Устройство для измерения динамических параметров микросхем

Союз СоевтсникСоциалистическихРеспублик ОЛ ИСАНИЕИЗЬВРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ и 894619(61) Дополнительное к авт. саид-ву Р 432431 (22)Заявлено 05.01 79 (2) 2709435/18-2 6 01 В 31/2 иием заявк спи 9 ерараиее 4 кантат АЗССР ав юви азе 41 етеа 11 и втауыай .(72) Авторы изобрете В.И.Глебова, Г.И,Лобанов н О.Ф.Па 133:ссудедьскоге Пензенский филиал Всесоюзного на технологического института прибоРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХРОСХЕМ- расширениеожностей.ь достигаетсяво, содержащее т Изобретение относитсяк электрУ измерительной технике и может быть использовано для измерения динамичес" ких параметров микросхем, логических элементов полупроводниковых эле"5 ментов и т.п.По основному авт. св. В 432431 известно .устройство для измерения динамических параметров микросхем, содержащее цепь последовательно10 соединенных микросхем, переключатели, дискриминатор напряжения, регулируемый источник опорного напряжения и элемент совпадения Недостаток известного устройства заключается в его ограниченных функ" циональных возможностях, так как оно( не позволяет измерять выходное сопротивление контролируемой микросхемые20Цель изобретенияфункциональных ВозмПоставленная целем, что в устройст элемент совпадения, к выходу которого подключена цепь последовательносоединенных микросхем, выход которойсоединен с контролируемой микросхемой и через первый переключатель - .с одним из входов элемента совпадения, другой вход которого соединенс выходом второго переключателя,вход которого соединен с выходомдискриминатора, один вход которо-,го соединен с выходом контролируемоймикросхемы, а другой вход - свыходом регулируемого источника опорного напряжения, введены последовательно соединенные эталонный конденсатор и ключ, вход которого соединен с выходом контролируемой микросхемы, первая обкладка эталонногоконденсатора соединена с общей шиной, а вторая его обкладка соединенас вщсодом ключа,На чертеже приведена структурнаяхема предлагаемого устройства.Устройство содержит цепь 1 последовательно соединенных микросхем,переключатели 2 и 3, ключ 4, дискриминатор 5 напряжения, регулируемыйисточник 6 опорного напряжения, эта" 5лонный конденсатор 7 и элемент 8 совпадения.Устройство работает следующим образом,На вход контролируемой микросхе Омы 9 поступает импульс напряжения свыхода цепи 1 последовательно соединенных микросхем. С выхода контропируемой микросхемы 9 сигнал поступа"ет на один нз входов дискриминатора 155 напряжения, на другой вход которого поступает опорное напряжение с выхода регулируемого источника 6 опорного напряжения. 11 ри достижении уровня выходного сигнала контролируемоймикросхемы 9 уровня заданного опорного напряжения дискриминатор 5 напряжения переключается, Таким образом,дискриминатор 5 напряжения с регулируемым источником 6 опорного напряжения предназначен для измерения времени задержки контролируемой микросхеьщ 9.При подаче на вход дискриминатора5 напряжения опорного напряженияО 1 получают значения " О и й 04,а при подаче опорного напряжения О 4.значения 1 О и й Цр, гдеи йвремя задержки контролируемой микросхем 9 при переключении из состояния"О" в состояние "1" и из "1" в "0"35соответственно, Разность этих времендает время переключения контролируемой микросхемы 9 С и ф из состояния "О" в состояние "1" и из "1" в40" О 2 - СОЮ дц,ЛОпричем й и Сф определяется из соот 45ношений1;" = Т 002 - ТО 4120 ь 01 7 О 7 0где Т О и Т О 2 - периоды повторения50импульсов, вырабатываемых устройством при подаче на вход дискриминатора 5 напряжения опорного напряжения О и О соответственно, причем Тз соответствует замыканию переключателей 2 и 3, Тз - замыканию переключателя 3.Цикл измерения выходного сопротивления контролируемой микросхемы 9 состоит из двух тактов, В первом такте производится измерение времени задержки контролируемой микросхемы 9, а втбром такте к выходу контролируемой микросхемы 9 с помощью ключа 4 подключается эталонный конденсатор 7 н далее вновь производится измерение времени задержки испытуемой микросхемы 9.По результатам измерения времени задержки контролируемой микросхемы 9 в первом (йс) и вторым (с ) так 3 тах осуществляется вычисление нели- чины выходного сопротивления контролируемой микросхемы 9 как функции 7 (с"с,) где Се - емкость эталонного конденсатора 7 С - паразитная емкость, подключаемая к. выходу кон-. тролируемой микросхемы 9 в первом такте.Использование предлагаемого уст" ройства позволяет получить более полную информацию о динамических параметрах контролируемой микросхемы.Формула изобретенияУстройство для измерения динамических параметров микросхем по авт. св. В 432431, отличающееся тем, что, с цепью расширения функциональных возможностей, в него введены последовательно соединенные эталонный конденсатор и ключ, вход которого соединен с ныходом контролируемой микросхемы, первая обкладка эталонного конденсатора соединена с общей шиной, а вторая его обкладка соединена с выходом ключа.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР М 432431, кл. 6 01 й 31/28, 1972.894619 Составитель С. Бычковор И.Михеева Техред И.ТеперКорректор И.Коста Зак Филиал П 101 "Патент", г. ужгород, ул. Проектная 1482 74 Тираж 735 ВНИКНИ Государственного коми по делам изобретений и отк 113035, Иосква, Ж, Раушск