Способ определения диэлектрической проницаемости

Номер патента: 1707570

Авторы: Крылов, Маков, Скрипников

ZIP архив

Текст

При проведении измерений двух резонансных частот основного типа опрецеление проводится по двум однотипным уравнениям5Р, 1, к к, И -д ); Р ( к к , я, д ),+1)ед Юа И 1,Г КР,Е,д) Р (г т к) (4) О 1Р а720 которое не зависит от,цлины резонатора.Критическая частота пустого резонатора определяется его геометрическими. размерами, но очевидно, что при внесении диэлектрицеского образца критическая эффективная частоа резонатора изменяется, поэтому в резонаторе с образцом она должна уточняться, В данном техническо) ешении эта операция проводится с помощью измеренных частот двух соседних резонан,- сов основного типа, для которых выполняется условие рсзонанса в видегГ -Гкрэ иг г и+12 "крэгде с - скорость света (с=2,99 гХ 10 мм/с);п - число полуволн, соотве) ствуюцих частоте первогГ) резонан 40са Г, укладывающихся на эквивалентной длине резонатораа,(и+1)число полуволн соотвст.т-.а "45вующих частоте вто;)ого резэнатора Г, укладывйощихсяна эквивалентной цлине резонатора,Г г- эффективнаЯ кР 11 тическаЯ цастста дпя рЕЗО)па )пра С Обраэцом материала,из уравнения (5) находим эфе)- тивную критическую цастоГу резГ)мотора с образцом Использование равенства (6) приводит уравнение (4) к виду Ф (Г 1,Г ,и) =Р 2 И( и Е О)(7)о= Р,(Гп1)В таком виде выражение (7) явля - ется. транценцентным уравнением с одним неизвестным Я.Конкретное выполнение предлагаемого способа рассмотрим на примеое опрецеления диэлектрической проницаемости образца материала методом короткого замыкания в полом цилиндрическом резонаторе с волной НО 1,При условии, что 1, ди 1.)10 /2, ГДЕ ф - ДЛИНа ВОЛНЫ В РЕЗаО 11 атОРЕ, рассмотрим для тангенциальной компоненты электрического поля решение )кра внения. Максвелла в соответствии с фиг,2 в ви е, д1 КЕ -1 К ЕЕ= Е е +Ее1Ограничивая задацу рассмотрением1) эла нс а фа з на границе ци зле кт ри квозцух с координатой 2 = 1. - д исчитая,что среда 11 более плотная,т.е. фаза колебаний электрическоговектора претерпевает изменение на 11,а с)руктура поперечного поля во вссмрезонаторе существенно не изменяесиполуцимк -а) -кК-а)эатас,(к,К,а+,(8)где К.2/с 11 Г-Г - волновоелкрчисло с - скорость светаэ 7с = 2,9910 мм/с; агр(г) - фаза комплексного коэЬфициента отражения г от циэлектрического образца на металлической подложкеВ соответствии с уравнением (4),используя (8), для двух резонансовос ноаного типа ээпишама э1 г -гтг) агГтЬ как,Е,а)) (9) соя( Г -Г -Е д) (1+Е) -2(1-Е)4 гг нены соответственно с выходом и входом блока 6 управления,По алгоритму, реализующему предлагэемый способ, была составлена программа решения трансцендентного уравнения (9) с уточнением по Формулам(10) и (11). Чля экспсримента былвыбран материал из кварцевой керамики и для резонатора с образцомбыли получены следую)1 ие данные: Г8,961849 ГГц, 1 = 9,224780 ГГц,д = 9,14 мм, расчет по которым опре= 3,345.(1.0) гДе Г 1(Э ижени еской асвгде рмуле астоои 5 обозначение Функции вычисления ближайшего ц:лого числа,Ф о р м гл зобрет ени емого спондрический Ч которого рная реана нающее споор 1, СВчэстотомер раяления,тор 1, моет ектор 3,после(1 оваора 1 чес его) (1+( )-2(1-с) Е з 1 п 1т э соь( а и оценивается по прибл вестному значению критич ты для пустого резонатор89 Радиус резонатора, по ф Для реализации предлага собв изготовлен поль:11 цили резонатор с волной Но ви показан на Фиг,3, аппарату лизация способа ",релставле фиг,1, устройство, реализу соб, содержит СВИП-генерат резонатор 2, детектор 3, ч модулятор 5, блок б уп ЭВИ 7, причем СВИП-генера аулятор 5, резонатор 2,блок управления соединены тельно, выход СВИП-генера Рез частотомер 4 соединен входом, а входы и вь(ходы.отли ча ющис целью повышенияления диэлектричесзе счет снижения и40 ления длины резонаРазмещают образецряют резонансные,наторов, определяютическую частоту45 ным частотам опредкую проницаемость нил диэлектри (есв ключа ющи Йз ме - частот Резонатора, й с я тем, что, точности опреде кой проницаемости, огрешности,ог редетора, в резонаторе материала и изме- частоты двух резот эффективнуюи по резон еляют диэлектрицес1707570с/(1,63789,г ) - критическая частота;определяемая диэлектрическая проницаемость,резонансные частоты двухрезонансов, ГГц,толщина образца, мм,г - радиус резонатора, мм, с - скорость света2,9910" мм/с,9Ц - обозначение Функции вычисления ближайшего целогочисла.1707570 д вител И,Горн ектор АфОбручар ехрец еаактор отписное при ГЕНТ СССПроизводственно"издательский комбинат "Патент", г. Унгород, ул. Гагарина101 Здкаа 766 ВНИИПИ Государ ого кс "нтета35, Москва,1 О.Богданов

Смотреть

Заявка

4703181, 03.04.1989

ОБНИНСКОЕ НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "ТЕХНОЛОГИЯ"

КРЫЛОВ ВИТАЛИЙ ПЕТРОВИЧ, СКРИПНИКОВ ВАЛЕРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, МАКОВ АЛЕКСЕЙ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, проницаемости

Опубликовано: 23.01.1992

Код ссылки

<a href="https://patents.su/5-1707570-sposob-opredeleniya-diehlektricheskojj-pronicaemosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения диэлектрической проницаемости</a>

Похожие патенты