Способ определения температуры нейтральных атомов в плазме
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ НЕЙТРАЛЬНЫХ АТОМОВ В ПЛАЗМЕ 1Изобретение относится к области днагнос.тики плазмы и может быть использовано дляопределения пространственного ржнределениятемпературы нейтральных атомов в плазме.Информация о пространственном распределении температуры и плотности нейтральныхатомов в плазме получается в настоящее времяиз спектроскопических "боковых" наблюденияс последующим преобразованием (типа преоб.разования Абеля) 111,Известен способ определения простраиствен- оного распределения энергетического спектра нейтрального водорода в плазме, основанный наметоде резонансной флуоресценции 121.По этому способу измерение температурыатомов в плазме осуществляют путем зондиро.вания электромагнитными резонансными волнами и регистрацией рассеянного плазмой излучения.Однако необходимость применения сложнойанализируюпюй аппаратуры рассеянного излуче,ния приводит к потере полезного сигнала, чтоведет к снижению чувствительности способаКроме того, необходимость применения сканирующего ннтерферометра Фабри-Перо в случае исследования плазмы с Тв" 1 - 10 эВ приводит к значительному уменьшению измеряемого объема плазмы, что такжеповышает предел тех плотностей нейтральных атомов, в которых воэ. можно измерение температуры. Целью изобретения является расширениедиапазона измеряемых температур, повышениечувствительности н упрощение используемойаппаратуры,Поставленная цель достигается тем, чтопо способу определения температуры атомовв плазме путем зондирования электромагнитными резонансными волнами и регистрациейрассеянного плазмой излучения плазму зондируют последовательно двумя электромагнитнымиВолнами с различной шириной спектра, причемодна из волн имеет спектральную ширину,превышающую ширину резонансной линии ато.ма, другая волна имеет спектральную ширинуменьше этой же резонансной линии, а температуру определяют по отношению получейных фло.уресцентных сигналов.5 8 г 894 З 6В качестве таких источников могут быть ис- регястрацией рассеянного плазмой излучения,пользованы лазеры на красителях. о т л н ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюТаким образом, преимущества предлагаемого расширения диапюона измеряемых температур,способа . заключаются в следующем; повышения чувствительности и упрощения исрасширяется диапазон измеряемых темпера- З пользуемой аппаратуры, плазму зондируюттур нейтральных атомов эа счет отсутствия последовательно двумя электромагнитнымисложной анализирующей аппаратуры; волнами с различной шириной спектра, причем-снижается минимальный предел плотностей одна иэ волн имеет спектральную ширяну,нейтрального компонента, в котором возможно превышающую ширяну резонансной линии ато.измерение температуры; 1 О ма, другая воляа имеет спектральную ширниу-существенно упрощается техника измерений меньше этой же резонансной линии, а темйвраи обработка результатов измерений, туру определяют по отношению получвннйхфлуоресцентных сигналов.Источники информации,ф о р м у л а Н э о б р е т е н и я 15 принятые всь внимание при экспертизе1. Диагностика плазмы. Под:ред.Р. Хадлсто 1 ЕвСпособ определения температуры нейтраль и С. Леонарда, МфМир", 1967, с. 247.иых атомов в плазме путем зондирования 2. Авторское свидетельство СССР У 586779электромагнйтными резонансными волнами и кл. Н 05 Н 1/00, 1976 (прототип).Составитель С. ВласеТехред М,Тенер Корре едактор Н. Аристова Заказ 10535/8 Подписно 1303 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул ктная, 4 Тираж 862НИИПИ Государственного комитета СССпо делам изобретений и открытий5, Москва, Ж, Раушская набд. 4/
СмотретьЗаявка
2825282, 08.10.1979
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8851
КОПУБАНОВ В. Д, ЛЕТУЧИЙ А. Н
МПК / Метки
МПК: H05H 1/00
Метки: атомов, нейтральных, плазме, температуры
Опубликовано: 23.11.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-828943-sposob-opredeleniya-temperatury-nejjtralnykh-atomov-v-plazme.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения температуры нейтральных атомов в плазме</a>
Устройство для измерения скорости ударной волны нестационарной плазмы
Номер патента: 490018
Опубликовано: 30.10.1975
Автор: Мишин
МПК: G01P 5/18
Метки: волны, нестационарной, плазмы, скорости, ударной
...цолклочсц к 13 я) у фотоирие)пик 1, явыхо через 7 пол - - к Бкопу регистратора.1-я чергсжс цокязяця фуцкциоцяльц;)я счс.513СРОГС)133;Л 51 11.3)ГСРЕЦ И 51 СКО )ОС Тц )71 Я Р.01 13 0 ГГ11(. СЯО:3 р ОГГЯ:3 )1 Ы .стРОЙГБО со;(РкГГ ГскРОР 3,3 Р 51 исГОуярцуо Грубу 1, фотоумцо)ките 31 2. рясцоГОЖСЫ(с Б ЗЯ;Я 1 ГК ССГ(.ИИ 5. .И Г) ;Я РЦОЙтрубы, Во 31 ТерцыЙГ Гювтортель-ицвертор 3,б,ок - и о Отоор 3 из 11)лсов. Кя)К,Ти из коОРЫ . СосСР)КИ 1 ИЦС 1 ЦЬ 1 Й КГ 1 ЮЧСВОИ КЯСКЯ 1)ро) 7. К ВЫХО) КО,ГЛСКТО)я ПО;КГ)10 ГЕ 11 Зя;О)ГИГ)ЯОиГГЙ коцпсцс;1 ГОР 8 и Гсйсс 1; быстРО-0 р 1 риц(1 ТОО КОИ;СИСсТорс), БЫПОЛИСИИЫЙ ИЯ ГР(1 изистОРс,). с)ОРзИРО 31 тсл 1 О )ГГР)вл 51- ГОЦ(сГО ИЗГП) ЛЬСЧ; сЛ)ЖИТ П;15 .3)П)СК 3 И ЗГ)ПИР с. 1 ц 1 5 К 3 С К с П с 31. Г р с 13 И...
Способ определения длины волны спектральных линий
Номер патента: 1603202
Опубликовано: 30.10.1990
Авторы: Демин, Султанбеков
МПК: G01J 3/12
Метки: волны, длины, линий, спектральных
...4 соответствующая максимал ному значению интенсивно ти реперной спектральной+аЬХ сс С С с 1 с С 1 с средние величины освещенности элементов фотоприемника 4 с номерами И,М и 0+1 при аппроксимации контура спектральной линии ступенчатой Функцией (4); сс с 1 саа Ььгдеа ЪС = С 1 С 45 Ь =Ь-ЬЬХс С а Ье адс Х - ЬХ сс Ф 950 значения сигналовс частей элементовфотоприемника 4при смещении симметричного контурана величину ЬХ,ДХ ЬХ= с 1 - Й - + са линии;Х, - расстояние от начальногоИ 1 щэлемента фотоприемника .4до середины элемента фотоприемника 4 с максимальнымзначением интенсивности оптределяемой спектральной линии;с - величина сигнала с (Я+щ)- го элемента фотоприемника4, соответствующая максимальному значению интенсивности определяемой...
Способ определения длины волны спектральной линии
Номер патента: 1827550
Опубликовано: 15.07.1993
Авторы: Демин, Султанбеков, Яндуганова
МПК: G01J 3/42
Метки: волны, длины, линии, спектральной
...0,05 мм.Источником излучения служила лампа сполым катодом на элемент никель с источником питания ИПС. Использоваласьбезлинзовая система освещения, Спектррегистрировался многоэлементным твердотельным фотоприемником, содержащим500 элементов, Размеры площадки элемента 0,02 бх 0,5 мм. Полученные данные усреднялись из 5 значений и выводились на экранмонитора в виде номеров элементов фотоприемника со значением сигнала на них,причем возрастание порядковых номеровсоответствовало росту длин волн спектральных линий.В качестве реперной была выбрана спектральная линия с длиной волныо3012.ООА 3).В табл.1 приведены длины волн спектральных линий и соответствующие им номера элементов фотоприемника созначениями сигналов на них.В табл,2 приведены...
Устройство для определения температуры плазмы по методу обращения спектральных линий
Номер патента: 148551
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Боберский
МПК: G01J 5/52
Метки: линий, методу, обращения, плазмы, спектральных, температуры
...пламени запускается ждущая развертка осциллографа 10 и открывается фотозатвор 4, Затем включается импульсная лампа 2 и через монохроматор 7 наблюдают на экране осциллографа некоторую спектральную линию от исследуемого объекта 11 на фоне непрерывного спектра лампы 2,Если температура пламени выше температуры лампы 2,видна на фоне непрерывного спектра, если температура плаже - линия обращена, и если температуры равны - линияИзменяя накал лампы 2 добиваются исчезновения линий.148551 Для упрощения измерений монохроматор 7 выполняют с двумя щелями, вырезающими два соседних узких спектральных участка, один из которых включает в себе исследуемую спектральную линию, а другой не включает ее. На экране осциллографа 10 записывают кривые изменения...
Способ определения параметров плазмы
Номер патента: 586779
Опубликовано: 23.12.1980
Авторы: Гоцубанов, Летучий, Павличенко
МПК: H05H 1/00
Метки: параметров, плазмы
...10 сканирующая система. Интенсивное излучение плазменногофокуса вызывает резонансный переходатомов водорода с невоэбужденного со стояния 15 на уровень 2 р, с последующим спонтанным распадом возбужденногоуровня. Распад вынужденного возбужденного состояния атомов водорода сопровождается излучением электромаг нитной волны на длине волны Х1216 А, причеА интенсивность этогорезонансного излучения пропорциональ;на концентрации атомов водорода в облучаемой точке плазменного объема.25 Йзлучение атомов водорода принимается при помощи фотодетектора, соединенного с плазменной установкой вакуумированным каналом. Нижний предел,измерения концентрации нейтральных 30 атомов водорода составляет 10 см. В. Д. Коцубанов, А. Н. Летучий и О. С....
Предыдущий патент: Способ получения натриевой соли n-(2, 3-диметилфенил) антраниловой кислоты
Следующий патент: Способ непрерывного литья полых чугунных заготовок и устройство для его осуществления
Случайный патент: Способ обезвоживания нефти