Устройство для контроля качества интегральных магнитных головок

Номер патента: 1117691

Авторы: Белоус, Вулло, Зайцев, Синьковский

ZIP архив

Текст

(1% (И)1 В 5 46 ЗОБР И ОПИС 8 ТОРС И ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ 8 ИДЕТЕЛЬСТВУ(56) 1. Ефимов Е.Т. Магнитные головки. М., "Энергия", 1976, с. 72.2. Авторское свидетельство СССВ 1012338, кл. С 11 В 5/46,3, Патент США й 3710235,кл, 324/342, 1973 (прототип).(54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИНТЕГРАЛЬНЫХ МАГНИТНЫХ ГОЛОВОК, содержащее анализатор сигнала,подключенный к выводам интегральноймагнитной головки, генератор испытательного сигнала, подключенный к токопроводящей шине, размещенной наобщей подложке с контролируемыми го"ловками, и блок управления, выходкоторого подключен к входу генератора, о т л и ч а ю щ е ес я тем, чтос целью повьппения.достоверности контроля качества. интегральных магнитныхголовок, в него дополнительно введены второй генератор испытательногосигнала и вторая токопроводящая шина, причем вход второго генератораиспытательного сигнала подключен квыходу устройства управления, а выход - к второй токопроводящей шине,которая размещена на общей подложкес контролируемыми интегральными магнитными головками, параллельно первойтокопроводящей шине, над или под ней.Изобретение относится к областиприборостроения, в частности к устройствам для контроля качества интег-ральных магнитных головок (ИМГ), иможет быть использовано на разныхстадиях изготовления ИМГ.Известно и широко распространеноустройство контроля ИМГ, содержащееконтрольный магнитный диск, трактызаписи и воспроизведения, тест сигна Ола, элементы позиционирования ИМГи механизм вращения диска 1 11,Недостатки устройства - большиеаппаратурные затраты и невозможностьконтроля качества ИМГ на ранних стаднях изготовления (до резки подложкина элементы и установки их в держатель) .Известно также устройство контроля магнитных головок (МГ), содержащее 2 Оне менее двух обмоток в процессе изготовления, состоящее из генератораиспытательного гармонического сигнала, подключенного к одной обмоткеМГ, и измерителя нелинейных искажений, подключенного к другой обмотке МГ 2 3.Недостатками данного устройстваявляются, во-первых, невозможностьконтроля МГ, содержащих только одну ЗОобмотку. и, во-вторых, недостаточная чувствительность к дефектам вобласти зазора МГ,Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности являетсяустройство для контроля качестваинтегральных магнитных головок, со- .держащее анализатор сигнала, подключенный к выводам интегральных магнитных головок, генератор испытательно Ого сигнала, подключенный к токопроводящей шине, размещенной на общейподложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, и блокуправления, выход которого подключен 45к входу генератора. Известное устройство работает следующим образом,Ток, создаваемый генератором испытательного сигнала: Ю. токопроводящейшине, индуцйрут эаектродвижущую силу в обмотке контролируемой МГ, воздействующую на анализатор сигнала.Анализатор сигнала преобразует инфор.мацию о качестве ИМГ, ймеющуюся вовходном сигнале, в удобную для опера"тора форму 3 1. Недостатком известного устройстваявляется низкая достоверность контроля.Цель изобретения - повышение достоверности контроля качества ИМГ.Указанная цель достигается тем,что в устройство для контроля качества интегральных магнитных головок,содержащее анализатор сигнала, подключенный к выводам интегральной магнитной головки, генератор испытательногосигнала, подключенный к токопроводящейшине, размещенной на общей подложкес контролируемыми интегральными магнитными головками, и блок управления,выход которого подключен к входу генератора, дополнительно введены второй генератор испытательного сигналаи вторая токопроводящая шина, причемвход второго генератора испытательного сигнала подключен к выходу устройства управления, а выход - к второйтокопроводящей шине, которая разме-.щена на общей подложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, параллельно первой токопроводящей шине, над или под ней,Введение второго генератора ивторой токопроводящей шины позволяетсоздать в области зазора ИМГ вращающееся (перемещающееся) магнитноеполе, интерференционный ноль (минимум) которого совершает возвратнопоступательные движения в плоскостиполюсных наконечников поперек зазора ИМГ,Повышение достоверности контроляпо сравнению с известным устройствомдостигается за счет того, что пространственно-временная структура поля,создаваемого предлагаемым устройством, подобна структуре поля, воздействующего на зазор МГ п 1 и считыванииинформации, записанной на магнитныйдиск, а проверка по рабочему сигналувсегда является предпочтительной, вчастности, для контроля эффективнойширины рабочего зазора МГ. Уровеньвыходного сигнала контролируемой ИМГопределяется соотношением токов генератора и., эффективной шириной рабочего зазора.Повьппение достоверности контроляпо сравнению с устройством 2 1 достигается за счет повышения чувствительности к параметрам зазора, магнитноесопротивление которого сравнительноневелико и слабо влияет на измеряемыйуровень коэффициента нелинейных искажений устройства 2даже при наличиикороткого замыкания зазора,На фиг. 1 приведена функциональнаясхема устройства; на фиг. 2 - конструкция ИМГ с расположенными на нейтокопроводящими,шинами; на фиг. 3 -временные диаграммы напряженности магнитных полей.Функциональная схема устройства 1 О(фиг, 1) содержит устройство 1 управления, подключенное к входу первогогенератора 2 испытательного сигнала,к выходу которого подключена токопроводящая шина 3, Устройство управления подключено также к входу второгогенератора 4 испытательного сигнала,к выходу которого подключена токопроводящая шина 5. К выходу ИМГ 6 подключена схема 7 анализа наведенного в 20ИМГ сигнала.ИМГ (фиг, 2) включает подложку 1,проводник 2 и подковообразный ферроматериал 3, который образует передний4 и задний 5 зазоры. Параллельно плос кости полюсных наконечников размещенатокопроводящая шина 6, а с обратнойстороны (параллельной) - токопроводящая шина 7.Устройство работает следующим об- З 0разом,Управляемые устройством 1 управления и генераторы 2 и 4 испытательного сигнала создают в токопроводящих шинах 3 и 5 противоположно направленные импульсы тока трапецеидальной фор" мы, сдвинутые друг относительно друга во времени таким образом, чтобы создаваемые им напряженности магнитного поля (фиг. 3 д, 6 ) создавали суммарную напряженность магнитного поля в области зазора ИМГ 6, изменяющуюся по пилообразному закону (фиг, 3 в ). Схема 7 анализа, в простейшем случае осциллограф, показывает сигнал, наводимый в ИМГ, по кОторо му, например, методом сравнения с эталоном можно судить о качестве контролируемой ИМГ.Техническая эффективность изобретения по сравнению с известным устройством заключается в повышении достоверности контроля параметров зазора ИМГ, что объясняется большей чувствительностью предлагаемого устройства к параметрам зазора за счет сканирования поля в плоскости зазора. Зкономическая эффективность от повышения достоверности контроля ИМГ заключается в уменьшении потерь от своевременно выявленного брака.орректор И ка дак Подписно Заказ 726 5 л ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектна/36 Тираж ВНИИПИ Государ по делам изо 13035, Москва, 574венного комитета СССРетений и открытий 35, Раушская наб., д.

Смотреть

Заявка

3648912, 03.10.1983

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2867

ЗАЙЦЕВ ВЯЧЕСЛАВ АЛЕКСАНДРОВИЧ, БЕЛОУС ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ, ВУЛЛО ЛЕОНИД ИОСИФОВИЧ, СИНЬКОВСКИЙ АЛЕКСАНДР АНАТОЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G11B 5/46

Метки: головок, интегральных, качества, магнитных

Опубликовано: 07.10.1984

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1117691-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-kachestva-integralnykh-magnitnykh-golovok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля качества интегральных магнитных головок</a>

Похожие патенты