Способ определения качества магнитных дефектоскопических порошков

(56) Авторское свидетельство СССРуф 879435, кл. С 01 И 27/84, 1981.Авторское свидетельство СССРФ 1163247, кл, С О 1 И 27/84, 1985.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКИХ ПОРОШКОВ(57) Изобретение относится к магнитопорошковой дефектоскопии и может бытиспользовано для контроля качестваферромагнитных порошков, близких по И. агом аналоги ния муаровой шка. 4 ил. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТ 1 ИЙ САНИЕ ИЗ своим свойствам, Целью изобретения является повышение точности и достоверности определения качества магнитных дефектоскопических порошков, Цель достигается тем, что в качестве изображения (меры чувствительности) испытуемого порошка используют нематическое (нитеобразное) изображение, которое формируют импульсным фотомагнитным методом дважды, идентичные изображения накладывают друг на друга так, чтобы совпали индикаторные следы равного шага, и смещают иэображения одно относительно другого на малыйоугол (не более 5 ), замеряют шаг обовавшейся муаровой картины и сравнивают его с таким же но полученного изобра картины эталонного по47 2модействующих) колебаний играет не шаг линий сеток с, а длина волны результирующего колебания - шаг муаровых полос Б (см, фиг. 1)При рассмотрении ячейки муаровой картины порошка (фиг, 4) можно определить эффективность данного критерия.Длина 1 половины диагонали ячейки равна 1=2+в Б 2йгде Е = - длина следа по диагонаСрЫ1ли 1, на которой сливаются валики порошкашириной Й в общий валикшириной 2 й,Так как для индикаторных следов равного шага с и равного угла смещения М половина диагонали ячейки 1 неизменна то справедливо равенство: й Б, йа Б, +.:+тра 2 рк 2 Б где К и К - критерии оценки качест 5 1ва используемого порошка по шагу муаровой,35картины и по ширине индикаторного следа соответственно,Так, при е = 5 К = О 25 К 14 О т.е. Кз т К в 25 раз при Ы, = 5 ф,При наложении двух систем прямыхиндикаторных следов одинакового шага с, повернутых на небольшой уголМ, одна относительно другой, распределение интенсивности света между45темными и светлыми муаровыми линиями зависит от соотношения ширины темных (индикаторных следов) и светлых(шаг следов) линий сетки (см.фиг.1). 1 13630Изобретение относится к нераэрушающему контролю материалов, а именно к магнитопорошковой дефектоскопииферромагнитных деталей, и может бытьиспользовано для проверки качествамагнитных порошков на соответствие ихзаданным во всех областях машиностроения,Целью изобретения является повыше Оние точности и достоверности определения за счет использования мауровыхполос, позволяющих увеличивать изображение.На фиг. 1 приведена схема способаопределения качества магнитных порошков; на фиг. 2 - муаровая картинаэталонного порошка; на Фиг, 3 - муа"ровая картина испытуемого порошка;на фиг. 4 - ячейка муаровой картины 2 Опорошка.Способ осуществляется следующимобразом.Распределение частиц испытуемогомагнитного порошка в виде ряда визуально наблюдаемых штрихов на прозрачной подложке формируют дважды. Полуиличенные изображения 1 и 2 накладываютдруг на друга так, чтобы совпали индикаторные следы равного шага, и сме- ЗОщают изображения одно относительнодругого на малый угол м5 до получения муаровой картины (см. Фиг. 1).Аналогично с таким же шагом получаютизображение муаровой картины 3 эталонного порошка. Замеряют шаг муаровой картины испытуемого Б и эталонного Б, порошков, сравнение которыхявляется критерием оценки качествапорошка,Анализируемым малым параметром(размером) в магнитопорашковой дефектоскопии является ширина индикаторного следа Й, измерение которого затруднительно. Муаровый же эффект даетвозможность видеть и измерять параметры объекта во много раз меньшие,чем позволяет визуализирующее устройство.= 2/срк К, Оптическое явление, .называемое муаровым эффектом, возникает при механическом наложении сеток сравнительна крупного шага, частота которых гораздо меньше частоты световых волн. Этот эффект иногда называют механической интерференцией по аналогии с обычной интерференцией света, Однако в отличие от интерференции световых ыалн, раль длины накладываемых (вэаиС помощью порошка, принятого за эталон по совокупности дефектоскопических свойств, для каждого типа магнитных порошков устанавливают условные границы качества - границы изменения шага муаровых полос Б, что значительно точнее непосредственного измерения ширины индикаторного следа й. Так, при изменении ширины индикаторного следа на несколько микромет1 ЗЯ ров шаг муаровых полос меняется на несколько миллиметров.Примененйе предлагаемого способа позволит производить более точно оценку качества магнитных дефектоско 5 пических порошков (при сс = 5, в 25 раз), где критерием качества является изменение шага муаровых полос; ввести метрологическое обеспе 10 чение средств и методов оценки качества магнитных дефектоскопических порошков; стандартизировать свойства контролируемых магнитных порошков. Использование более качественных15 порошков при контроле качества изделий магнитопорошковым методом позволит значительно повысить степень выявляемости дефектов. 20изобретения Формула Способ определения качества магнитных дефектоскопических порошков,047 4заключающийся в получении импульснымфотомагнитным способом изображенияраспределения частиц испытуемогомагнитного порошка в виде ряда визуально наблюдаемых штрихов и в визуальном сравнении полученного изображения с изображением распределенияэталонного порошка, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и достоверности определения, в качестве изображения распределения испытуемого порошка используют нитеобразное изображение, которое формируют импульсным фотомагнитным методом дважды, полученные изображения накладывают друг на друга так, чтобы совпали индикаторные следы равного шага, смещают изображения друг относительно друга на угол не более 5 , замеряют шаг образовавшейся муаровой картины и сравнивают его с таким же шагом для эталонного порошка1363047 Составитель А, Бодровбченко Техред М.Ходаниц Редактор рректор С. Шек аз 6396/3 Подписное оизводственно-полиграфнческое предприятие оектная жгоро Тираж 776 ВНИИПИ Государственного ко по делам изобретений и о 3035, Москва, Ж, Раушск