Способ определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К,АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(5 )М. Кл. 6 01 й 13/00/у 6 01 й 27/26 ЗЬвударетюиый комитет СССР ав делам изовретеиий н вткрмтий(72) Авторы изобретения Институт Физико-органической химии и сцехимии АН Украинской ССР(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВТОРОЙ КРИТИЧЕСКОЙКОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ ИОНОГЕННЫХПАВ Изобретение относится к физико- химии, конкретно к методам определения физико-химических свойств поверхностно-активных веществ (ПАВ), и может быть использовано: для подбора гидродинамически эффективных ПАВ.5Известен метод определения ККМпо изменению способности раствора ПАВ солюбилизировать нерастворимые в воде органические соединения 111.1 О Недостатками этого метода являют-ся изменение самой величины ККМ (чаще всего в сторону уменьшения) при насыщении раствора ПАВ,органи 15 ческим веществом и невысокая точность определения (ошибка 10) .Наиболее близким к предлагаемому является способ определения ККМ 1 по электропроводности раствора ПАВ 12).К недостаткам известного способа относится снижение точности определения ККМ растворов с добавками электролитов, так как последние сильно влияют на определение электропроводност и исследуемого раствора.Цель изобретения - повышение точности определения ККМ,Указанная цель достигается тем,что в способе определения второйкритической концентрации мицеллообразования ионогенных ПАВ, основанном на измерении концентрационной зависимости физико-химического парамет.ра системы, в качестве последнегоиспользуют электрофоретическуюподвижность, определяемую методомподвижной границы, а искомый параметр находят по минимуму на кривойэлектрофоретической подвижности вфу нкци и от конце нт рации;Способ осуществляют следующимобразом.В исследуемый раствор ПАВ добавляют любой водонерастворимый красительи на приборе Кена измеряют скоростьдвижения окрашенной границы при пропускании через раствор постоянногоформула изобретения 3 9265тока. Боковая жидкость представляет собой тот же растор ПАВ, но бездобавки красителя. Злектрофоретическая йодвижность и рассчитывается поФормулеО (1)0где С - расстояние (м), на котороеперемещается окрашенная граница за время й (С),д " расстояние между электродаоми, м;0 - напряжение постоянного тока,В.По результатам расчета строится15кри ва я зав исимости зле кт рофорети чесхой подвижности от концентрации ПАВ,минимум на кривой ККМ.П р и м е р 1, В 0-образную трубку прибора Кена последовательно помещают растворы цетилпиридиний хлорида (ЦПХ) с концентрацией 0,010,22 .моль/л (рН 3, 5), добавляя краситель Судан Й (0,01 г); О = 200 В;д = 0,35 м, С помощью секундомераопределяют скорость движения окрашенной границы (м/с) и по формуле (1)рассчитывают значения электрофорети,ческой подвижности. Результаты измерений представлены на фиг. 1.ККМ ЦПХ соответствует минимуму на30кривой и составляет 0,18 моль/лпри рН 3,5П р и м е р 2, В растворы додеоцилсульфата натрия (ДДСК) с концент"рацией О, О 1-О, 1 моль/л (рН 11, 6)добавляюткраситель Судан 1 Ч О, 005 гъц = 110 В, д = 0,35 м. Ход определения аналогичен примеру 1.Результаты измерений представлены на фиг, 1. ККМ ДДСН при рН 11,6 4 всоставляет 0;08 моль/л,П р и м е р 3. В растворы ЦПХс концентрацией 0,03-0,15; 0,0050,05 0,003"0,03 моль/л соответствен."но для добавок КСЙ 0,1 ф 0,2,фф03 моль/л прибавляют краситель Су 77 Фдан Д 0,01 г, 0 = 200 В; д = 0,35 м. Ход определения аналогичен примеруРезультаты измерений представлены .на фиг. 2. ККМд ЦПХ равны О,05 ф, Оф 030 ь 0,0 15 моль/л для концентрации КС 1 0,1 0,210, 3 моль/л соответственно.Предлагаемый способ прост, удобен в эксплуатации и не требует больших затрат времени. Причем присутствие в растворе кислот, щелочей и солей не влияет на точность определения ККМ Способ определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных ПАВ, осневанный на измерении концентрационной зависимости Физико-химического параметра системы, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности определения, в качестве последнего используют электрофоретическую подвижность, определяемую методом подвижной границы, а искомый параметр находят по минимуму на кривой электрофоретической подвижности в функции от концентрации. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Абрамович С,й., Мингазова Р,Афукс Г.И. Измерение критической концентрации мицеллообразования поверхностно-активных веществ в неполярных жидкостях. Коллоидный журнал.1976, т. 38, Г 2, с.230-233.2. Рябова М.С., Смирнов Н.И. Вторая критическая концентрация мицеллообразования в измерениях электропроводности растворов мыл. Журналприкладной химии. 1976, т. 49 Ю 11,с.2448-2454 (прототип).и юф ф . 5 аЫсимюпь:злейщРюжциям 1 юа 1 йеИижноппц ае80 фф койценярации НОЯ ври до 4 абких хлориста калия 0О Л Щ 05 1 Я калаа 1во нвэбмг р фЮ иг,ель Н.КлНадь инаорректорЗаказ 2976/380 НИИП Тираж 8 И Государствен по делам изобрет 13035, Москва, К
СмотретьЗаявка
2930787, 22.05.1980
ИНСТИТУТ ФИЗИКО-ОРГАНИЧЕСКОЙ ХИМИИ И УГЛЕХИМИИ АН УССР
СЕРДЮК АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, ЗАЙЦЕВ СЕРГЕЙ НИКОЛАЕВИЧ, КУЧЕР РОМАН ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 13/00, G01N 27/26
Метки: второй, ионогенных, концентрации, критической, мицеллообразования, пав
Опубликовано: 07.05.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-926577-sposob-opredeleniya-vtorojj-kriticheskojj-koncentracii-micelloobrazovaniya-ionogennykh-pav.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав</a>
Предыдущий патент: Способ испытаний хрупких материалов на термопрочность и устройство для его осуществления
Следующий патент: Способ определения удельной прочности на сдвиг соединения с натягом
Случайный патент: Устройство для контроля устойчивости работы искрового или дугового генератора электрических колебаний