Способ определения параметров плазмы

Номер патента: 787964

Опубликовано: 15.12.1980

Авторы: Богачев, Драпкин, Заяц, Макаров, Сердюк, Янчуров

МПК: G01N 24/00

Метки: изменения, параметров, спектров, эпр, ямр

...через нулевое значение знак эталонного напряжения при помощи устройств 3, 4 и 5 меняется на противоположный, и при новом совпадении величин напряжения сигнала первой производной и эталонного напряения происходит выключение измерителя 7. Величина длительности измеренного временного интервала, пропорциональная интенсивности и ширине спектральной линии ЭПР или ЯИР, запоминается с помоцью блока 8 памяти. После возвращения спектрометра в исходное состояние осуществляется воздействие или изменение величины воз - действия на исследуемое вещество.)1 ного командного устройства, управляемого от системы регистрации и блокапамяти, Командное устройство осуществляет запуск самого процесса измерения и дает команду в блок памяти назапоминание и...

Номер патента: 671682

Опубликовано: 30.05.1986

Авторы: Бошняк, Жиглинский, Кунд, Преснухина

МПК: H05H 1/00

Метки: атомов, концентрации, металла, низкотемпературной, плазме

...произвести локальное определение концентрации атомов металла. 35Целью изобретения является локальное определение концентрации атомовметалла в низкотемпературной плазмеи повышение точности. Способ можетбыть также использован для диагностики плазмы в непрозрачной оболочке.Поставленная цель достигаетсятем что в исследуемую область вво-дят подложку в виде зонда Ленгмюраи сообщают ей потенциал, равный потенциалу плазмы в этой области, аконцентрацию атомов металла рассчитьвают по формуле:2 ММ ссй А 1 гча где Ы - коэффициент прилипания атомов исследуемого металла;и - концентрация атомов металла, см ;М - количество конденсата, г;ВВЯ - число Авогадро;- время конденсирования атомовметалла на зонд, с;А - атомный вес...

Номер патента: 331328

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Минин, Михайло, Павлюк

МПК: G01R 23/16

Метки: впеполосного, излучения, параметров, радиопередатчика, спектра

...Этот импульс, поступая на вход оси 7 индикатора 9, производит индикацию на очбяющсй спектра исследуемого сигнала второй границы занимаемой полосы частот, а поступая на вход управления вентиля 20, шовь открыгяст его, в результате чего счетчик 2 производит второй отсчет частоты гстсродина 3, соответствующей второй границе зашимасмой полосы частот исследуемого сигнала.В конце первого цикла работы, когда частота гетеродина 3 становится равной ) , спектр исследуемого сигнала полностью выходит из полосы пропускания фильтра 12. Одновременно заканчивается анализ этого спектра и его воспроизведение на индикаторе 9 вместе с отметками границ ширины занимаемой полосы частот. В момент окончания пилообразного импульса генератора 19 селектор 18...

Номер патента: 828943

Опубликовано: 23.11.1982

Авторы: Копубанов, Летучий

МПК: H05H 1/00

Метки: атомов, нейтральных, плазме, температуры

...цель достигается тем, чтопо способу определения температуры атомовв плазме путем зондирования электромагнитными резонансными волнами и регистрациейрассеянного плазмой излучения плазму зондируют последовательно двумя электромагнитнымиВолнами с различной шириной спектра, причемодна из волн имеет спектральную ширину,превышающую ширину резонансной линии ато.ма, другая волна имеет спектральную ширинуменьше этой же резонансной линии, а температуру определяют по отношению получейных фло.уресцентных сигналов.5 8 г 894 З 6В качестве таких источников могут быть ис- регястрацией рассеянного плазмой излучения,пользованы лазеры на красителях. о т л н ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюТаким образом, преимущества предлагаемого...

Номер патента: 1402875

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Акимов, Вакорин, Виноградов, Фомичев

МПК: G01N 23/207

Метки: высоковакуумный, излучения, монохроматор, области, рентгеновской, синхротронного, спектра, ультрамягкой

...дЕ=0,6- 0,07 эВ в области концентрации при ширине щелей монохроматора 5 мкм.Решетка Мф 2 (Вр 2992 мм, р=600 -- ,штрмм , =1 8, Ч" = 4, Ац-покрытие) имеетоообласть концентрации дифрагированного излучения=4-12 нм и при ширине щелей монохроматора 5.мкм обеспечивает в этом спектральном интервале энергетическое разрешение 0,2-0,03 эВ.Решетка В 3 (К=. 1995 мм, р=600 в в , 25штр 2Го=2 48 , Ац-покрытие), установленнаяопод углом 6 1 , дает высокие коэффициенты отражения дифрагированного излучения в области длин волн 17- 50 нм с энергетическим разрешением 0,01-0,001 эВ (ширина щелей 5 мкм).Таким образом, предлагаемые три дифракционные решетки обеспечивают во всей спектральной области работы35 монохроматора энергетическое разрешение АЕ, лучшее...