Устройство для определения температуры плазмы по методу обращения спектральных линий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 148551
Автор: Боберский
Текст
ИСАНИЕ ИЗОБРТЕНИАВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ одпасная группа М 171 ерскийЕДЕЛ ЕНМЫ Г. А. Бо СТРОЙСТВО ДЛЯ ОПР ПЛАЗЕМП ЕРАТУРЫ 1 г. за733451/26-10открытий при Совете Минист Заявлено 7 июня Комитет по делам изобретенийизобретений1962 г. бликовано в Боллете ьс юн то линия мени ниисчезает. Изобретение относится к устройствам измерения температуры плазмы по методу обращения спектральных линий, При использовании этого метода для определения температуры пламени в качестве источника, создающего непрерывный спектр, на фоне которого наблюдают отдельную спектральную линию исследуемого объекта, применяют лампу накаливания,Однако применить такую лампу при исследованиях температуры плазмы не представляется возможным, так как яркостная температура источника непрерывного спектра должна быть не меньше яркостной температуры исследуемого объекта (у лампы накаливания эта температура не превышает 3000),Для повышения верхнего предела измеряемых температур при исследованиях плазмы предлагается, согласно изобретению, в качестве источника непрерывного спектра применить импульсную лампу с плавно изменяющейся во времени яркостью, Такая лампа дает непрерывный спектр со спектральным распределением, близким к солнечному спектру, а яркостная температура ее может достигать 15.000.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для определения температуры плазмы.Устройство содержит лампу 1 накаливания, импул ную лампу 2, нормально закрытые фотозатвоуы 3 и 4, линзы 5 и 6, ъ охроматор 7, фотоэлементы 8 и 9 и двухлучевой осциллограф 10,Для определения температуры пламени запускается ждущая развертка осциллографа 10 и открывается фотозатвор 4, Затем включается импульсная лампа 2 и через монохроматор 7 наблюдают на экране осциллографа некоторую спектральную линию от исследуемого объекта 11 на фоне непрерывного спектра лампы 2,Если температура пламени выше температуры лампы 2,видна на фоне непрерывного спектра, если температура плаже - линия обращена, и если температуры равны - линияИзменяя накал лампы 2 добиваются исчезновения линий.148551 Для упрощения измерений монохроматор 7 выполняют с двумя щелями, вырезающими два соседних узких спектральных участка, один из которых включает в себе исследуемую спектральную линию, а другой не включает ее. На экране осциллографа 10 записывают кривые изменения интенсивностей указанных участков в процессе разгорания импульсной лампы и определяют точку их пересечения, соответствующую моменту обращения исследуемой спектральной линии.Для калибровки по температуре необходимо в тех же условиях записать калибровочный импульс от лампы 1 накаливания с известной температурой ввиду того, что вспышки импульсной лампы даже при одинаковых условиях недостаточно воспроизводимы,В случаях, если измеряемая температура намного выше температуры лампы 1 накаливания, то при записи калибровочного импульса необходимо соответственно увеличивать усиление осциллографа 10 в некоторое число раз.Для этой пели снова запускают ждущую развертку и открывают на короткое время затворы 8 и 4 на экране осциллографа 10 фиксипуют калибровочный импульс от лампы 1, который фотографируется на ту же пленку, что и кривые изменения во времени интенсивностей.Вычисление температуры плазмы по предлагаемому способу производится весьма быстро. Частота замеров температуры определяется допустимой частотой вспышек импульсной лампы. Предмет изобретения Применение импульсной, пампы в устройствах для определения температуры плазмы по методу обращения спектральных линий, обес печивающее повышение верхнего предела измеряемых температур,.оставитель А, Е. Зарохов А. Камышиикова Корректор Е. Л, Кога П. Золотар ех едактор Подп. к печ, 24.Ъг.Зак. 5615ЦБТИ Комитета по деламМоскв Объем 0,18 изд. л.Цена 4 коп,Совете Министров СССРд. 2/6. Формат бум.Тираж 850 зобретений и о Центр, М. Черк Р,1 О ткрытии п асский пер иографин ЦБТИ, Москва, Петровка, 14.
СмотретьЗаявка
733451, 07.06.1961
Боберский Г. А
МПК / Метки
МПК: G01J 5/52
Метки: линий, методу, обращения, плазмы, спектральных, температуры
Опубликовано: 01.01.1962
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-148551-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-temperatury-plazmy-po-metodu-obrashheniya-spektralnykh-linijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения температуры плазмы по методу обращения спектральных линий</a>
Предыдущий патент: Поляризационный интерферометр-рефрактометр
Следующий патент: Электропечь для градуировки термопар из благородных металлов до 1800
Случайный патент: Устройство для автоматического управления процессом обжига сырьевой смеси во вращающейся печи