Способ сортировки полупроводниковых приборов и устройство для его осуществления

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сова СфеетскнкСоцналнстнчесмнкРеспублнк(22) Заявлено 06,07. 78(21) 2639123/18-21 н 0121/00 с присоединением заявки ЮГосударственный комитет СССР но делам нэобретений и открытийДата опубликования описания 2302.83 Л.Н.Петров, В.А.Адоньев и В.И;койбнов(72) Авторы . изобретения 71) Заявите Однако известное устройство малопроизводительно.Цель изобретения - повьваение производительности.Поставленная цель достигается.тем,что согласно способу сОртировки полу-:проводниковых приборов, включающемуоперации подачи каждого полупроводникового прибора, подключения к контактному механизму, замера электрических параметров полупроводниковогоприбора, отключения его от контактно-го механизма и выгрузки, операцию .подключения одного полуйроводниково.го прибора и контактному механизмуосуществляют одновременно с операция-.ми отключения от контактного механизма и выгрузки другого полупроводникового прибора..Устройство для осуществления способа, содержащее соединенные с приводом механизм загрузки.транспортирующий механизм, контактный механизмс контактными элементами, соединенны. 5 ми с блоком Измерений электрическихтров полупроводниковых приборорузочные лотки, контактный мевыполнен двухпозиционным ин автономным приводом его воз.3-поступательного перемещения Изобретение относится к изготовлению полупроводниковых приборов, в частности к сортировке их по электрическим параметрам.Известен способ сортировки полупроводниковых приборов, .включающий операции подачи каждого полупроводни- кового прибора, подключения к контактному механизму, замера электрических параметров полупроводникового прибора, отключения его от контактного механизма и выгрузки 1 ,Однако этот способ малопроизводилен из-за.неполного использования блока измерений, . 15Это обусловлено тем, что используемый способ последовательного, рассовмещенного выполнения операций и реализующие способ устройства используют измеритель только на 60. те ройство для сорвых приборовс приводом.мепортирующий,меанизм с контакдиненными с блоеских парамет- приборов и раэ Известно также.уст тировки полупроводник содержащие.соединенны ханизм загрузки, тран ханизм, контактный ме тными элементами, сое ком измерений электри ров полупроводниковых грузочные лотки Г 2)п араме и разг ханизм снабже О. вратно 4) СПОСОБ СОРТИРОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОР. И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯотносительно механизма загрузки, а контактные элементы контактного механизма каждой позиции установлены с возможностью их одновременного пере.мещения.На фиг.1 схематично представлено устройство, реализующее предлагаемый способ сортировки, на фиг.2 - контакт. ный механизм.Устройство содержит механизм загрузки, включающий вибробункер 1 и лоток 2 для ориентированной подачи полупроводниковых приборов в двухпозиционный контактный механизм 3, который служит для подключения сортируемых полупроводниковых приборов к 5 блоку измерений (не показан) их электрических параметров. Контактный ме.ханизм 3 установлен с воэможностью возвратно-поступательного перемещения относительно лотка 2 с помощью Щ автономного привода 4. Для приема и подачи в соответствующую тару разбракованных приборов служит карусель 5, карманы 6 которой совмещаются с разгрузочными лотками 7 (показан один лоток), по которым разбракованные приборы подаются в соответствующую тару 8 по группам. Контактный механизм содержит корпус 9, в котором выполнены загрузочные пазы 10 и 11. Передние части боковых поверхностей ксрпуса образуют опорные площадки 12 и 13 для выводов 14 измеряемых полупроводниковых приборов, Контактные элементы 15 и 16 установлены симметрично относительно корпуса 9 и закреплены в стойке 17 корпуса 9 контактного механизма 3. В стойке 17 также установлена подвижная вилка 18, продольные образующие которой (рычаги) своими концами взаимодействуют с 4 О контактными элементами 15 и 16. Вилка 18 посредством рычагов 19 и планки 20 соединена с ее приводом 21,Контактные элементы 15 и 16 могут быть смонтированы отдельно от контактного 145 механизма 3 и снабжены приводом. 1 О Устройство работает следующим об, разом.ФИз вибробункера 1 по лотку 2 при- бор подается в загрузочный паз 11 контактного механизма (первая позиция). Этот паз совмещен с лотком 2 и с одним из карманов. карусели 5, В это время привод 21 вилки 18 переводит концы ее образующих 22 (рычагов) 55 в крайнее левое положение. При этом правые контактные элементы 15 эа счет их упругости прижимаются к выводам 14 прибора, находящегося в пазу 11 и блок измерений начинает замер 6 О параметров, Одновременно с контактированием прибора включается привод 4 контактного механизма 3 и он перемещается в правое положение (вторая позиция). В процессе движения выполня ются измерения электрических п,;,.аметров прибора. В положении контактногомеханизма 3 на второй позиции в паз 10 подается из лотка 2 очередной прибор, а привод 21 вилки 18 переводитее концы в крайнее правое положение, при этом от выводов прибора, находящегося в пазу 11 отводятся контактные элементы 15, а контактные элементы 16 контактируют с выводами другого полупроводникового прибора, находящегося в пазу 10. Прибор из паза11 подается в одни из карманов карусели 5 и транспортируется для выгрузки в тару соответствующей группы. Далее цикл повторяется. Дпя измеренияпо двухпроводной системе Кельвина могут быть использованы опорные площадки 12 и 13, В этом случае они выполняются локализовано токопроводящими и соединяются с блоком измерений.Контактный механизм 3 может иметь ось качания как параллельно плоскости вращения карусели 5, так и перпендикулярно ей, может совершать возвратно-поступательное движение в плоскости вращения карусели, Сущность егофункции от этого не меняется. Контактные элементы могут прижиматься как под действием сил собственной упругости, так и под действием пружинных или механических прижимов. Таким образом, устройство практически не имеет холостых ходов, а время простояизмерителя определяется временем .срабатывания контактных элементов, что позволяет осуществить операцию подключения одногополупроводниковогоприбора к контактному механизму одновременно с операциями отключения отконтактного механизма и выгрузки другого полупроводникового прибора.Формула изобретения1, Способ сортировки полупроводниковых приборов, включающий операции подачи каждого полупроводникового прибора, подключения к контактному механизму, замера электрических параметров полупроводникового прибора, отключения его от контактного механизма и выгрузки, о т л и ч а ю -щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности, операцию подключения одного полупроводникового прибора к контактному механизму осуществляют одновременно с операциями отключения от контактного механизма и выгрузки другого полупроводникового прибора.2. Устройство для осуществления способа по п.1, содержащее соединенные с приводом механизма загрузки транспортирующий механизм, контактный механизмс контактными элементаии, соединенными с блоком измерениГ. электрических параметров полупровод никовых приборов, и разгрузочные лот,. ки, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что контактный механизм выполнен, двухпозиционным.и снабжен автономным .приводом его возвратно-поступательно:го перемещения относительно механизма загрузки, а контактные элементы контактного механизма каждой позиций установлены с возможностью их одно:воеченного перемецения.Источники инФормацин, принятые во внимание при экспертизе1. Проспект фирмы Даутагс, СМВ 1971, модель 3235.2. Авторское свидетельство СССР Ь 47248 бс кла" Я 05" Х 1362 р 1972.999127 каз 1169/76 Тираж 7 ое ВНИИПИ Государст по делам изобр 113035, Москва, 4/501 Подписивенного комитета СССРетений и открытийЖ, Раушская наб., д. лиал ППП фПатент", г.Ужгород, ул.Проектна Составитель З.Яшинар Г.Волкова Техред Т.Маточка Корректор М.Шарош