Устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов

Союз СоветснииСониапнстнчеснниРеспублик ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВЮРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 11902109(51)М. Кл. Н 01 Ь 21/66 РвудервтещвЖ квюитвт ВВВР ав дав изевретвиий н втирыей(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВИзобретение относится к электронной технике и может быть использовано на операциях контроля параметров при кли матических испытаниях в производстве полупроводниковых приборов, имеющих один резьбовой выход н фланец.Известна конструкция панели для группового контроля параметров полупроводниковых приборов при климатических ис пытаннях, где приборы вставлены в оч1 Ю верстия панели и прикреплены к ней гайками (каждый полупроводниковый прибор в отдельности). Полупроводниковые приборы, укрепленные на панели, вторыми электродами вставлены в ножевые кон 15 такты изоляционной платы. В совокупность панель и контактная плата представляет собой устройство обеспечивающее электрические и тепловые режимы контролируемых полупроводниковых приборов1 )Устройство требует больших затрат ручного труда для ориентации и крепленю полупроводниковых приборов к панели. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов, например стабнлитро нов, содержащее основайие, на котором установлены контакт-радиатор с отверстиями для размещения полупроводниковых приборов, направляющие и торцовые подпружиненные контакты 2.Недостаток известного устройства - низкая производительность контроля. Кроме того, оно характеризуется недостаточной надежностью контактирования полупроводникового прибора с контактом-" радиатором.Цель изобретения - повышение производительности контроля и надежности теплового и электрического контактирования. Цель достигается тем, что устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов, содержащее основание, на котором установлены контакт-радиатор, с отверстиями для размещения полупроводниковьи приборов, направляющие и3 902 10 торцовые подпружиненные контакты, снабжено прижимной платой с отверстиями, соосными отверстиям контакта-радиатора, при этом прижимная плата установлена на направляющих и в ее отверстиях закреплены компенсационные втулки, а подпружиненные торцовые контакты,установлены в плате, жестко связанной с прижимной платой, и соосны отверстиям контакта-радиатора и прижимной платы. 10На.фиг. 1 изображено устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов, исходное положение; на фиг. 2- то же, рабочее положение.Устройство цля контроля параметров 1 полупроводниковых приборов содержит основание 1 с запрессованными в него направляющими 2, проходящими через прижим 3, с нижней металлической прижимной платой 4 и жестко связанной с щ ней верхней изоляционной платой 5. В отверстиях прижимной платы установлены компенсационные втулки 6, а в отверстиях верхней - торцовые подпружиненные контакты 7, опирающиеся своими головками на пружины 8. Платы 4 и 5 жестко соединены при помощи винтов 9. Прижим 3 лежит на пружинах 10, надетых на направляющие 2. Контакт-радиатор 11 с испытуемыми стабилитронами 12 встав- зо лен в паз основания 1. Соосность испытуемых стабилитронов 12 с отверстиямиприжима 3 в рабочем положении контакта- радиатора 11 обеспечивается упорной плоскостью 13.3Предлагаемое устройство работает следующим образом.От приложенноГо вертикального усилия прижим 3 перемещается вниз по направ ляющим 2, сжимая пружины 10, При этомприжимная плата 4 через компенсационные втулки 6 передает усилие на фланцы стабилитронов 12, прижимая их к контакту-радиатору 11, который, в свою очередь, прижимается к пазам основания 1. Одновременно через подпружиненные контакты 7 осуществляется электрическое соединение вторых электродов ста 9 4билитронов 12 с испытательной установкой.Выполнение прижима в виде двух взаимосвязанных плат позволило осуществить соединение фланцев полупроводнико вых приборов с контактом-радиатором и соединение второго электрода с установкой с разными прижимными усилиями, отличающимися по величине в несколькоразеПрименение компенсационных втулок обеспечивает равные прижимные усилия на фланец каждого из испытуемых полупроводниковых приборов, отличающихся высотой в пределах допуска.Все это позволяет повысить производительность контроля и надежность контактирования.формула изобретенияУстройство для контроля параметровполупроводниковых приборов, напримерстабилитронов, содержащее основание,на котором установлены контакт-радиатор, с отверстиями для размещения полупроводниковых приборов, направляющие иторцовые подпружиненные контакты, о т -л и ч а ю щ е е с я тем, что, с цельюповышения производительности контроляи надежности теплового и электрическогоьконтактирований, оно снабжено прижимнойплатой с отверстиями, соосными отверстиям контакта-радиатора, при этом прижимная плата установлена на направляющих и в ее отверстиях закреплены компенсационные втулки, а подпружиненныеторцовые контакты установлены в плате,жестко связанной с прижимной платой,и соосны отверстиям .контакт-радиатораи прижимной платы.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Установка изотермическаяУТ. 140. 000. 000. ТО. 1962.2. Авторское свидетельство СССР