективности синтезируемой голографической решетки, в него дополнительно введен второй источник когерентного излучения импульсного действия, расположенный на входе интерферометра и оптически связанный с ионной полуплоскостью полупрозрачного покрытия света делительного куба интерферометра, чем первый источник, а в оптоэлектронную схему введен блок синхронизации, выход которого связан с вторым источником когерентного излучения импульсного действия, а вход с источником переменного напряжения оптоэлектронной схемы.

Номер патента: 1814406

Опубликовано: 10.10.1996

Автор: Турухано

МПК: G02B 5/18

Метки: голографических, дифракционных, метрологических, пары, решеток, турухано

...сдвигов, угла наклона и частоты измеряются с точностью порядка а/100 (а - период решетки), благодаря использованию метода фазовой модуляции,При записи ноль-метки для формирования сигнала начала отсчета, угол 01 выбирается равным углу 02 самого интерферометра. В приведенном случае ноль-метка состоит из голографических растров с монотонно изменяющимся периодом. Они применяются в качестве элементов начала отсчета, Для этого используется также разностный сигнал, формируемый в симметричных точках растров. Причем ноль-метка присутствует единожды в первой ее части (3) для начала отсчета или многократно и с одинаковой периодичностью для получения (абсолютного) отсчета с разных точек решетки. Периодичность ноль-метки может быть не меньше,...

Номер патента: 1485872

Опубликовано: 20.08.1999

Авторы: Брайнин, Булыгин, Савушкин, Соколова

МПК: G02B 5/32, G03H 1/26

Метки: голограммных, дифракционных, записи, решеток

Устройство для записи голограммных дифракционных решеток, содержащее источник когерентного излучения, светоделитель, держатель заготовки со светочувствительным слоем и два оптических канала, каждый из которых образован последовательно установленными поворотным зеркалом, микрообъективом и точечной диафрагмой, а оси каналов сходятся на заготовке под углами и , отличающееся тем, что, с целью повышения качества и расширения класса получаемых решеток при упрощении устройства, один из углов падения излучения на заготовку

Номер патента: 1438469

Опубликовано: 20.02.2002

Авторы: Бажанов, Стрежнев

МПК: G02B 5/32

Метки: вогнутых, голографических, дифракционных, параметров, решеток, технологических

Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток путем определения расстояния от вершины решетки, установленной в спектрографе, до ее спектрального изображения в меридиональной и сагиттальной плоскостях, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, устанавливают решетку в спектрографе по автоколлимационной схеме для заданной длины волны , измеряют угол падения и дифракции для заданной длины волны , после чего измеряют расстояния...

Номер патента: 1559939

Опубликовано: 20.02.2002

Авторы: Бажанов, Стрежнев

МПК: G08B 5/18

Метки: делительная, дифракционных, переменным, решеток, шагом

Делительная машина для изготовления дифракционных решеток с переменным шагом, содержащая смонтированную с возможностью перемещения относительно станины делительную каретку, на которой с помощью пружинного параллелограмма установлена решетка-индекс, оптически связанная с решеткой-шкалой, установленной на станине, а пружинный параллелограмм связан с криволинейной направляющей, установленной на станине, посредством рычага, один конец которого закреплен на пружинном параллелограмме, а другой поджат к криволинейной направляющей, отличающаяся тем, что, с целью повышения качества изготовления дифракционных решеток, криволинейная направляющая выполнена в форме дуги асферической поверхности,...

Номер патента: 1524708

Опубликовано: 20.02.2002

Авторы: Бажанов, Куинджи, Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: вогнутых, дифракционных, решеток

Способ изготовления вогнутых дифракционных решеток, включающий нарезание на вогнутой подложке алмазным резцом на делительной машине непрямолинейных штрихов с переменным шагом, установку нарезанной решетки в спектрограф и измерение расстояний rs и rm от вершины решетки до ее сагиттального и меридионального спектральных изображений в меридиональной и сагиттальной плоскостях соответственно, отличающийся тем, что, с целью обеспечения заданных аберрационных характеристик изготавливаемых решеток, сначала осуществляют нарезание штрихов, устанавливая на делительной машине расчетные значения угла p...