Устройство для измерения емкости мдп-структур
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 995028
Авторы: Благодаров, Бородзюля
Текст
ЬП ИГРАНИ ЕИЗЬВРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ и)995028 Союз Советск ихСоциалистическикДата опубликования описания 08.02.83(72) Авторы изобретения А. Н. Благодаров и В. ф, Бородзюля Ленинградский ордена Ленина политехничим, М. И. Калинина(54). УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЕМКОСТИМДП-СТРУКТУР Изобретение относится к измерению и контролю электрофизичеоких параметров полупроводников и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем на основе МДП-структур. По основному авт. св У 63441 известно устройство для измерения емкости МДП-структур, содержащее источник напряжения смещения и .дифференциальный усилитель, соединенныес компаратором, причем источник напряжения смещения, схема формированиявыходного сигнала и устройство инди-кации соединены параллельно, выходдифференциального усилителя соединенс управляющим, а выход генератора импульсов - .с аналоговым входами схемы 2 оформирования выходного. сигнала.Образец испытуемой МДП-структурывключен в плечо емкостного моста,образующего компаратор 1 1,2Недостатком устройства являетстт необходимость фиксирования состояния МДП-структуры по ее высокочастотной емкости, а так как емкость измеряется на больших тестовых сигналах, то ее значение нельзя применять в общеизвестных моделях для генерационно-рекомбинационных процессов в обедненном слое полупроводника для определения времени жизни носителей заряда. Целью. изобретения является расши" рение функциональных возможностей.Поставленная цель достигается тем, что в устройство для измерения емкости МДП"структур введены регулируемый источник постоянного эталонно" го напряжения и дифференцирующий вольтметр, причем регулируемый источник постоянного эталонного напряжения включен между выходом компаратора и одним из входов дифференциального усилителя, а дифференцирующий995028 оставитель Н, Чистяковаехред А. Бабинец Корректор В Гу Бутягвйекль а Ъ а Реда дписно каз 634/31 ВНИИПИ Госуд по делам 113035, МоскТираж 708 ственного коми зобретений и оЖ, Раушск та СССРрытийнаб., д филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул. Проектная,5мя поддержания структуры в этом неравновесном состоянии всегда может быть сделано на порядок величины меньше временй свободной релаксации МДП"структуры к своему .установившемуся неравновесному состоянию.1Таким образом, предлагаемое устройство значительно увеличивает частотный диапазон измерений (на 2-3 по в рядка) и повышает точность измерений ( 10), так как в нем не используется малосигнальный высокочастотный тестовый сигнал для регистрации состояния МДП-структуры.15 Предлагаемое устройство позволитповысить точность и экспрессностьконтроля качества изготовления МДПструктур. 26 вформула изобретенияУстройство для измерения емкостиМДП-структур по авт, св. У 635441,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, сцелью расширения функциональных возможностей, в него введены регулируемый источник постоянного эталонногонапряжения и дифференцирующий вольт",метр, причем регулируемый источникпостоянного эталонного напряжениявключен между выходом компаратораи одним .из входов дифференциальногоусилителя, а дифференцирующий вольт"метр подключен параллельно источникунапряжения смещения.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРИ 635441, кл. О 01 К 31 Л 6; 1977
СмотретьЗаявка
3235134, 12.01.1981
ЛЕНИНГРАДСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. М. И. КАЛИНИНА
БЛАГОДАРОВ АЛЕКСЕЙ НИКОЛАЕВИЧ, БОРОДЗЮЛЯ ВАЛЕРИЙ ФЛОРИАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01L 21/66
Метки: емкости, мдп-структур
Опубликовано: 07.02.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-995028-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-emkosti-mdp-struktur.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения емкости мдп-структур</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля проводимости изоляции трехфазных электрических сетей
Следующий патент: Устройство для бесконтактного измерения параметров полупроводников
Случайный патент: Устройство для умножения чисел по модулю