Устройство для коррекции отказов дублированных релейных элементов

Союз СоветскнкСоцналнстнческнкРеспублик ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(51) М, Кл. С 06 Г 11/00, Н 05 К 10100 с присоелинением заявки Рй Гооударстввииый комитет СЕСР(23) Приоритет до делам изобретений и открытий(53) УДК 681.325. . 019 ( 088.8) Дата опубликования описания 07.05.80(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОРРЕКЦИИ ОТКАЗОВДУБЛИРОВАННЫХ РЕЛЕЙНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ 1Изобретение относится к цифровой техяике и может быть использовано в устройствах. релейной зашиты энергетических объектов, в устройствах автоматического управления и в управляющих вычислительных машинах. 5Известно устройство для коррекции оч- казов дублированных логических элементов, содержащее резервируемые логические блоки, выходы которых соединены со входами восстанавливающего блока 1),Недостаток устройства - увеличение параметра потока отказов некорректируемого типа, так например, при использовании корректирующего устройства, выполненного в виде схемы И, сокращается параметр потока ложных срабатываний дублированных релейных элементов, но повышается параметр потока отказов в срабатывании при использовании корректиру20 ющего устройства, выполненного в виде схемы ИЛИ - наоборот.Наиболее близким техническим решением к изобретению является устройство 2для коррекции отказов дублированных релейных элементов, содержащее подключенньй к выходам релейных элементов через первый элемент контроля элементзадерж ки, к выходу которого подключен блок проверки релейных элементов, и элементы И, ИЛИ, НЕ 2. Недостаток устройства состоит в том, что наличие в составе релейного элемента инерционных звеньев может приводить к заметному снижению быстродействия корректирующего устройства. Кроме того, устройство не обеспечит правильную коррекцию ошибок дублированных релейных элементов, если необходимое для их сра батывания входное воздействие существует кратковременно, исчезая до момента завершения тестовой проверки (указанноь явление характерно для релейных элементов, входящих в состав селективных измерительных органов зашиты линий элентропередач ЛЭП постоянного тока, условия для срабатывания которых существуют3 7328только в течение определенного интервала времени после возникновения аварии).Цель изобретения - расширение функциональных возможностей и повышение бысъродействия устройства.БПоставленная цель достигается тем,что устройство для коррекции отказов дублированных релейных элементов содержитвторой алемент контроля, к входам которого подключены выходы релейных элементов и элемента задержки, а выход подключен к одному из входов алемента ИЛИ, ковторому входу которого подключен выходэлемента И, к входам которого подключены выходы релейных элементов И через 15элемент НЕ выход элемента задержки,На фиг, 1 приведена блок-схема устройства при любом виде испытательноговоздействия; а на фиг. 2, 3 - частные. случаи блок-схем устройства, когда испытательное воздействие переводит исправный реленый элемент в сработанное и не- (1сработанное состояние соответственно,Устройство (фиг. 1) содержит дублированные релейные элементы. 1 и 2, элемент И 3, первый элемент 4 контроля,элемент 5 задержки, второй элемент 6контроля, блок 7 проверки релейных алементов, алемент НЕ 8 и элемент ИЛИ 9,Устройство (фиг, 2) содержит второйэлемент 6 контроля, выполненный на альментах 10 неравнозначности и элементе11 задержки.Устройство (фиг. 3) содержит второйэлемент 6 контроля, выполненный на эле 3ментах НЕ 12 и 13 и элементе ИЛИ 14.Устройство для коррекции отказов дублированных релейных элементов работаетследующим образом,При отсутствии отказов в дублирован- фных релейных элементах 1, 2 сигналы наих выходах совпадают, и первый элемент4 контроля находится в несработавшемсостоянии, так как условия срабатыванияегоХ,= Х,Х,+Х,Хгде Х, Х,Х, - сигнапй на выходах дублированных релейных элементов 1, 2 иэлемента. 4 контроля соответственно,При атом в несработавшем состоянии на- фходится элемент 5 задержки и второйэлемент 6 контроля и источник испытательного воздействия,Если требования к срабатыванию релейных элементов нет, указанные алеменЯты находятся в несработавшем состоянии,что обуславливает несрабатывание элемен.та И 3 и всего устройства (элемент 75ИЛИ 9). При появлении требования к срабатыванию релейных элементов оба онисрабатывают, приводя к срабатыванию элемент И 3 и элемент ИЛИ 9,При возникновении в одном из релейных элементов неисправности, приводящейк несоответствию в работе элементов,срабатывания элемента И 3 не проходит. Воз.никшее несоответствие фиксируется элементом 4, что приводит к срабатыванщоэлемента 5 задержки, срабатывание которого приводит к срабатыванию блок 7 проверки релейных элементов, который подает сигнал тестовой проверки на входы ре-лейных элементов 1, 2. Кроме того, присрабатывании элемента 5 задержки навыходе элемента НЕ 8 появляется сигналсоответствующий логическому фО", чтоисключает срабатывание элемента И 3. Если на поданный тест правильно реагируетрелейный элемент, сработавший при возникновении несоответствия, элемент 6 срабатывает, вызывая срабатывание элемента ИЛИ 9. При этом срабатывание корректирующего устройства (срабатывание элемента ИЛИ 9) происходит сразу же послеокончания теста (срабатывания элемента6), Срабатывание корректирующего устройства произойдет независимо от тогопродолжают ли существовать условия длясрабатывания релейных элементов. Еслиже на поданный тест правильно реагирует релейный элемент, не сработавший привозникновении несоответствия, срабатывания элемента 6 не происходит, В несработавшем состоянии остается и устройство коррекции,Для случая, когда формируемое испы- тательное воздействие переводит исправный репейный элемент в сработанное состояние (фиг. 2), при возникновении несоответствия происходит запуск элемента 11 задержки. Если несоответствие было обусловлено отказом в срабатывании релейного алемента (исправен сработавший элемент), то несоответствие сохраняется и после окончания теста, элемент 11 задержки набирает выдержку времени и срабатывает, выдавая сигнал на срабатывание элемента ИЛИ 9. Если же несоответствие было вызвано ложным срабатыванием релейного элемента (исправен несработавший элемент), то после подачи указанного теста в сработанном состоянии окажутся оба релейных элемента, несоответствие исчезнет, и срабатывания элемента 11 задержки не произойдет,5 7328В случае, когда формируемое испытательное воздействие переводит исправныйрелейный .элемент в несработанное состояние (фиг. 3) при возникновении несоответствия из- за отказа в срабатываниирелейного элемента (исправен, сработавшийэяемент), после подачи указанного тестаоба релейных элемента окажутся в несработавшем состоянии, что приведет к срабатыванию элемента ИЛИ 14 и элемента 10ИЛИ 9, Если же несоответствие было вызвано ложной работой одного из релейныхэлементов (исправен несработавший элемент), то несоответствие сохранится ипосле подачи теста, и условия для срабатывания элемента ИЛИ 14 не возникнут,Повышая быстродействие коррекции отказов в работе дублированных релейныхэлементов и расширяя возможности при.менения такой коррекпии, предлагаемоеизобретение сокращает ущерб, обусловленный отказом релейных элементов, и темсамым способствует повышению эффективности функционирования устройств, в состав которых входят указанные релейныеэлементы. Например, будучи примененнымдля коррекции отказов релейной защитыэнергетических объектов указанное уст. ройство сокращает ущерб, обусловленныйотказами реле защиты, не вызывая приэтом существенного ухудшения быстродействия защи 1 ы,75 б Формула изобретения Устройство для коррекции отказов дублированных релейных элементов, содержа щее подключенный к выходам релейных элементов через первый элемент контроля задержки, к выходу которого подключен блок проверки релейных элементов, и элементы И, ИЛИиНЕ, отличающее с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей и повышения быстродействия устройства, оно содержит второй элемент контроля, к входам которого подключены выходы релейных элементов и элемента задержки, а выход подключен к одному из входов элемента ИЛИ, ко второму входу которого подключен выход элемента И, к входам которого под. ключены выходы релейных элементов и через элемент НЕ выход элемента задерИсточники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Доманицкий С. М, Построение надежных логических устройств. М., фЭнергия, 1971, с 67, рис. 3, 4.2. Шербаков Н, С, Самокорректирующиеся дискретные устройства. М., Маши ностроение, .1975, с. 108-109, рис.48 (прототип) .Составитель В. МаксимовРедактор С. Головенко Техред О. Андрейко Корректор И, МускаЗаказ 1739/39 Тираж 751 Подписное ЦН ИИПИ Государственного комитета СССР по делам юобретений и открыткой 113035, Москва, Ж 35, Раушскаи набд, 4/5 Филиал ППП фПатент, г.Ужгород, ул.Проектная, 4