Измеритель времени рассасывания транзисторов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 655997
Автор: Шатило
Текст
О П И С А Н И Е (п)655997ИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДВТЙЛЬСТВУ Союз Советских Социалистицеских Республик(22) Заявлено 06. 04.7 7 (21) 2470951/18 присоединением заявки 23) ПриоритетОпубликовано 05,04, ,П,ать опубликования асударственнаЭ юатат СССР в делам иаоарвтвннй и открытий.И,Ш инский радиоге ский институт(71) Заявитель РИТЕЛЬ ВРЕМЕНИ РАССАСЫВАНИЯ ТРАН РОВ 4) чива изм Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для выходного контроля и разбраковки изделий, входного контроля, а также в научно-исследовательских лабораториях при разработке импульсных схем на транзисторах.Известно устройство дпя измерения времени переходных процессов в грензисторе, содержащее источники питания и смещения, генератор импульсов и индикатор 1.Измерение 1 с помощью импульсного генератора и измерителя временных интервалов (особенно быстродействующих транзисторов ) встречает серьезные трудности, связанные с необходимостью получения импульсов с крутыми фронтами н обеспечения очень широкой полосы пропускания измерителей временных интервалов, Такие устройства обычно сложны, дорогосгоящи и обеспеют сравнительно невысокую точностьерений. Некоторое упрощение измерений 1обеспечивает устройство, наиболее близкое по техническому решению к предлагаемому измерителюи содержащее импульсную линию задержки, соединеннуюс индикатором и переключателем гока,выход которого подключен к базе испытуемого транзистора, источник питания,соединенный через эталонный резисторс коллектором испытуемого транэисгоа ра 12 д,В этом устройстве задержка спадаколлекторного гока транзистора при подаче в базу запирающего перепада гока(г.е. время рассасывания (преобра 5зуется в изменение периода колебанийкольцевого генератора, в который включен испытуемый транзистор.Однако, в известном устройстве пе 20риод колебаний зависит не только отвремени рассасывания , но и ог задержки нарастания коллекгорного гокапри подаче в базу испытуемого транзистора огпирающего перепада тока, когорая являегся функцией ог постоянной,это вызывает погрешность в измерениях, достигающую 5-8", что в рядеслучаев может оказаться неприемлемым.Кроме гого, необходимость калибровкиустройства с помощью эталонных транзисторов усложняег настройку и эксплуатацию устройства,Цель предлагаемого изобретения -повышение точности измерений, устра.нение необходимости калибровки устройства.для этого в устройство введены регулируемый источник тока, резистор дискриминатора тока, выход которого подключенк линии задержки, в вход соединен с регулируемым источником тока и вторымвыходом переключателя гока и через резистор - с коллектором испытуемоготранзистора.На фиг. 1 представлена структурнаясхема предлагаемого измерителя; на фиг.2 - функциональная схема переключателятока; на фиг. 3 - временные диаграммыработы измерителя.Предлагаемый измеритель временирассасывания транзисторов содержит(фиг. 1) импульсную линию 1 задержки,соединенную с индикатором 2 и транэисгорным переключателем 3 тока, первыйвыход которого подключен к базе испытуемого транзистора 4. Коллектор испытуемого транзистора 4 через эталонныйрезистор 5 соединен с источником 6 питания и через резистор 7 - со вторымвыходом переключателя 3 тока, регулируемым источником 8 гока и входомдискриминатора 9 тока, выход которогоподключен ко входу линии 1 задержки.Работаег измеритель следующИм образом.При поступлении на вход переключателя 3 гока (фиг. 1,2) положительногоперепада (фиг. З,а), транзистор Т (фиг.2) закрывается и с первого выхода переключателя 3 гока в базу испытуемоготранзистора 4 начинает втекать отпирающий ток 1 б (фиг. З,б). Транзистор Тоткрывается и ток 1 (фиг. 2) со второго выхода переключателя 3 гока поступает на вход дискриминатора 9 гока(фиг. З,в). При этом на выходе дискриминатора 9 гока появляегся отрицательный перепад (фиг. З,д), который задерживается цепью последовательно соединенных логических схем 1 и через время 1 появляегся на входе переключате,ля 3 гока. При этом ток 1 переключается со второго выхода переключателя 3 тока на первый (иэ транзистора Т в гранзисгор Т -фиг. 2) и в базу испытуемого транзистора 4 пос тупее г эа пирающий перепад (фиг, З,б), Напряжение на коллекторе испытуемого транзистора 4 начинаег нарастать через время, равное времени рассасывания(фиг. З,г), Это напряжение посредством резистора 7 преобразуется в ток, который поступает на вход дискриминатора 9 тока (фиг.З,в).:Когда. сумма. тонов регулируемого источника 8 гока и тока через резистор 7 на входе дискриминатора 9 тока станет равной нулю, на его выходе появится положительный перепад напряжения (фиг. З,д), Полагаем, что дискриминатор 9 тока срабатывает при прохождении сигналом на его входе нулевого уровня. Величина тока 1 регулируемого источника 8 гока выбирается в зависимости ог уровня отсчета. Обычно он устанавливается на уровне (О, 1 - О, 3)Е, где Е- напряжение источника 6 питания. Пня устранения влияния отсчегных уст ройств на режим измерения сопротивление резистора 7 должно быть значительно больше, чем сопротивление резистора 5 ( по меньшей мере на один-два порядка), поэтому ток 1 выбирается из соотношения1+ ад-;0131011-:Р 31-ЕгдеР 1 и К 2 - сопротивление резисторов5 и 7, соответственно. Положительный перепад напряжения с выхода дискриминатора 9 тока (фиг. З,д) через время6 поступит на вход переключателя тока (фиг. З,а), переключит ток 1, на второй выход переключателя 3 (фиг, 2), и, при выполнении условияЕ// Р(+ЙЯ 2 ( )1ток У переключит дискриминатор 9 тока 9 (фиг. З,г) независимо ог величины напряжениа на коллекторе испытуемого транзистора 4, Таким образом, период колебаний Т, устанавливаюшихся в измерителе при выполнении условия (1), равен Т = 2 1 Ф 1 (фиг. 3) и не зависит от скоростиспада напряжения на коллекторе испытуемого транзистора 4, при подаче в его базу огпирающего перепада гока, г.е. огЕсли же отключить испытуемый транзистор 4 ог схемы, го период колебаний устройства станет равным Т = 2, гак как в момент переключения гока 1 со второго выхода переключателя 3 тока на первый сумма токов 1 +Е/( Г 1,(+К).2на входе дискриминатора 9 становится больше нуля (фиг. З,в) и на его вькоде сразу же появляется положительный30 перепад (фиг. З,д, шгриховая линия). Поэтому измерив с помощью индикатора 2 период (частоту) колебаний устройства при подключенном и отключенном испытуемом транзисторе 4, можно определитьО время рассасывания транзистора где Т () и Т () - период (частоФЮ га) колебаний устройства при подключенЬном и отключенном испытуемом транзисгоре 4, соогве гс твенно.В качестве дискриминатора 3 тока в измерителе целесообразно использовать23 туннельный диод (ТД), который обеспечивает высокую чувствительность и быстродействие дискриминатора. формула изобретения Измеритель времени рассасываниятранзисторов, содержащий импульснуюлинию задержки, соединенную с индикатором и переключателем тока, выход когорого подключен к базе испытуемого гранзисгора, источник питания, соединенныйчерез эталонный резистор с коллекторомиспытуемого транзистора, о г л и ч аю ш и й с я тем, что, с цблью повышения точности измерений, в него введенырегулируемый источник тока, резистори дискриминатор тока, выход которогоподключен к линии задержки, а входсоединен с регулируемым источникомгока и вторым выходом переключателягока и через резистор - с коллекторомиспытуемого транзистора.Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе1. Сголярский Э. Измерения параметров транзисторов, М., Советское радио,1976, с, 236.2. Авторское свидетельство СССР489050, кл, б 01 К 31/26,17,01. 76.О/ЗбйТираж 1089 ЦНИИ ПИ Государственного по делам изобретения 113035, Москва, Ж, РаущПодписнокомитета СССи открытийская наб. д, 4 Филиал ППП "Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Составитель 7. Дозоровгор Б, Павлов Техред Н. Еабурка Корректор М, Божо
СмотретьЗаявка
2470951, 06.04.1977
МИНСКИЙ РАДИОТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ШАТИЛО НИКОЛАЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 31/26
Метки: времени, измеритель, рассасывания, транзисторов
Опубликовано: 05.04.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-655997-izmeritel-vremeni-rassasyvaniya-tranzistorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Измеритель времени рассасывания транзисторов</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения гистерезисных характеристик мдп структур
Следующий патент: Феррозонд
Случайный патент: Шнековый смеситель