Способ определения теплофизических свойств материалов

Номер патента: 1100549

Авторы: Березин, Коростелев, Попов, Семенов, Скорняков

ZIP архив

Текст

СООЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИК 09) 01) А С 01 И 25 ОПИ НИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССС ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Московский ордена ТрудовогоКрасного Знамени геологоразведочныйинститут им. Серго Орджоникидзе(прототип),(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ поавт,св. Р 1032382, о т л и ч а ю -щ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностейосуществляют нагрев образцов линейным источником энергии, расположенным перпендикулярно к направлениюдвижения. образца, после чего посоответствующим формулам рассчитывают искомые величины,492 1 11005Изобретение относится к технической физике и может быть использовано при определении теплофизических свойств материалов.По основному авт.св. 9.1032382 известен способ определения тепло- физических свойств материалов, включающий нагрев поверхностей последовательно расположенных эталонного и исследуемых образцов подвижным 10 точечным источником энергии и измерение предельной избыточной температуры.поверхнрсти образца по линии перемещения источника энергии. датчиком температуры, двигающимся с фиксированным отставанием от источника энергии И.Недостатком известного способа является невозможность определения всего комплекса теплофизических свойств материала.Цель изобретения - расширение функциональных возможностей способа,Цель достигается тем, что согласно способу определения теплофизических свойств материалов осуществляют нагрев образцов линейным источником энергии, расположенным ерпендику. - лярно к направлению движения, по:сле чего по соответствующим формулам рассчитывают искомые величины.На фиг. 1 приведена схема расположения сосредоточенного источника энергии и датчика температуры относительно эталона с известными коэффициентом теплопроводности и объемной З 5 теплеемкостью исследуемых образцов, на фиг. 2 - схема расположения линейного источника энергии температуры относительно эталона с извест 40 ным коэффициентом теплопроводности и объемной теплоемкостью, и исследуемых образцов.Сосредоточенный источник 1 энергии и датчик 2 температуры помеще 45ны над эталоном 3 и исследуемымиобразцами 4, Буквой Н обозначенонаправление перемещения сосредоточенного источника 1 энергии и датчика 2 температуры относительно эта О . лона 3 и исследуемых образцов 4, Х-расстояние отставания области измере"ния температуры датчиком температурыот пятна нагрева поверхности твердыхтел сосредоточенным источником энергии, Х - расстояние отставания области измерения температуры датчикомтемпературы от линии нагрева поверхности твердых тел линейным источником энергии.Сущность предлагаемого способа заключается в следующем.Измеряют начальные температурыповерхности эталона с известнымикоэффициентом теплопроводности иобъемной теплоемкостью и поверхностейисследуемых образцов. Начальные температуры можно определить, перемещаядатчик температуры вдоль поверхностейэталона и исследуемых образцов илиизмеряя температуры эталона и исследуемых образцов в любой точкеих поверхностей, поскольку в пределах эталона и каждого из исследуемыхобразцов температура перед началомизмерений должна быть одинакова,Затем сосредоточенный источник 1тепловой энергии постоянной мощности(фиг, 1), например электрическую лампу типа КЗ-50 с малопротяженнойнитью накала с встроенным сферическим зеркальным отражателем н малымпятном нагрева, сфокусированным наповерхности нагреваемых твердых тел идатчик температуры 2 (например, бесконтактный датчик, регистрирующийтемпературу нагреваемой поверхностипо ее электромагнитному излучениюоптическим способом), жестко связанный с сосредоточенным источником 1,начинают перемещаться с одинаковойи постоянной скоростью вдоль поверхности эталона 3 с известными коэффициентом теплопроводности и объемнойтеплоемкостью поверхностей исследуемых образцов 4 в направлении Н, приэтом датчик 2 температуры располагается так, чтобы он измерял температуру нагреваемых поверхностей полинии перемещения пятна нагрева сосредоточенного источника 1.Расстояние отставания Х областиизмерения температуры датчиком 2 тем"пературы от пятна нагрева сосредоточенного истдчника 1 устанавливаюттаким, чтобы выполнялось соотношениегде К .- коэффициент сосредоточенности источника 1 энергии, который позволяет рассматриватьисточник как точечный.Толщины эталона 3 и исследуемыхобразцов 4 должны быть не меньшерасстояния отставания Х, чтобы можнобыло рассматривать процесс их нагрева как нагрев точечным источникомполубесконечного тела,10 дх 3 1100549 4После окончания периода теплона- Линейный источник 1 энергии и датсыщения датчик 2 температуры реги- , чик 2 температуры, жестко связанныйстрирует предельную температуру на- с линейным источником 1 энергии, перегреваемой поверхности эталона 3, со- мешают вдоль поверхности эталона 3 иответствующую установившемуся квази исследуемых образцов 4 с одинаковойстационарному режиму нагрева. Ана- и постоянной скоростью.логично датчик 2 температуры реги- Расстояние отставания Х областистрирует предельные температуры по-измерения температУры датчиком 2верхностей, нагреваемых сосредото- температуры от линии нагрева поверхноченным источником 1, для каждого изсти эталона 3 и исследуемых образцовисследуемых образцов 4. 4 линейным источникомУстанавливаПо разности предельной температу- ют таким, чтобы выполнялось соотноры нагрева эталона 3 и измеренной шениеранее начальной температуры этого 1, Т 5 аэталона 3 определяют избыточную предельную температуру нагрева его по;де С 1 - верхняя граница диапазонаверхности. Затем по разности превозможного изменения коэфдельной температуры нагрева и измефициента температуропроводренной ранее начальной температурыности для исследуемьм тверкаждого из исследуемых образцов 4 20дых тел,определяют избыточную предельную ч - скорость перемещения.температуру нагрева поверхности дляПосле окончания периода теплонасыкаждого из исследуемых образцов 4..цщения датчик 2 температуры регистриру"Для каждого исследуемого образцает предельную температуру нагреваемойкоэффициент теплопроводности опре- .25поверхности эталона 3, соответствуюделяют по формулещую установившемуся квазистационарному режиму нагрева, Аналогично дат 1ОВО эт -Обй чик 2 температуры регистрирует прегдеЗоб,Я- коэффициенты теплопро-. дельные температуры поверхностей,водности образца и зта- З 0 нагреваемых линейным источником 1лона соответственно, энергии, для каждого из исследуемыхТобтзт- избыточные предельные. образцов 4.температуры образца и ГГО разности предельной темпераэталона соответственно. туры нагрева эталона 3 линейнымПосле выравнивания температур по ,35 источникОм 1 и измеренной ранее уста-.объему эталона и исследуемых образцов, новившейся температуры эталона 3 Опреих измеряют. деляют избыточную предельную темПосле этого начинают перемещать пературу нагРева его поверхности ..линейный источник 1 тепловой энер линейным источником 1Затем по разгии постоянной мощности и датчик 40 ности предельной температуры нагрева2 температуры в направлении Н вдоль полинейным источником 1 и измереннойверхностей эталона 3 и исследуемыхранее установившейся температуры9образцов 4,при этом располагают линей- каждого из исследуемых образцов 4ный источник энергии 1 вдоль поверх-. ; определяют избыточную предельнуюФности 3 и исследуемых .образцов 4 пер.45 температуру нагрева поверхности линейпендикулярно к направлению перемеще- ным источником 1 для каждого из исния Н. В качестве. линейного источни- следуемых обРазцов 4ка 1 энергии можно использовать, на- При нагреве поверхности полубепример, электрическую лампу типа . конечного тела линейным подвижным исКГ 220-1000 с протяженной прямой 50 точником энергии избыточная предельнитью, длина которой составляет 15 см, :ная температура нагреваемой поверхи с цилиндрическим отражатеЛем, фоку- ности этого тела в точке, перемещасирующим излучение лампы на поверх- ющейся вслед за источником с такойность эталона и исследуемых образцов .же скоростью, что и источник, опредев виде прямой линии, Линейный источ-. 55 ляется формулойник 1 энергии можно также получитьпутем развертки вдоль прямой линиимуча лазера непрерывного действия.

Смотреть

Заявка

3416060, 31.03.1982

МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГЕОЛОГОРАЗВЕДОЧНЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. СЕРГО ОРДЖОНИКИДЗЕ

БЕРЕЗИН ВИКТОР ВЕНИАМИНОВИЧ, КОРОСТЕЛЕВ ВЛАДИМИР МИХАЙЛОВИЧ, ПОПОВ ЮРИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, СЕМЕНОВ ВИКТОР ГАВРИЛОВИЧ, СКОРНЯКОВ СЕРГЕЙ МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 25/18

Метки: свойств, теплофизических

Опубликовано: 30.06.1984

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1100549-sposob-opredeleniya-teplofizicheskikh-svojjstv-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения теплофизических свойств материалов</a>

Похожие патенты